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화합물 반도체 소자 제조용 에피택셜 기판 및 화합물 반도체 소 자의 완충층 형성방법

  • 기술번호 : KST2015075802
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 소자에 관한 것으로, 특히, 화합물 반도체 소자 제조용 에피택셜 기판 및 화합물 반도체 소자의 완충층 형성방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 화합물 반도체 소자 제조용 에피택셜 기판은, 에피택시 방법에 의해 제조되며, 기판, 완충층 및 채널층을 포함하는, 화합물 반도체 소자 제조용 에피택셜 기판에 있어서, 상기한 완충층은, 도핑하지 않은 인듐 알루미늄 갈륨 비소의 4원소 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따른 화합물 반도체 완충층 형성 방법은, 화합물 반도체 소자 제조시 에피택시 방법에 의해, 채널층과 기판 사이에 완충층을 형성하는 방법에 있어서, 상기한 기판 상에, 도핑하지 않은 인듐 알루미늄 갈륨 비소의 4원소 화합물로 이루어진 완충층을 500~1,500Å의 두께로 형성하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에서와 같이, 화합물 반도체 소자제조시 4원소 화합물로 완충층을 형성하거나, 4원소 화합물의 조성비를 선형적으로 변화시켜 완충층을 형성하게 되면, 이동도를 대폭적으로 향상시킬 수 있어, 화합물 반도체 소자의 고속 특성과 저잡음 특성을 향상시킬 수 있다.
Int. CL H01L 21/20 (2006.01)
CPC H01L 21/02463(2013.01)
출원번호/일자 1019960055692 (1996.11.20)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-1998-0037010 (1998.08.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1996.11.20)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이재진 대한민국 대전광역시 유성구
2 이해권 대한민국 대전광역시 유성구
3 편광의 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
3 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1996.11.20 수리 (Accepted) 1-1-1996-0188561-95
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1996.11.20 수리 (Accepted) 1-1-1996-0188562-30
3 출원심사청구서
Request for Examination
1996.11.20 수리 (Accepted) 1-1-1996-0188563-86
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.03.14 수리 (Accepted) 1-1-1996-0188564-21
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.26 수리 (Accepted) 1-1-1996-0188565-77
6 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1999.03.11 수리 (Accepted) 1-1-1999-5108152-13
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1999.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0206034-18
8 거절사정서
Decision to Refuse a Patent
1999.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0326150-98
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

에피택시 방법에 의해 제조되며, 기판, 완충층 및 채널층을 포함하는, 화합물 반도체 소자 제조용 에피택설 기판에 있어서,

상기한 완충층은, 도핑하지 않은 인듐 알루미늄 갈륨 비소의 4원소 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는, 화합물 반도체 소자 제조용 에피택셜 기판

2 2

제1항에 있어서,

상기한 완충층을 이루는 4원소 화합물의 구성원소 중 갈륨과 알루미늄의 원소 조성비는 갈륨에 대해서는 0~47%, 알루미늄에 대해서는 0~48%의 조성범위를 지니도록 형성된 것을 특징으로 하는, 화합물 반도체 소자 제조용 에피택셜 기판

3 3

제1항에 있어서,

상기한 완충층을 성장 방향에 대하여 채널층을 이루는 화합물에 격장상수를 일치시키기 위하여, 상기한 완충층을 이루는 4원소 화합물의 구성원소 중 갈륨과 알루미늄의 원소 조성비를, 갈륨에 대해서는 0%에서 47%로 증가시키고, 알루미늄은 반대로 48%에서 0%로 선형적으로 감소시키거나, 또는, 그와 반대로 선형적으로 변화시켜 형성한 것을 특징으로 하는, 화합물 반도체 소자 제조용 에피택셜 기판

4 4

화합물 반도체 소자 제조시 에피택시 방법에 의해, 채널층과 기판 사이에 완충층을 형성하는 방법에 있어서;

상기한 기판 상에, 도핑하지 않은 인듐 알루미늄 갈륨 비소의 4원소 화합물로 이루어진 완충층을 500~1,500Å의 두께로 형성하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는, 화합물 반도체 소자의 완충층 형성방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.