맞춤기술찾기

이전대상기술

다파장 레이저 다이오드, 다파장 레이저 다이오드 모듈, 및파장 분할 다중 광 통신 시스템

  • 기술번호 : KST2015093443
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다파장 레이저 다이오드는, 제1 광 증폭기들, 제2 광 증폭기, 파장 선택기, 및 광 검출기를 포함한다. 제1 광 증폭기들은, 제1 내지 제n(상기 n은 2 이상의 자연수) 파장 신호를 각각 발생하고 증폭한다. 제2 광 증폭기는 모니터 파장 신호를 발생하고 증폭한다. 파장 선택기는, 상기 증폭된 제1 내지 제n 파장 신호와 상기 증폭된 모니터 파장 신호를 선택하여 출력한다. 광 검출기는 파장 선택기로부터 출력되는 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호를 검출한다.
Int. CL H04B 10/00 (2013.01) H04B 10/2581 (2013.01)
CPC
출원번호/일자 1020080131058 (2008.12.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-1191236-0000 (2012.10.09)
공개번호/일자 10-2010-0072608 (2010.07.01) 문서열기
공고번호/일자 (20121016) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.12.22)
심사청구항수 9

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 송정호 대한민국 대전광역시 유성구
2 김덕준 대한민국 대전광역시 서구
3 김기수 대한민국 대전광역시 유성구
4 임영안 대한민국 대전광역시 유성구
5 김경옥 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2008-0878309-85
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.03.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0141605-84
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.05.08 수리 (Accepted) 1-1-2012-0367170-12
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.05.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0367171-57
6 등록결정서
Decision to grant
2012.09.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0571813-93
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
다파장 레이저 다이오드 모듈에 있어서,제1 내지 제n(상기 n은 2 이상의 자연수) 파장 신호와, 모니터 파장 신호를 선택적으로 출력하는 파장 선택기와, 상기 출력된 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호를 검출하는 광 검출기를 포함하는 다파장 레이저 다이오드;상기 제1 내지 제n 파장 신호를 투과시키고, 상기 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호를 상기 다파장 레이저 다이오드로 반사시키는 파장 필터;상기 광 검출기로부터 광 검출 전류를 수신하고, 상기 수신된 광 검출 전류 중 제어 전류의 값에 대응하는 온도 제어 신호를 발생하는 제어 회로; 및상기 온도 제어 신호에 응답하여, 상기 다파장 레이저 다이오드의 온도를 조절하는 온도 조절 장치를 포함하며,상기 제어 전류의 값은 상기 모니터 파장 신호와 상기 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호가 일치할 때의 값이고, 인접하는 전류 값 보다 상대적으로 큰 전류 값을 가지고,상기 온도 조절 장치에 의해, 상기 다파장 레이저 다이오드로부터 출력되는 제1 내지 제n 파장 신호가 상기 다파장 레이저 다이오드의 외부 기준 파장 신호들과 일치되는 다파장 레이저 다이오드 모듈
8 8
제7항에 있어서,상기 파장 필터는, 광 섬유 브래그 격자(FBG)를 포함하는 다파장 레이저 다이오드 모듈
9 9
제7항에 있어서,상기 파장 선택기는, 배열 도파로 격자를 포함하는 다파장 레이저 다이오드 모듈
