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광전 변환 모듈의 암전류 특성 검사를 위한 인터페이스장치 및 암전류 특성 검사 방법

  • 기술번호 : KST2015082824
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광통신 모듈의 신뢰성 시험장치에 관한 것으로, 특히 광전 변환 모듈과 암전류 측정장비 사이의 인터페이스 장치에 관한 것이다. 상기 기술적 과제는 본 발명에 따라 상기 암전류 측정장비로부터 바이어스 전압을 인가받는 인터페이스부; 상기 인터페이스부를 통해 인가되는 바이어스 전압을 각각 연계되는 광전 변환 모듈로 일괄 제공하는 다수의 채널부들; 및 상기 다수의 채널부들 중 하나를 순차적으로 선택하여 선택된 채널부에 연계되는 광전 변환 모듈에 흐르는 암전류를 상기 인터페이스부를 통해 출력하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치에 의해 달성되며, 이에 따라 측정 효율성을 향상시키고 광전 변환 모듈의 생산 단가의 상승 요인을 최소화할 수 있는 효과가 있다. 광통신, 포토 다이오드, 암전류, 신뢰성 시험
Int. CL H04B 10/07 (2013.01) H04B 10/00 (2013.01)
CPC H04B 10/07955(2013.01) H04B 10/07955(2013.01) H04B 10/07955(2013.01)
출원번호/일자 1020070108411 (2007.10.26)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0919051-0000 (2009.09.18)
공개번호/일자 10-2009-0042571 (2009.04.30) 문서열기
공고번호/일자 (20090924) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.10.26)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최승남 대한민국 광주 북구
2 강현서 대한민국 광주 광산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이헌수 대한민국 서울특별시 서초구 마방로*길 *, ***호 (양재동, 양재빌딩)(특허법인 신지(분사무소))
2 유경열 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 ***호실(역삼동, 청원빌딩)(특허법인 신지)
3 정영미 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 *, BYC빌딩 **층 ****호 신지국제특허법률사무소 (역삼동)
4 천성훈 대한민국 서울특별시 서초구 마방로*길 **-**, *층(양재동, 서흥빌딩)(청신국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엠피콤 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.10.26 수리 (Accepted) 1-1-2007-0770108-71
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.09.30 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.10.13 수리 (Accepted) 9-1-2008-0064515-12
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0085624-55
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.04.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0246799-66
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.04.23 수리 (Accepted) 1-1-2009-0246802-16
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
8 등록결정서
Decision to grant
2009.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0358370-89
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광전 변환 모듈의 암전류 특성 검사를 위한, 광전 변환 모듈과 암전류 측정 장비 사이의 인터페이스 장치에 있어서, 상기 암전류 측정 장비로부터 바이어스 전압을 인가받는 인터페이스부; 상기 인터페이스부를 통해 인가되는 바이어스 전압을 각각 연계되는 광전 변환 모듈로 일괄 제공하는 다수의 채널부들; 및 상기 다수의 채널부들 중 하나를 순차적으로 선택하여 선택된 채널부에 연계되는 광전 변환 모듈에 흐르는 암전류를 상기 인터페이스부를 통해 출력하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 일면이 상기 채널부에 착탈 가능하고, 그 배면에 상기 광전 변환 모듈의 리드와 대응되는 위치에 리드 개수와 같은 수의 홀들을 포함하는 소켓부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 광전 변환 모듈은 포토다이오드 모듈인 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 제어부는 바이어스 전압이 공급되면, 안정화를 위한 지연 시간 경과 후에 암전류를 출력하는 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치
5 5
제 1 항에 있어서, 키패드; 및 표시부를 더 포함하고, 상기 제어부는 상기 키패드로 입력되는 동작 설정 신호에 따라 그 동작 환경을 설정하고, 상기 설정 내용을 상기 표시부에 디스플레이하는 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치
6 6
제 1 항에 있어서, 외부로부터 상기 인터페이스 장치의 동작 설정 신호를 입력받는 원격 통신부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 채널부는 전압 인가 상태와 전류 측정 상태 중 적어도 하나를 표시하기 위한 발광부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치
8 8
광전 변환 모듈의 암 전류 특성 검사 방법에 있어서, 암전류 측정 장비로부터 동일한 바이어스 전압을 인가받는 단계; 상기 인가받은 바이어스 전압을 다수의 광전 변환 모듈로 일괄 제공하는 단계; 및 상기 다수의 광전 변환 모듈들 중 하나를 순차적으로 선택하여, 선택된 광전 변환 모듈에 흐르는 암전류를 출력하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 암 전류 특성 검사 방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 전압 인가 단계 이후에, 안정화 지연 시간이 경과 되었는지 판단하는 단계를 더 포함하고, 상기 출력 단계는 상기 안정화 지연 시간이 경과 된 이후에 암전류를 출력하는 것을 특징으로 하는 암전류 특성 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 정보통신부 및 정보통신연구진흥원 한국전자통신연구원 선도기술시험지원 광통신부품 개발기술지원