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스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기

  • 기술번호 : KST2015082791
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기에 관한 것으로, 스위칭 바이어스 기술을 전압 제어 발진기에 적용함으로써, 바이어스 회로의 플리커 노이즈를 줄여 위상 잡음 특성을 향상시키면서도 전체 칩 면적을 감소시켜 집적화를 도모할 수 있으며, 또한, 바이어스 회로에 인가되는 공통모드 전압을 발진 파형에 네거티브 피드백시켜 외부조건의 변화에 대하여 발진 파형의 크기를 안정화시킬 수 있는 것을 특징으로 한다.VCO, 스위칭 바이어스(Switching bias), 크기 제어(Amplitude control)
Int. CL H03B 5/12 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070042003 (2007.04.30)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0835979-0000 (2008.06.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080609) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.04.30)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 민병훈 대한민국 전북 군산시
2 김영호 대한민국 대전 서구
3 최병건 대한민국 대구 동구
4 현석봉 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2007-0325138-14
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.01.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.02.13 수리 (Accepted) 9-1-2008-0006280-39
4 등록결정서
Decision to grant
2008.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0293030-89
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
입력전압에 따라 공진 주파수를 발진시키는 LC 공진 회로;상기 발진된 공진 주파수를 증폭하는 제 1, 2 트랜지스터로 이루어진 손실 보상 회로;상기 제 1, 2 트랜지스터에 바이어스 전류를 제공하기 위한 제 3, 4 트랜지스터로 이루어진 바이어스 회로; 및상기 LC 공진 회로의 발진 파형에서 피크값을 검출하여 상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터에 인가하는 제 5, 6 트랜지스터와 제 3, 4 커패시터로 이루어진 피크 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
2 2
입력전압에 따라 공진 주파수를 발진시키는 LC 공진 회로;상기 발진된 공진 주파수를 증폭하는 제 1, 2 트랜지스터로 이루어진 손실 보상 회로;상기 제 1, 2 트랜지스터에 바이어스 전류를 제공하기 위한 제 3, 4 트랜지스터로 이루어진 바이어스 회로; 및상기 LC 공진 회로의 발진 파형에 따라 상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터를 온-오프시키는 스위칭 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
3 3
입력전압에 따라 공진 주파수를 발진시키는 LC 공진 회로;상기 발진된 공진 주파수를 증폭하는 제 1, 2 트랜지스터로 이루어진 손실 보상 회로;상기 제 1, 2 트랜지스터에 바이어스 전류를 제공하기 위한 제 3, 4 트랜지스터로 이루어진 바이어스 회로;상기 LC 공진 회로의 발진 파형에서 피크값을 검출하여 상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터에 인가하는 제 5, 6 트랜지스터와 제 3, 4 커패시터로 이루어진 피크 검출기; 및상기 LC 공진 회로의 발진 파형에 따라 상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터를 온-오프시키는 스위칭 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
4 4
제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 손실 보상 회로의 제 1, 2 트랜지스터는,상기 LC 공진 회로의 일단 및 타단에 연결된 제 1 노드 및 제 2 노드와 상기 제 1, 2 트랜지스터의 공통 노드인 제 3 노드 사이에 차동 크로스-커플되며, 상기 제 1 트랜지스터의 드레인 및 게이트 단자는 상기 제 1 노드 및 제 2 노드에 각각 접속되고, 상기 제 2 트랜지스터의 드레인 및 게이트 단자는 상기 제 2 노드 및 제 1 노드에 각각 접속되며, 상기 제 1, 2 트랜지스터의 소스 단자는 상기 제 3 노드에 공통으로 접속된 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
5 5
제 1항에 있어서,상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터의 드레인, 게이트 및 소스 단자는,상기 손실 보상 회로의 제 1, 2 트랜지스터의 공통 노드인 제 3 노드, 상기 피크 검출기의 제 5, 6 트랜지스터의 공통 노드인 제 6 노드 및 접지단자에 각각 공통으로 접속된 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
