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정전기 방전 보호 회로

  • 기술번호 : KST2015092379
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 정전기 방전 보호 회로에 관한 것이다. 본 발명의 정전기 방전 보호 회로는 기판 상에 형성된 N 베리드영역, N 베리드영역 상에 형성된 딥 N웰, 딥 N웰 좌측에 형성되는 제 1 싱크영역, 딥 N웰 내에 형성되고, 양의 단자에 연결된 제 1 P+도핑영역과 제 1 N+도핑영역을 포함하는 제1 N웰, 딥 N웰 내에 형성되고, 외부저항을 통해서 음의 단자에 연결된 제 2 P+도핑영역, 제 3 P+도핑영역, 및 제 4 P+도핑영역과, 음의 단자에 연결된 제 2 N+도핑영역 및 제 3 N+도핑영역을 포함하는 P웰, 딥 N웰 내에 형성되고, 양의 단자에 연결된 제 5 P+도핑영역과 제4 N+도핑영역을 포함하는 제 2 N웰, 딥 N웰 우측에 형성되는 제2 싱크영역, 제 1 N+도핑영역과 제 1 N웰 사이에 형성된 제 1 N웰저항, P웰과, 제 2 P+도핑영역, 제 3 P+도핑영역, 및 제 4 P+도핑영역 사이에 형성된 P웰저항, 제 4 N+도핑영역과 제 2 N웰 사이에 형성된 제 2 N웰저항, 딥 N웰과 N 베리드영역 사이에 형성되고, N 베리드영역에 형성된 일측이 제 1 N+도핑영역과 연결된 제 1 딥 N웰저항, 및 딥 N웰과 N 베리드영역 사이에 형성되고, N 베리드영역에 형성된 일측이 제 4 N+도핑영역과 연결된 제2 딥 N웰저항을 포함한다.
Int. CL H01L 27/02 (2006.01.01) H01L 27/092 (2006.01.01) H01L 21/8238 (2006.01.01)
CPC H01L 27/0266(2013.01) H01L 27/0266(2013.01) H01L 27/0266(2013.01)
출원번호/일자 1020140006794 (2014.01.20)
출원인 한국전자통신연구원, 단국대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0086752 (2015.07.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.01.18)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 단국대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 수지구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 양일석 대한민국 대전광역시 유성구
2 남은수 대한민국 대전광역시 서구
3 이명래 대한민국 대전 유성구
4 구용서 대한민국 경기 용인시 수지구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2014-0057408-14
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.16 수리 (Accepted) 1-1-2015-0048888-39
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2019.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2019-0067419-89
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.01.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0067418-33
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.11.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.12.09 수리 (Accepted) 9-1-2019-0057291-06
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0152304-70
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.04.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0433730-28
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.04.27 수리 (Accepted) 1-1-2020-0433729-82
11 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2020.08.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0555149-85
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.10.07 수리 (Accepted) 1-1-2020-1060320-08
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.10.07 수리 (Accepted) 1-1-2020-1060321-43
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.10.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5239146-54
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 형성된 N 베리드영역;상기 N 베리드영역 상에 형성된 딥 N웰;상기 딥 N웰 좌측에 형성되는 제 1 싱크영역;상기 딥 N웰 내에 형성되고, 양의 단자에 연결된 제 1 P+도핑영역과 제 1 N+도핑영역을 포함하는 제1 N웰;상기 딥 N웰 내에 형성되고, 외부저항을 통해서 음의 단자에 연결된 제 2 P+도핑영역, 제 3 P+도핑영역, 및 제 4 P+도핑영역과, 상기 음의 단자에 연결된 제 2 N+도핑영역 및 제 3 N+도핑영역을 포함하는 P웰;상기 딥 N웰 내에 형성되고, 상기 양의 단자에 연결된 제 5 P+도핑영역과 제4 N+도핑영역을 포함하는 제 2 N웰;상기 딥 N웰 우측에 형성되는 제2 싱크영역;상기 제 1 N+도핑영역과 상기 제 1 N웰 사이에 형성된 제 1 N웰저항;상기 P웰과, 상기 제 2 P+도핑영역, 제 3 P+도핑영역, 및 제 4 P+도핑영역 사이에 형성된 P웰저항;상기 제 4 N+도핑영역과 상기 제 2 N웰 사이에 형성된 제 2 N웰저항;상기 딥 N웰과 상기 N 베리드영역 사이에 형성되고, 상기 N 베리드영역에 형성된 일측이 상기 제 1 N+도핑영역과 연결된 제 1 딥 N웰저항; 및상기 딥 N웰과 상기 N 베리드영역 사이에 형성되고, 상기 N 베리드영역에 형성된 일측이 상기 제 4 N+도핑영역과 연결된 제2 딥 N웰저항을 포함하는 정전기 방전 보호 회로
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.