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부채널 분석기의 분석 방법에 있어서:
디지털 디바이스로부터 누설 전력 신호들을 수집하는 단계;
상기 수집된 누설 전력 신호들 각각의 소정의 구간을 선택함으로써 상기 누설 전력 신호들을 재정렬하는 단계;
상기 재정렬된 누설 전력 신호들로부터 해밍 거리를 이용하여 연관 상수들을 계산하는 단계; 및
상기 계산된 연관 상수들을 키 결정 메트릭에 제공함으로써 암호 키를 판별하는 단계를 포함하는 분석 방법
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2
제 1 항에 있어서,
상기 누설 전력 신호들을 수집하는 단계는,
상기 디지털 디바이스에 동일한 암호 연산을 반복적으로 수행하는 단계; 및
상기 디지털 디바이스로부터 발생되는 상기 누설 전력 신호들을 측정하는 단계를 포함하는 분석 방법
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3
제 2 항에 있어서,
상기 누설 전력 신호들을 수집하는 단계는,
상기 디지털 디바이스의 암호 연산시 발생되는 누설 전력 신호들을 오버 샘플링하는 분석 방법
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4
제 3 항에 있어서,
상기 오버 샘플링하는 회수는, 상기 부채널 분석기의 샘플링 비율을 상기 디지털 디바이스의 프로세서 클록의 주파수로 나눈 값인 분석 방법
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5
제 1 항에 있어서,
상기 누설 전력 신호들을 재정렬하는 단계는,
상기 수집된 누설 전력 신호들 각각의 소정의 구간으로부터 복수의 샘플링 포인트들을 선택하는 단계; 및
상기 선택된 각각의 복수의 샘플링 포인트들을 정렬하는 단계를 포함하는 분석 방법
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6
제 5 항에 있어서,
상기 선택된 복수의 샘플링 포인트들은, 상기 소정의 구간에서 최대값 포인트 및 상기 최대값 포인트에 인접한 적어도 하나의 포인트인 분석 방법
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7
제 1 항에 있어서,
상기 부채널 분석기는 상기 누설 전력 신호들을 측정하기 위하여 오실로스코프를 이용하는 분석 방법
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8
제 1 항에 있어서,
상기 부채널 분석기는 차분 전력 분석을 수행하는 분석 방법
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9
부채널 분석기의 분석 방법에 있어서:
디지털 디바이스의 반복적인 암호 연산시 발생되는 누설 전력 신호들을 오버 샘플링하는 단계;
상기 오버 샘플링된 포인트들로부터 소정의 구간을 선택하는 단계; 및
상기 선택된 소정의 구간을 이용하여 암호키를 판별하는 단계를 포함하는 분석 방법
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10
제 9 항에 있어서,
상기 오버 샘플링하는 단계는,
상기 디지털 디바이스의 암호 연산시 발생되는 하나의 누설 전력 신호에 대한 적어도 두 개의 샘플링 포인트들을 수집하는 분석 방법
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