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레벨 전압을 생성하는 커패시터 어레이;상기 레벨 전압을 비교하여 비교 신호를 출력하는 비교기; 및상기 비교 신호를 기초로 아날로그 신호의 디지털 비트들을 결정하는 논리회로를 포함하며,상기 논리회로는 상기 커패시터 어레이에서 상기 아날로그 신호의 샘플링 동작이 수행되는 동안에, 상기 아날로그 신호의 디지털 비트들 중 적어도 하나의 디지털 비트를 결정하는 아날로그 디지털 변환기
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제 1 항에 있어서,상기 비교기와 상기 아날로그 신호의 입력 노드 사이에 연결된 연결회로를 더 포함하며, 상기 연결회로는 상기 커패시터 어레이에서 상기 아날로그 신호의 샘플링 동작이 수행되는 동안에 턴 온 되는 아날로그 디지털 변환기
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제 1 항에 있어서,상기 비교기와 상기 아날로그 신호의 입력 노드 사이에 연결된 제 1 연결회로; 및상기 비교기와 상기 커패시터 어레이 사이에 연결된 제 2 연결회로를 더 포함하며,상기 커패시터 어레이에서 상기 아날로그 신호의 샘플링 동작이 수행되는 동안에 상기 제 1 연결회로는 턴 온 되고 상기 제 2 연결회로는 턴 오프 되는 아날로그 디지털 변환기
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제 3 항에 있어서,상기 커패시터 어레이에서 상기 아날로그 신호의 샘플링 동작이 완료된 후, 상기 제 1 연결회로는 턴 오프 되고 상기 제 2 연결회로는 턴 온 되는 아날로그 디지털 변환기
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제 1 항에 있어서,상기 아날로그 신호의 입력 노드와 상기 논리회로 사이에 연결된 서브 아날로그 디지털 변환회로를 더 포함하며,상기 서브 아날로그 디지털 변환회로는 상기 커패시터 어레이에서 상기 아날로그 신호의 샘플링 동작이 수행되는 동안에 상기 아날로그 신호의 디지털 비트들 중 적어도 하나의 비트를 결정하는 아날로그 디지털 변환기
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제 5 항에 있어서,상기 서브 아날로그 디지털 변환회로는 플래시 아날로그 디지털 변환기로 구현되는 것을 특징으로 하는 아날로그 디지털 변환기
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제 1 항에 있어서,상기 커패시터 어레이는상기 아날로그 신호를 샘플링하는 복수의 커패시터들; 및상기 복수의 커패시터들에 연결된 복수의 스위치들을 포함하며,상기 샘플링 동작이 완료된 후에, 상기 복수의 스위치들은 상기 복수의 커패시터들을 제 1 및 제 2 기준 전압의 입력 노드에 선택적으로 연결함으로써 상기 레벨 전압을 생성하는 아날로그 디지털 변환기
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아날로그 입력 신호를 소정 비트의 디지털 신호로 변환하는 제 1 연속 근사 아날로그 디지털 변환부; 및상기 제 1 연속 근사 아날로그 디지털 변환부의 잔류전압을 소정 비트의 디지털 신호로 변환하는 제 2 연속 근사 아날로그 디지털 변환부를 포함하며,상기 제 1 연속 근사 아날로그 디지털 변환부는 상기 아날로그 입력 신호의 샘플링 동작이 수행되는 동안에 상기 아날로그 입력 신호를 디지털 신호로 변환하고, 상기 제 2 연속 근사 아날로그 디지털 변환부는 상기 잔류접압의 샘플링 동작이 수행되는 동안에 상기 잔류전압을 디지털 신호로 변환하는 아날로그 디지털 변환기
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제 8 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 연속 근사 아날로그 디지털 변환부는 샘플링 동작이 수행되는 동안에 아날로그 디지털 변환 동작을 지원하는 서브 아날로그 디지털 변환 경로 및 샘플링 동작이 수행된 후에 아날로그 디지털 변환 동작을 지원하는 메인 아날로그 디지털 변환 경로를 각각 생성하는 아날로그 디지털 변환기
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10
제 9 항에 있어서,샘플링 동작이 수행되는 동안에, 상기 제 1 및 제 2 연속 근사 아날로그 디지털 변환부의 상기 메인 아날로그 디지털 변환 경로는 차단되는 아날로그 디지털 변환기
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제 10 항에 있어서,샘플링 동작이 완료된 후에, 상기 제 1 및 제 2 연속 근사 아날로그 디지털 변환부의 상기 서브 아날로그 디지털 변환 경로는 차단되는 아날로그 디지털 변환기
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12
제 8 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 연속 근사 아날로그 디지털 변환부는 각각 비교기를 이용하여 샘플링 동작이 수행되는 동안에 아날로그 디지털 변환 동작을 수행하는 아날로그 디지털 변환기
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13
제 8 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 연속 근사 아날로그 디지털 변환부는 각각 플래시 아날로그 디지털 변환기를 이용하여 샘플링 동작이 수행되는 동안에 아날로그 디지털 변환 동작을 수행하는 아날로그 디지털 변환기
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