맞춤기술찾기

이전대상기술

다파장 광검출기 어레이 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015096223
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 파장분할 다중화방식의 광통신시스템에서 사용되는 다파장 어레이 레이저모듈에서 광출력을 검지할 목적으로 탑재되는 모니터 광검출기를 선택적 MOCVD 결정 성장법을 이용하여 간단하게 제작하는 방법에 관한 것이다. 광검출기 어레이는 다파장 어레이 광원에서 각 파장의 세기를 독립적으로 검지하고 각 파장의 흔들림을 광 출력의 변화로써 검지하여 그 결과를 반도체 레이저의 구동부 및 온도 제어부로 궤환시켜 파장 안정화의 기능을 갖게 한다. 발명에서는 각 파장의 출력을 독립적으로 검출할 수 있는 여러 개의 단위 검출기를 단 한 번의 선택적 MOCVD 결정 성장법을 이용하여 단일 칩 집적화할 수 있다. 즉 동일 웨이퍼 평면에 여러 개의 독립 흡수 파장을 갖는 InGaAsP/InGaAsP 다중 양자우물 흡수층이 성장되는 선택적 MOCVD 결정 성장법을 이용하여 여러 파장을 독립적으로 검출할 수 있는 광검출기 어레이를 제작한다.
Int. CL H01S 5/026 (2006.01)
CPC H01S 5/3207(2013.01) H01S 5/3207(2013.01) H01S 5/3207(2013.01)
출원번호/일자 1019990062443 (1999.12.27)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0540891-0000 (2005.12.28)
공개번호/일자 10-2001-0058227 (2001.07.05) 문서열기
공고번호/일자 (20060112) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.11.04)
심사청구항수 7

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 남은수 대한민국 대전광역시서구
2 이중기 대한민국 대전광역시서구
3 장동훈 대한민국 대전광역시유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 전영일 대한민국 광주 북구 첨단과기로***번길**, ***호(오룡동)(특허법인세아 (광주분사무소))

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1999.12.27 수리 (Accepted) 1-1-1999-0181791-85
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
4 출원심사청구서
Request for Examination
2003.11.04 수리 (Accepted) 1-1-2003-0416263-87
5 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2003.11.04 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2003-0416252-85
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.06.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.07.15 수리 (Accepted) 9-1-2005-0041243-12
8 등록결정서
Decision to grant
2005.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0496519-49
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판과; 상기 기판 위에 각기 다른 밴드갭을 가지는 다중 양자우물구조로 형성되어, 각 양자우물별로 각기 다른 파장의 빛을 검출하는 InGaAsP/InGaAsP 양자우물 흡수층과; 상기 InGaAsP/InGaAsP 양자우물 흡수층에서 흡수되는 각기 다른 파장의 빛을 파장별로 격리시키는 반절연격리층을 포함한 것을 특징으로 하는 다파장 광검출기 어레이
2 2
제1항에 있어서, 상기 InGaAsP/InGaAsP 양자우물 흡수층 및 반절연격리층 위에 형성된 무반사코팅층과 전극을 더 포함한 것을 특징으로 하는 다파장 광검출기 어레이
3 3
제1항에 있어서, 상기 InGaAsP/InGaAsP 양자우물 흡수층은 선택적 유기금속기상증착 결정 성장법을 이용하여 성장하는 것을 특징으로 하는 다파장 광검출기 어레이
4 4
기판 위에 버퍼층을 형성하는 제1단계와; 상기 버퍼층 위에 각기 다른 밴드갭을 가지는 다중 양자우물구조의 InGaAsP/InGaAsP 양자우물 흡수층을 형성하는 제2단계와; 상기 InGaAsP/InGaAsP 양자우물 흡수층 위에 p-InP층을 성장하는 제3단계와; 상기 p-InP층과 InGaAsP/InGaAsP 양자우물 흡수층과 버퍼층을 에칭한 후 반절연격리층을 성장하는 제4단계와; 상기 제4단계의 결과물 위에 무반사코팅층과 전극을 형성하는 제5단계를 포함한 것을 특징으로 하는 다파장 광검출기 어레이 제조방법
5 5
제4항에 있어서, 상기 제2단계는, 상기 버퍼층 위에 절연층의 폭이 각기 다른 절연층패턴을 가지는 마스크를 형성한 후 선택적 유기금속기상증착(MOCVD) 결정 성장법을 이용하여 성장하는 것을 특징으로 하는 다파장 광검출기 어레이 제조방법
6 6
제4항에 있어서, 상기 제5단계는, 상기 전극을 상기 p-InP층과 반절연격리층에 걸치게 형성하여 정전용량을 줄여서 동작 속도를 크게 향상시키는 것을 특징으로 하는 다파장 광검출기 어레이 제조방법
7 7
제6항에 있어서, 상기 전극을 리소그라피 방법을 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 다파장 광검출기 어레이 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.