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파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템 및 방법

  • 기술번호 : KST2015080689
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 파장 가변 레이저 다이오드의 파장과 광신호 채널을 일치시키기 위한 측정 시간을 감소시킬 수 있는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템 및 이를 이용한 측정방법을 개시한다. 개시된 본 발명에 따른 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템은, 파장 가변 레이저 다이오드에 전류를 공급하는 전류 공급부와, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광 출력을 측정하는 제 1 광출력 측정기 및 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광 출력 중 아이티유 그리드(ITU-GRID)에서 제공되는 광신호 채널과 오차 범위내에서 일치하는 광 출력만을 필터링하여 측정하는 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기를 포함한다. 또한, 상기 제 1 광출력 측정기에서 측정된 광 출력과 상기 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기에서 측정된 광 출력을 비교하여 상기 전류 공급부의 전류 공급량을 제어하는 제어부를 포함한다.파장 가변 레이저 다이오드, 에탈론
Int. CL H01S 3/10 (2006.01)
CPC H01S 3/0675(2013.01) H01S 3/0675(2013.01) H01S 3/0675(2013.01) H01S 3/0675(2013.01)
출원번호/일자 1020050042422 (2005.05.20)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0701121-0000 (2007.03.22)
공개번호/일자 10-2006-0064466 (2006.06.13) 문서열기
공고번호/일자 (20070328) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020040102953   |   2004.12.08
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.05.20)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 고현성 대한민국 대전 서구
2 오수환 대한민국 대전 유성구
3 박상기 대한민국 대전 서구
4 이철욱 대한민국 대전광역시 유성구
5 박문호 대한민국 대전 유성구
6 김기수 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)
2 이해영 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2005.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2005-0265069-07
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2006.08.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2006.09.14 수리 (Accepted) 9-1-2006-0060222-88
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2006.09.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0544529-01
5 의견서
Written Opinion		 2006.11.17 수리 (Accepted) 1-1-2006-0842728-45
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2006.11.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0842729-91
7 등록결정서
Decision to grant		 2007.02.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0100610-45
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
파장 가변 레이저 다이오드에 전류를 공급하는 전류 공급부;상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력을 측정하는 제 1 광출력 측정기;상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 중 아이티유 그리드(ITU-GRID)에서 제공되는 광신호 채널과 오차 범위내에서 일치하는 광출력만을 필터링하여 측정하는 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기; 및상기 제 1 광출력 측정기에서 측정된 광출력과 상기 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기에서 측정된 광출력을 비교하여 상기 전류 공급부의 전류 공급량을 제어하는 제어부를 포함하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템
2 2
제 1 항에 있어서, 전류량에 따라 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 변화 데이터들을 갖는 저장부를 더 포함하고, 상기 제어부는 상기 제 1 광출력 측정기에서 측정된 광출력과 상기 제 2 광출력 측정기에서 측정된 광출력이 일치되지 않을 때 상기 저장부의 데이터를 의거하여 상기 전류 공급부에 제어신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 파장 가변 레이저 다이오드와, 상기 제 1 및 제 2 광출력 측정기 사이에 광출력을 배분하는 광 커플러가 더 설치되는 것을 특징으로 하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 출력 파장을 측정하는 파장 측정기를 더 포함하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 에탈론은 그 투과율이 최대가 되는 광 주파수가 아이티유 그리드로 정의된 광 신호 채널과 오차 범위내에서 일치하고 그 주파수 간격이 광신호 채널간의 간격과 일치하는 것을 특징으로 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템
6 6
파장 가변 레이저 다이오드에 전류를 제공하는 단계;상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 및 아이티유 그리드(ITU-GRID)에서 제공하는 광신호 채널을 측정하는 단계;상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력이 상기 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널 출력과 오차 범위내에서 일치하는 가를 비교하는 단계; 및상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력이 상기 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널 출력과 오차 범위내에서 일치하면, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력의 파장을 측정하고, 그렇지 않으면, 내장되어 있는 전류 데이터를 이용하여 파장 가변 레이저 다이오드에 입력되는 전류값을 조절하는 단계를 포함하며,상기 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널은 에탈론을 구비한 광출력 측정기로부터 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력을 측정하여 얻어지는 것을 특징으로 하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정방법
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패밀리정보가 없습니다
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