10 10
제7항에 있어서,상기 파장 선택기는, 평면 에쉘 격자를 포함하는 다파장 레이저 다이오드 모듈
11 11
파장 분할 다중(wavelength division multiplexing) 광 통신 시스템에 있어서,제1 내지 제n(상기 n은 2 이상의 자연수) 파장 신호와, 모니터 파장 신호를 선택적으로 출력하는 파장 선택기와, 상기 출력된 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호를 검출하는 광 검출기를 포함하는 다파장 레이저 다이오드를 포함하는 중앙국; 및상기 출력된 제1 내지 제n 파장 신호와, 상기 출력된 모니터 파장 신호를 광 섬유를 통해 수신하고, 상기 수신된 제1 파장 신호 내지 제n 파장 신호를 대응하는 광 단말기들로 분배하는 파장 분할기와, 상기 수신된 모니터 파장 신호를 반사시켜 상기 광 검출기로 전송하는 반사 터미널을 포함하는 원격 노드를 포함하며,상기 중앙국은,상기 광 검출기로부터 광 검출 전류를 수신하고, 상기 수신된 광 검출 전류 중 제어 전류의 값에 대응하는 온도 제어 신호를 발생하는 제어 회로; 및상기 온도 제어 신호에 응답하여, 상기 다파장 레이저 다이오드의 온도를 조절하는 온도 조절 장치를 더 포함하며,상기 제어 전류의 값은 상기 모니터 파장 신호와 상기 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호가 일치할 때의 값이고, 인접하는 전류 값 보다 상대적으로 큰 전류 값을 가지고,상기 온도 조절 장치에 의해, 상기 다파장 레이저 다이오드로부터 출력되는 제1 내지 제n 파장 신호가 상기 파장 분할기로부터 출력되는 제1 내지 제n 파장 신호와 일치되는 파장 분할 다중 광 통신 시스템
12 12
다파장 레이저 다이오드 모듈에 있어서,제1 내지 제n(상기 n은 2 이상의 자연수) 파장 신호를 각각 발생하고 증폭하는 제1 광 증폭기들과, 모니터 파장 신호를 발생하고 증폭하는 제2 광 증폭기와, 상기 증폭된 제1 내지 제n 파장 신호와 상기 증폭된 모니터 파장 신호를 선택하여 출력하는 파장 선택기와, 상기 파장 선택기로부터 출력되는 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호를 검출하는 광 검출기를 포함하는 다파장 레이저 다이오드;상기 제1 내지 제n 파장 신호를 투과시키고, 상기 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호를 상기 다파장 레이저 다이오드로 반사시키는 파장 필터;상기 광 검출기로부터 광 검출 전류를 수신하고, 상기 수신된 광 검출 전류 중 제어 전류의 값에 대응하는 온도 제어 신호를 발생하는 제어 회로; 및상기 온도 제어 신호에 응답하여, 상기 다파장 레이저 다이오드의 온도를 조절하는 온도 조절 장치를 포함하며,상기 제어 전류의 값은 상기 모니터 파장 신호와 상기 모니터 파장 신호의 반사 파장 신호가 일치할 때의 값이고, 인접하는 전류 값 보다 상대적으로 큰 전류 값을 가지고,상기 온도 조절 장치에 의해, 상기 다파장 레이저 다이오드로부터 출력되는 제1 내지 제n 파장 신호가 상기 다파장 레이저 다이오드의 외부 기준 파장 신호들과 일치되는 다파장 레이저 다이오드 모듈
13 13
제12항에 있어서,상기 다파장 레이저 다이오드는상기 제2 광 증폭기와 상기 광 검출기와 상기 파장 선택기의 출력 채널을 서로 연결하는 파워 스플리터를 더 포함하는 다파장 레이저 다이오드 모듈
14 14
제12항에 있어서,상기 파장 선택기는, 실리카(silica) 기판에 형성되고,상기 제1 광 증폭기들과 상기 제2 광 증폭기와 상기 광 검출기는, 인듐 인(InP) 기판에 형성되는 다파장 레이저 다이오드 모듈
15 15
제12항에 있어서,상기 제2 광 증폭기의 광 이득의 중심 파장이 상기 모니터 파장 신호의 중심 파장보다 짧은 경우, 상기 광 검출기에서 검출되는 광 검출 전류의 전류 값은, 상기 다파장 레이저 다이오드의 온도의 증가에 따라 감소하는 다파장 레이저 다이오드 모듈
지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
패밀리 정보가 없습니다

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 DE102009026551 DE 독일 DOCDBFAMILY
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국전자통신연구원 IT원천기술개발 실리콘 기반 초고속 광인터커넥션IC