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폴리실리콘을이용한반도체소자의분리방법

  • 기술번호 : KST2015095429
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음.
Int. CL H01L 21/76 (2006.01) H01L 27/04 (2006.01)
CPC H01L 21/76224(2013.01) H01L 21/76224(2013.01) H01L 21/76224(2013.01) H01L 21/76224(2013.01)
출원번호/일자 1019910012521 (1991.07.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0073295-0000 (1994.05.03)
공개번호/일자 10-1993-0003363 (1993.02.24) 문서열기
공고번호/일자 1019940001254 (19940218) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.07.22)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이형섭 대한민국 대전직할시동구
2 양종수 대한민국 서울특별시송파구
3 김천수 대한민국 대전직할시서구
4 김대용 대한민국 대전직할시중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
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최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.07.22 수리 (Accepted) 1-1-1991-0070645-60
2 특허출원서
Patent Application
1991.07.22 수리 (Accepted) 1-1-1991-0070644-14
3 출원심사청구서
Request for Examination
1991.07.22 수리 (Accepted) 1-1-1991-0070646-16
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1993.08.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0030616-13
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1993.09.23 수리 (Accepted) 1-1-1991-0070648-07
6 의견서
Written Opinion
1993.09.23 수리 (Accepted) 1-1-1991-0070647-51
7 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1994.01.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0030617-58
8 등록사정서
Decision to grant
1994.04.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0030618-04
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

실리콘 기판(1)상에 제1산화막(2)과 질화막(3) 및 제2산화막(4)을 순차로 형성하는 제1공정과, 상기 실리콘 기판(1)까지 소자분리용 산화막을 형성하기 위한 패턴을 형성하는 제2공정과, 채널스톱을 위한 불순물을 주입하는 제3공정과, 상기 실리콘 기판(1) 부분에만 선택적으로 폴리실리콘막(6)을 용착한 후 부분적으로 산화시켜 폴리산화막(7)을 형성하는 제4공정과, 상기 폴리산화막(7)을 상기 질화막(3)까지 에치백(etch back)하는 제5공정 및, 상기 질화막(3)과 상기 제1산화막(2)을 차례로 제거하여 소자분리용 산화물(9)을 형성하는 제6공정을 포함하는 것이 특징인 폴리실리콘을 이용한 반도체 소자의 분리방법

2 2

제1항에 있어서, 소자분리용 산화물을 형성하기 위한 패턴을 형성하는 상기 제2공정이 완료된 후 산화막을 용착하고 에치백하여 상기 패턴 측면에 스페이서(10)를 형성하는 공정을 부가적으로 포함하는 것이 특징인 폴리실리콘을 이용한 반도체 소자의 분리방법

3 3

제1항에 있어서, 채널스톱을 위한 불순물을 주입하는 상기 제3공정이 완료된 후 소자분리를 위한 패턴 상에 산화막을 용착하고, 이어서 에치백을 실시하여 상기 패턴의 측면에 스페이서(10)를 형성하는 공정을 부가적으로 포함하는 것이 특징인 폴리실리콘을 이용한 반도체 소자의 분리방법

4 4

제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 스페이서(10)로서 산화물을 사용하는 것이 특징인 폴리실리콘을 이용한 반도체 소자의 분리방법

5 5

제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 스페이서(10)로서 질화물을 사용하는 것이 특징인 폴리실리콘을 사용한 반도체 소자의 분리방법

6 6

제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 스페이서(10)로서 폴리실리콘을 사용하는 것이 특징인 폴리실리콘을 이용한 반도체 소자의 분리방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.