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테라헤르츠파를 이용한 샘플의 분석 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015089603
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 테라헤르츠파를 이용한 샘플 분석 방법 및 장치에 관한 것이다. 이와 관련한 본 발명의 일 실시 예에 따른 샘플 분석 방법은, 테라헤르츠파를 생성하는 단계, 송신 안테나가 테라헤르츠파를 이용하여 서로 다른 방사각을 갖는 2 이상의 전자기파를 동시에 방사하는 단계, 수신 안테나가 샘플을 투과한 2 이상의 전자기파를 수신하는 단계, 수신된 2 이상의 전자기파를 처리하여 샘플의 분석 영상을 획득하는 단계를 포함한다. 이러한 본 발명에 의하면 하나의 안테나가 서로 다른 방사각을 갖는 테라헤르츠파를 동시에 방사함으로써, 샘플의 분석 영상 획득에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있다.
Int. CL G01N 21/3581 (2014.01)
CPC
출원번호/일자 1020110062922 (2011.06.28)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0001969 (2013.01.07) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 표성민 대한민국 서울특별시 광진구 군
2 최재익 대한민국 대전광역시 유성구
3 이왕주 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.06.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0492977-04
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.07.25 수리 (Accepted) 1-1-2014-0703772-49
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
테라헤르츠파를 이용한 샘플의 분석 장치에 있어서,상기 테라헤르츠파를 생성하는 신호 생성부; 상기 테라헤르츠파를 이용하여 서로 다른 방사각을 갖는 2 이상의 전자기파를 동시에 방사하는 송신 안테나;상기 샘플을 투과한 상기 2 이상의 전자기파를 수신하는 수신 안테나;상기 수신된 2 이상의 전자기파를 처리하여 상기 샘플의 분석 영상을 획득하는 신호 처리부;를 포함하는 샘플 분석 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 서로 다른 방사각을 갖는 2 이상의 전자기파는 후진파(backward wave), 영차공진파(zeroth-order resonant wave), 전진파(forward wave) 중 적어도 하나인샘플 분석 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 송신 안테나 또는 상기 수신 안테나는 복합좌우현(Composite Right-Left Handed;CRLH) 메타물질로 구성된 누설파 안테나인샘플 분석 장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 샘플의 전면 또는 후면에 배치되어 상기 2 이상의 전자기파의 방사각 또는 입사각을 보정하는 렌즈를 더 포함하는 샘플 분석 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 신호 생성부는 기 설정된 주파수 대역의 초기 전자기파를 생성하는 발진기;상기 초기 전자기파의 주파수를 정수배하여 테라헤르츠파를 생성하는 체배기;를 포함하는 샘플 분석 장치
6 6
제1항에 있어서, 상기 신호 처리부는상기 수신된 2 이상의 전자기파를 기 설정된 주파수 대역의 전자기파로 변환하는 역체배기;상기 변환된 전자기파의 크기를 검출하는 신호 검출기; 상기 검출된 전자기파의 크기에 따라 픽셀 값을 결정하는 신호 처리기;상기 결정된 픽셀 값을 갖는 픽셀로 이루어지는 샘플의 분석 영상을 생성하는 영상 생성기;를 포함하는 샘플 분석 장치
7 7
테라헤르츠파를 이용한 샘플의 분석 방법에 있어서,상기 테라헤르츠파를 생성하는 단계; 송신 안테나가, 상기 테라헤르츠파를 이용하여 서로 다른 방사각을 갖는 2 이상의 전자기파를 동시에 방사하는 단계;수신 안테나가, 상기 샘플을 투과한 상기 2 이상의 전자기파를 수신하는 단계;상기 수신된 2 이상의 전자기파를 처리하여 상기 샘플의 분석 영상을 획득하는 단계;를 포함하는 샘플 분석 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 서로 다른 방사각을 갖는 2 이상의 전자기파는 후진파(backward wave), 영차공진파(zeroth-order resonant wave), 전진파(forward wave) 중 적어도 하나인샘플 분석 방법
9 9
제7항에 있어서, 상기 송신 안테나 또는 상기 수신 안테나는 복합좌우현(Composite Right-Left Handed;CRLH) 메타물질로 구성된 누설파 안테나인샘플 분석 방법
10 10
제7항에 있어서, 상기 2 이상의 전자기파가 상기 샘플을 투과하기 이전 또는 이후에 상기 전자기파의 방사각 또는 입사각을 보정하는 렌즈를 통과하는 단계를 더 포함하는 샘플 분석 방법
11 11
제7항에 있어서,상기 테라헤르츠파를 생성하는 단계는 기 설정된 주파수 대역의 초기 전자기파를 생성하는 단계;상기 초기 전자기파의 주파수를 정수배하여 상기 테라헤르츠파를 생성하는 단계;를 포함하는 샘플 분석 방법
12 12
제7항에 있어서, 상기 수신된 2 이상의 전자기파를 처리하여 상기 샘플의 분석 영상을 획득하는 단계는상기 수신된 2 이상의 전자기파를 기 설정된 주파수 대역의 전자기파로 변환하는 단계;상기 변환된 전자기파의 크기를 검출하는 단계; 상기 검출된 전자기파의 크기에 따라 픽셀 값을 결정하는 단계;상기 결정된 픽셀 값을 갖는 픽셀로 이루어지는 샘플의 분석 영상을 생성하는 단계;를 포함하는 샘플 분석 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20130001421 US 미국 FAMILY

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1 US2013001421 US 미국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국식품연구원 산업기술연구회 협동연구사업 테라헤르츠 분광/영상 기술 기반 식품이물질 실시간 비파괴 탐지 기술 개발