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부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2014045612
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 기술에 관한 것으로, 암호 알고리즘이 내장된 디바이스 카드를 범용 카드 리더기를 이용하여 발생되는 부채널에 대한 분석 및 검증을 수행하는 것이며, 암호 알고리즘이 탑재된 카드에 대한 부채널 분석 검증을 위해, 범용 카드 리더기로 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정과, 트리거 발생 모듈을 통해 I/O 데이터에 의한 트리거 발생을 수행하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 부채널 분석을 위한 별도의 카드 리더기를 개발할 필요없이 범용 리더기와 간단한 로직을 이용하여 암호 알고리즘이 포함된 디바이스 카드에 대한 부채널 분석을 수행할 수 있는 장치를 제공하고, 트리거 발생 로직 및 리더기의 동작을 디바이스 카드와 분리시킴으로써, 디바이스 카드에 의한 노이즈를 감소시켜 더욱 정밀한 부채널 신호를 얻을 수 있도록 할 수 있다.부채널(side channel), 전력 신호 측정, 트리거
Int. CL G06F 11/30 (2006.01) G06F 9/44 (2006.01)
CPC G06F 11/3062(2013.01) G06F 11/3062(2013.01) G06F 11/3062(2013.01) G06F 11/3062(2013.01)
출원번호/일자 1020090076506 (2009.08.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-1141600-0000 (2012.04.24)
공개번호/일자 10-2011-0018988 (2011.02.25) 문서열기
공고번호/일자 (20120517) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.08.19)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최용제 대한민국 대전광역시 유성구
2 최두호 대한민국 충청남도 천안시 동남구
3 김주한 대한민국 대전광역시 유성구
4 김태성 대한민국 대전광역시 유성구
5 오경희 대한민국 대전광역시 유성구
6 강유성 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 제일특허법인(유) 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)
2 김원준 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2009.08.19 수리 (Accepted) 1-1-2009-0505356-18
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2010.04.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2010.05.19 수리 (Accepted) 9-1-2010-0032229-23
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.02.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0079439-77
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.04.06 수리 (Accepted) 1-1-2011-0249404-21
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.04.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0249403-86
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.10.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0591000-14
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.12.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0989823-05
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.12.13 수리 (Accepted) 1-1-2011-0989822-59
10 등록결정서
Decision to grant		 2012.04.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0217855-96
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
호스트 컴퓨터와 접속되고, 암호 알고리즘으로 암호 연산을 수행하는 디바이스 카드의 입출력 신호를 측정하는 카드 리더 확장 보드와,상기 카드 리더 확장 보드로부터 상기 입출력 신호를 수신하여 이를 토대로 트리거 신호를 발생시키는 트리거 발생부를 포함하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 카드 리더 확장 보드는,상기 디바이스 카드로부터 전원 신호를 검출하여 소모 전력을 측정하는 전원 신호 검출부와,상기 디바이스 카드로부터 입출력 신호를 검출하여 상기 트리거 발생부로 전달하는 입출력 신호 검출부와,상기 호스트 컴퓨터로부터 카드 리더 제어 명령을 수신하여 상기 전원 신호 검출부 및 상기 입출력 신호 검출부를 제어하는 신호 검출 제어부와,상기 전원 신호 검출부 및 상기 입출력 신호 검출부와 연결되어 있으며, 상기 디바이스 카드와의 접촉 인터페이스를 제공하여 상기 디바이스 카드를 부착하는 카드 접촉 디바이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 전원 신호 검출부는, 전원(VDD) 및 접지(GND) 단에 가변 저항을 두어 전원 신호를 측정하는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 장치
4 4
제 1항에 있어서,상기 트리거 발생부는,상기 호스트 컴퓨터와 연동되어 트리거 데이터와 전송률 정보를 수신하는 입출력 인터페이스와,상기 트리거 데이터와 전송률 정보를 각각 저장하고, 상기 입출력 신호와 트리거 데이터의 비교 결과 일치하면, 트리거 신호를 발생시키는 트리거 발생 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 장치
5 5
제 4항에 있어서,상기 트리거 발생 제어부는,전송 속도에 따라 바이트 단위로 전송되는 상기 입출력 신호와, 상기 트리거 데이터의 바이트 값과의 비교 결과 일치하지 않으면, 상기 입출력 신호 데이터를 리셋하고, 상기 트리거 데이터를 초기화하여 상기 입출력 신호를 재 수신하여 비교하고,상기 비교 결과 일치하면, 상기 트리거 데이터를 바이트 쉬프트시키는 동작을 반복하여 상기 입출력 신호의 데이터 순서가 상기 트리거 데이터와 마지막 바이트의 데이터까지 동일하게 되면, 상기 트리거 신호를 발생시키는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 장치
6 6
호스트 컴퓨터와 접속된 카드 리더 확장 보드에서 암호 알고리즘으로 암호 연산을 수행하는 디바이스 카드의 입출력 신호를 측정하는 과정과,트리거 발생부에서 상기 입출력 신호를 전달 받아 이를 토대로 트리거 신호를 발생시키는 과정을 포함하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 방법
7 7
제 6항에 있어서,상기 입출력 신호를 측정하는 과정은,상기 호스트 컴퓨터로부터의 카드 리더 제어 명령에 따라 상기 카드 리더 확장 보드 상에 인터페이싱된 상기 디바이스 카드로부터 전원 신호를 검출하여 소모 전력을 측정하는 과정과,상기 디바이스 카드로부터 입출력 신호를 검출하는 과정과,상기 검출된 입출력 신호를 상기 트리거 발생부로 전달하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 방법
8 8
제 7항에 있어서,상기 전원 신호를 검출하여 소모 전력을 측정하는 과정은,전원(VDD) 및 접지(GND) 단에 가변 저항을 두어 상기 전원 신호를 측정하는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 방법
9 9
제 6항에 있어서,상기 트리거 신호를 발생시키는 과정은,상기 호스트 컴퓨터와 연동된 입출력 인터페이스를 통해 상기 트리거 데이터와 전송률 정보를 수신하는 과정과,상기 트리거 데이터와 전송률 정보를 각각 저장하고, 상기 입출력 신호와 트리거 데이터의 비교 결과 일치하면, 트리거 신호를 발생시키는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 방법
10 10
제 9항에 있어서,상기 트리거 신호를 발생시키는 과정은,전송 속도에 따라 바이트 단위로 전송되는 상기 입출력 신호와, 상기 트리거 데이터의 바이트 값과의 비교 결과 일치하지 않으면, 상기 입출력 신호 데이터를 리셋하고, 상기 트리거 데이터를 초기화하여 상기 입출력 신호를 재 수신하여 비교하는 과정과,상기 비교 결과 일치하면, 상기 트리거 데이터를 바이트 쉬프트시키는 동작을 반복하여 상기 입출력 신호의 데이터 순서가 상기 트리거 데이터와 마지막 바이트의 데이터까지 동일하게 되면, 상기 트리거 신호를 발생시키는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국전자통신연구원 IT성장동력기술개발사업 부채널 공격 방지 원천 기술 및 안전성 검증 기술개발