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ZnO 나노와이어 네트워크 패턴 및 ZnO 나노와이어네트워크 소자의 형성방법

  • 기술번호 : KST2015083143
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴 및 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법을 제공한다. 본 발병에 의한 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법은 기판 위에 소자가 형성될 소자 영역을 노출시키는 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계; 상기 포토레지스트 패턴이 형성된 상기 기판 위에 졸겔법에 의하여 ZnO 나노와이어 네트워크를 형성하는 단계; 및 상기 포토레지스트 패턴을 제거하여 상기 소자 형성 영역에 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴을 형성하는 단계; 를 포함한다. 본 발명에 의하면 리소그래피 공정과 졸겔법을 사용함으로써 원하는 모양과 크기의 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴 및 소자를 저온에서 안정적인 수율로 형성할 수 있다. ZnO 나노와이어 네트워크 소자, 리소그래피, 졸겔법
Int. CL H01L 21/027 (2011.01) B82B 3/00 (2011.01)
CPC B82B 3/0004(2013.01) B82B 3/0004(2013.01) B82B 3/0004(2013.01) B82B 3/0004(2013.01)
출원번호/일자 1020070077171 (2007.07.31)
출원인 한국전자통신연구원, 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0932898-0000 (2009.12.11)
공개번호/일자 10-2009-0012929 (2009.02.04) 문서열기
공고번호/일자 (20091221) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.07.31)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박종혁 대한민국 대구 동구
2 허정환 대한민국 서울 성북구
3 김규태 대한민국 서울 성북구
4 문승언 대한민국 대전 유성구
5 김은경 대한민국 대전 유성구
6 이홍열 대한민국 충북 청주시 상당구
7 박강호 대한민국 대전 유성구
8 김종대 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.07.31 수리 (Accepted) 1-1-2007-0560917-76
2 [전자문서첨부서류]전자문서첨부서류등 물건제출서
[Attachment to Electronic Document] Submission of Object such as Attachment to Electronic Document
2007.08.01 수리 (Accepted) 1-1-2007-5071570-28
3 [공지예외적용대상(신규성, 출원시의 특례)증명서류]서류제출서
[Document Verifying Exclusion from Being Publically Known (Novelty, Special Provisions for Application)] Submission of Document
2007.08.01 수리 (Accepted) 1-1-2007-5071566-45
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.05 수리 (Accepted) 4-1-2008-5034712-96
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.05.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.06.13 수리 (Accepted) 9-1-2008-0038241-53
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0605025-35
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2009-0054869-61
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.01.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0054870-18
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.05.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0227932-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.06.09 수리 (Accepted) 4-1-2009-5111177-32
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.06.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0398102-40
13 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0398101-05
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
15 등록결정서
Decision to grant
2009.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0496031-19
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149278-93
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 위에 기판의 일부를 노출시키는 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계; 졸겔법에 의하여 상기 기판의 노출된 부분과 상기 포토레지스트 패턴 위에 ZnO 나노와이어 네트워크를 형성하는 단계; 및 상기 포토레지스트 패턴을 제거하여 상기 기판 위에 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴을 형성하는 단계; 를 포함하되, 상기 졸겔법에 의하여 상기 ZnO 나노와이어 네트워크를 형성하는 단계는 질산 아연(Zn(NO3)2·6H2O) 과 메테나민(metheamine, C6H12N4))을 포함하는 혼합용액을 준비하는 단계; 및 상기 혼합용액에 상기 기판을 적시는 단계; 를 포함하는 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴의 형성방법
2 2
제1 항에 있어서, 상기 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계는 상기 기판 위에 포토레지스트를 도포하는 단계; 상기 포토레지스트를 노광하는 단계; 및 상기 노광된 포토레지스트를 현상하는 단계를 포함하는 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴의 형성방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 포토레지스트 패턴은 포토리소그래피 또는 전자빔 리소그래피를 이용하여 형성하는 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴의 형성방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 포토레지스트 패턴은 콘택 프린팅 또는 임프린트 리소그래피를 이용하여 형성하는 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴의 형성방법
5 5
제1 항에 있어서, 상기 기판은 반도체 기판, 유리 기판 또는 플라스틱 기판을 포함하는 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴의 형성방법
6 6
제1 항에 있어서, 상기 ZnO 나노와이어 네트워크를 형성하는 단계는 80℃ 내지 100℃ 범위의 온도에서 수행되는 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴의 형성방법
7 7
삭제
8 8
제1 항에 있어서, 상기 혼합용액에 상기 기판을 적시는 단계는 침지(immersion) 또는 스핀코팅 방법을 포함하는 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴의 형성방법
9 9
기판 위에 소자가 형성될 소자 영역을 노출시키는 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계; 상기 포토레지스트 패턴이 형성된 상기 기판 위에 졸겔법에 의하여 ZnO 나노와이어 네트워크를 형성하는 단계; 및 상기 포토레지스트 패턴을 제거하여 상기 소자 형성 영역에 ZnO 나노와이어 네트워크 패턴을 형성하는 단계; 를 포함하되, 상기 졸겔법에 의하여 상기 ZnO 나노와이어 네트워크를 형성하는 단계는 질산 아연(Zn(NO3)2·6H2O 과 메테나민(metheamine, C6H12N4))을 포함하는 혼합용액을 준비하는 단계; 및 상기 혼합용액에 상기 기판을 적시는 단계; 를 포함하는는 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법
10 10
제9 항에 있어서, 상기 포토레지스트 패턴을 형성하기 전 상기 기판 위에 상기 소자 영역과 전기적으로 연결되는 전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법
11 11
제9 항에 있어서, 상기 포토레지스트 패턴은 포토리소그래피 또는 전자빔 리소그래피를 이용하여 형성하는 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법
12 12
제9 항에 있어서, 상기 포토레지스트 패턴은 콘택 프린팅 또는 임프린트 리소그래피를 이용하여 형성하는 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법
13 13
제9 항에 있어서, 상기 기판은 반도체 기판, 유리 기판 또는 플라스틱 기판을 포함하는 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법
14 14
삭제
15 15
제9 항에 있어서, 상기 ZnO 나노와이어 네트워크의 형성 단계는 80℃ 내지 100℃ 범위의 온도에서 수행되는 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법
16 16
제10 항에 있어서, 상기 기판은 상기 전극 아래의 절연층을 더 포함하는 ZnO 나노와이어 네트워크 소자의 형성방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 정보통신부 한국전자통신연구원 IT신성장동력핵심기술개발사업 유비쿼터스 단말용 부품 모듈