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잡음 파라미터 추정 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015092298
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 잡음의 특성에 따라 적절한 파라미터 추정 방법을 선택함으로써 임펄스 잡음 파라미터의 추정 정확도를 높이는 잡음 파라미터 추정 방법 및 장치를 제공한다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01)
CPC G01R 29/26(2013.01) G01R 29/26(2013.01)
출원번호/일자 1020140012441 (2014.02.04)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0091793 (2015.08.12) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최수나 대한민국 대전광역시 유성구
2 권종화 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 성병기 대한민국 서울특별시 서초구 사임당로 **, **층 (서초동, 재우빌딩)(마루특허법률사무소)
2 최윤서 대한민국 서울특별시 강남구 도곡로 *** (역삼동, 미진빌딩), *층(윤특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.02.04 수리 (Accepted) 1-1-2014-0108049-12
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2016.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2016-0996274-86
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번호 청구항
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잡음 파라미터 추정 장치에 의하여 수행되는 잡음 모델의 파라미터 추정 방법에 있어서,파라미터를 추정하기 위한 데이터를 입력받는 단계;상기 입력된 데이터가 복합 데이터(complex data)인 경우 모멘트 방법을 사용하여 파라미터 AA를 추정하고, APD(Amplitude Probability Distribution) 방법을 사용하여 파라미터ΓA를 추정하며, 상기 추정된 파라미터 AA가 1이하의 값을 가지는 경우 상기 파라미터 ΓA를 EM(Expectation and Maximization) 방법을 사용하여 재추정하고,상기 입력된 데이터가 APD 데이터인 경우, 상기 APD 데이터를 미분한 값이 0이 되는 지점의 확률 값을 파라미터 AA의 값으로 추정하고 상기 APD 데이터를 미분한 값의 절대값이 최대치가 되는 지점의 크기값을 파라미터 ΓA로 추정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 잡음 파라미터 추정 방법
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