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반도체 칩 수준의 EMC 측정을 위한 지그(Jig)에 있어서,EMC 측정 대상이 되는 반도체 칩을 탑재하는 칩 탑재부를 포함하고,상기 반도체 칩의 EMC 측정시 상기 반도체 칩이 사용되는 시스템의 다양한 동작 환경이 상기 칩 탑재부에 구현되는반도체 칩의 EMC 측정용 지그
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반도체 칩 수준의 EMC 측정을 위한 지그에 있어서,EMC 측정 대상이 되는 반도체 칩을 탑재하는 칩 탑재부;상기 반도체 칩이 사용되는 시스템 내 부품들의 EMC 정보를 저장하는 메모리부; 및상기 반도체 칩의 EMC 측정시 상기 메모리부에 저장된 EMC 정보를 추출하여 상기 칩 탑재부에 제공하는 측정 제어부를 포함하는 반도체 칩의 EMC 측정용 지그
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제 2항에 있어서,상기 칩 탑재부는상기 반도체 칩의 EMC 측정시 상기 메모리부로부터 제공된 EMC 정보를 이용하여 상기 반도체 칩이 사용되는 시스템의 다양한 동작 환경을 구현하는반도체 칩의 EMC 측정용 지그
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제 2항에 있어서,상기 메모리부는상기 반도체 칩의 일반적인 기능 테스트를 위해 필요한 정보를 저장하는 일반 데이터 저장부;상기 시스템의 동작 상황에 따른 상기 시스템 내 부품들의 EMC 정보를 데이터베이스화하여 저장하는 EMC 데이터 저장부;상기 측정 제어부의 제어에 의해 상기 일반 데이터 저장부 또는 상기 EMC 데이터 저장부에 저장된 정보를 상기 칩 탑재부로 제공하는 데이터 선택 출력부; 및상기 칩 탑재부의 측정 결과를 저장하는 측정 데이터 저장부를 포함하는반도체 칩의 EMC 측정용 지그
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제 2항에 있어서,상기 지그의 구동을 위한 다수의 제어신호를 입력받는 신호 입력부; 및상기 반도체 칩에 대한 EMC 측정 결과를 출력하는 측정 결과 출력부를 더 포함하는 반도체 칩의 EMC 측정용 지그
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제 5항에 있어서,상기 다수의 제어신호는상기 반도체 칩에 대한 EMC 측정 여부를 결정하기 위한 모드 신호, 상기 지그와 상기 반도체 칩의 동기화를 위한 클럭 신호 및 상기 메모리부의 구동을 위한 전압 신호를 포함하는반도체 칩의 EMC 측정용 지그
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지그에 EMC 측정 대상이 되는 반도체 칩을 탑재하는 단계;상기 지그를 통해 상기 반도체 칩이 사용되는 시스템의 특정 동작 환경을 구현하는 단계; 및상기 구현된 동작 환경 하에서 상기 반도체 칩의 EMC를 측정하는 단계를 포함하는 반도체 칩의 EMC 측정 방법
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제 7항에 있어서,상기 지그는 상기 시스템의 동작 상황에 따른 상기 시스템 내 부품들의 EMC 정보를 저장하고, 상기 저장된 EMC 정보를 이용하여 상기 시스템의 특정 동작 환경을 구현하는반도체 칩의 EMC 측정 방법
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