6 6
제 2항 또는 제 3항에 있어서,상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터의 드레인 단자는 상기 손실 보상 회로의 제 1, 2 트랜지스터의 공통 노드인 제 3 노드에 공통으로 접속되고, 상기 제 3, 4 트랜지스터의 게이트 단자는 상기 LC 공진 회로의 일단 및 타단에 연결된 제 1 노드 및 제 2 노드에 각각 접속되며,상기 제 3, 4 트랜지스터의 소스 단자는 접지단자에 공통으로 접속된 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
7 7
제 1항 또는 제 3항에 있어서, 상기 피크 검출기의 제 5, 6 트랜지스터는,상기 LC 공진 회로의 일단 및 타단에 연결된 제 1 노드 및 제 2 노드와 상기 제 5, 6 트랜지스터의 공통 노드인 제 6 노드 사이에 차동 크로스-커플되고,상기 제 5 트랜지스터의 드레인 및 게이트 단자는 상기 제 1 노드 및 제 2 노드에 각각 접속되고, 상기 제 6 트랜지스터의 드레인 및 게이트 단자는 상기 제 2 노드 및 제 1 노드에 각각 접속되고, 상기 제 5, 6 트랜지스터의 소스 단자는 상기 제 6 노드에 공통으로 접속되며,상기 제 6 노드와 접지단자 사이에 상기 제 3 커패시터 및 상기 제 4 커패시터가 각각 접속된 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
8 8
제 1항 또는 제 3항에 있어서,상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터가 NMOS 트랜지스터로 구성되는 경우, 상기 피크 검출기의 제 5, 6 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터로 구성되며,상기 LC 공진 회로의 발진 파형의 크기가 증가하면, 상기 피크 검출기로부터 검출되는 발진 파형의 네거티브 피크값이 감소되어, 상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터의 게이트 단자에 인가되는 공통모드 전압이 낮아져 상기 LC 공진 회로의 발진 파형의 크기가 감소되는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
9 9
제 1항 또는 제 3항에 있어서,상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터가 PMOS 트랜지스터로 구성되는 경우, 상기 피크 검출기의 제 5, 6 트랜지스터는 PMOS 트랜지스터로 구성되며, 상기 LC 공진 회로의 발진 파형의 크기가 증가하면, 상기 피크 검출기로부터 검출되는 발진 파형의 포지티브 피크값이 감소되어, 상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터의 게이트 단자에 인가되는 공통모드 전압이 낮아져 상기 LC 공진 회로의 발진 파형의 크기가 감소되는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
10 10
제 2항 또는 제 3항에 있어서, 상기 LC 공진 회로의 일단에 연결된 제 1 노드와 상기 바이어스 회로의 제 3 트랜지스터의 게이트 단자 사이에 제 1 커패시터가 접속되고, 상기 LC 공진 회로의 타단에 연결된 제 2 노드와 상기 바이어스 회로의 제 4 트랜지스터의 게이트 단자 사이에 제 2 커패시터가 접속되며, 상기 제 3, 4 트랜지스터의 게이트 단자 사이에 제 1, 2 저항이 각각 접속된 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
11 11
제 10항에 있어서, 상기 제 1 커패시터 및 제 2 커패시터를 통해 상기 LC 공진 회로의 발진 파형이 상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터의 게이트 단자에 인가되며,상기 제 1 저항 및 제 2 저항을 통해 상기 피크 검출기로부터 검출된 발진 파형의 피크값이 상기 바이어스 회로의 제 3, 4 트랜지스터의 게이트 단자에 인가되는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
12 12
제 2항 또는 제 3항에 있어서, 상기 스위칭 회로의 스위칭 동작에 따라, 상기 바이어스 회로의 제 3 트랜지스터가 상기 발진 파형의 반주기 동안 온일 때 상기 바이어스 회로의 제 4 트랜지스터는 오프되고, 상기 바이어스 회로의 제 3 트랜지스터가 상기 발진 파형의 반주기 동안 오프일 때 상기 바이어스 회로의 제 4 트랜지스터는 온되는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
13 13
제 2항 또는 제 3항에 있어서,상기 바이어스 회로의 제 3 트랜지스터 및 제 4 트랜지스터의 드레인 단자는 상기 손실 보상 회로의 제 2 트랜지스터 및 상기 제 1 트랜지스터의 소스 노드에 각각 연결되어 차동으로 동작하는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
14 14
제 13항에 있어서, 상기 바이어스 회로의 제 3 트랜지스터 및 상기 손실 보상 회로의 제 2 트랜지스터가 상기 발진 파형의 반주기 동안 온일때 상기 바이어스 회로의 제 4 트랜지스터 및 상기 손실 보상 회로의 제 1 트랜지스터는 오프되며,상기 바이어스 회로의 제 3 트랜지스터 및 상기 손실 보상 회로의 제 2 트랜지스터가 상기 발진 파형의 반주기 동안 오프일 때 상기 바이어스 회로의 제 4 트랜지스터 및 상기 손실 보상 회로의 제 1 트랜지스터는 온되는 것을 특징으로 하는 스위칭 바이어스를 갖는 전압 제어 발진기
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