| 1 |
1
소프트웨어로 구현된 암호 프로그램의 동작을 제어하는 MCU(Micro control unit),
하드웨어로 구현된 암호 프로그램의 1차 동작 검증을 수행하는 FPGA(field programmable gate array), 그리고
상기 MCU 내지 상기 FPGA에 전원을 공급하여 상기 MCU 내지 상기 FPGA을 동작시키거나, 상기 암호 프로그램의 구동 시 소비전력을 측정하여 측정한 소비전력을 토대로 부채널 분석을 수행하는 복수개의 전원분리 모듈
을 포함하는 부채널 검증 장치
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,
상기 MCU 및 상기 FPGA로 전원을 공급하는 전원 모듈
을 더 포함하는 부채널 검증 장치
|
| 3 |
3
제2항에 있어서,
상기 복수개의 전원분리 모듈 각각은
제1 전원과 제2 전원, 각 전원에 해당하는 스위치 및 저항을 포함하고,
상기 스위치가 오프인 경우 상기 저항 사이의 가변하는 전압을 측정하여, 측정한 전압 변화를 상기 소비전력으로 하는 부채널 검증 장치
|
| 4 |
4
제3항에 있어서,
상기 스위치가 온인 경우 상기 MCU 내지 상기 FPGA와 정상적으로 연결하여, 상기 MCU 내지 상기 FPGA로 상기 전원 모듈로부터 전달받은 전원을 공급하는 부채널 검증 장치
|
| 5 |
5
제2항에 있어서,
상기 복수개의 전원분리 모듈 각각은
상기 전원 모듈과 상기 MCU 사이와 상기 전원 모듈과 상기 FPGA 사이에 위치하는 부채널 검증 장치
|
| 6 |
6
전원분리 모듈을 포함하는 장치가 부채널을 검증하는 방법에 있어서,
상기 장치에서 하드웨어 내지 소프트웨어로 구현된 암호 프로그램의 동작이 수행되는 경우, 상기 전원분리 모듈에서 전류값의 변화를 감지하는 단계,
감지한 상기 전류값의 변화로 인하여 상기 전원분리 모듈이 포함하는 저항 사이의 전압이 가변하는 단계,
상기 저항 사이의 가변하는 전압값을 측정하는 단계, 그리고
측정한 전압값 변화를 토대로 부채널 분석을 수행하는 단계
를 포함하는 부채널 검증 방법
|
| 7 |
7
제6항에 있어서,
상기 측정한 전압값 변화는 상기 암호 프로그램의 구동 시의 소비전력인 것을 특징으로 하는 부채널 검증 방법
|
| 8 |
8
제6항에 있어서,
상기 저항은 가변저항인 것을 특징으로 하는 부채널 검증 방법
|
| 9 |
9
제6항에 있어서,
상기 소프트웨어로 구현된 암호 프로그램의 동작을 제어하는 단계, 그리고
상기 하드웨어로 구현된 암호 프로그램의 1차 동작 검증을 수행하는 단계
를 더 포함하는 부채널 검증 방법
|
