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SDH(Synchronous Digital Hierarchy) 상용칩을 사용하며, 외부의 ATM 교환시스템(12)으로 부터 수신된 ATM 셀의 물리 계층을 종단한 후 시스템 버스(24)로 출력하고, 상기 시스템 버스(24)를 통하여 수신한 ATM 셀을 상기 ATM 교환시스템으로 전송하는 UNI(User Network Interface) 정합 수단(23); 서비스별 ATM 셀 발생 시간 간격 데이터를 이용하여 ATM 셀을 발생하여 상기 시스템 버스(24)와 UNI 정합 수단(23)을 통하여 상기 ATM 교환시스템으로 전송한 후에 상기 ATM 교환시스템을 통하여 루우프로백된 셀 정보를 검증하는 ATM 셀 발생 검증 수단(22); 상기 서비스별 ATM 셀 발생 시간 간격 데이터를 저장하는 저장 수단(13); 및 상기 ATM 셀 발생 및 검증 수단(22)으로 부터 상기 시스템 버스(24)를 통하여 셀 발생 시간 간격 데이터를 읽어와 상기 저장 수단(13)에 저장하고, 이 셀 발생 시간 간격 데이터를 분석하여 셀 폐기율 및 에러율을 운용자에게 출력하는 중앙 처리 장치(CPU) 및 메모리(21)를 포함하는 것을 특징으로 하는 에이티엠(ATM) 교환시스템의 셀 전달계 성능 측정 장치
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제1항에 있어서, 상기 중앙 처리 장치 및 메모리(21)에 RS-232C 인터페이스를 통하여 연결되어 운용자가 ATM 셀 전달계 성능 측정 장치(11)를 시험, 운용, 관리할 수 있도록 하는 개인용 컴퓨터(14)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에이티엠(ATM) 교환시스템의 셀 전달계 성능 측정 장치
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제1항 내지 제2항중 어느 한 항에 있어서, 상기 UNI 정합 수단(23)은, 물리 계층 처리 회로부와 ATM 계층 처리 회로부를 구비하는 것을 특징으로 하는 에이티엠(ATM) 교환시스템의 셀 전달계 성능 측정 장치
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제1항 내지 제2항중 어느 한 항에 있어서, 상기 시스템 버스(24)는, 병렬 버스이며, 데이터 버스, 어드레스 버스 및 컨드롤 신호를 구비하는 것을 특징으로 하는 에이티엠(ATM) 교환시스템의 셀 전달계 성능 측정 장치
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제1항 내지 제2항중 어느 한 항에 있어서, 상기 중앙 처리 장치(CPU) 및 메모리(21)는, 중앙 처리 장치(CPU) 주변 회로, 메모리 회로, 상기 ATM 셀 발생 및 검증 수단(22)과의 데이터 전달을 위한 시스템 버스 인터페이스 회로, 상기 저장 수단(13)과 ATM 셀 성능 측정 장치(11) 사이의 인터페이스를 위한 SCSI 인터페이스 회로 및 상기 ATM 셀 전달계 성능 측정 장치(11)를 시험, 운용, 관리하기 위한 RS-232C 인터페이스 회로를 포함하는 것을 특징하는 에이티엠(ATM) 교환시스템의 셀 전달계 성능 측정 장치
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제5항에 있어서, 상기 중앙 처리 장치(CPU) 주변 회로는, 시스템 클럭 발생 장치, 어드레스와 데이터 버스 인터페이스 및 제어 신호 인터페이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 에이티엠(ATM) 교환시스템의 셀 전달계 성능 측정 장치
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제1항 내지 제2항중 어느 한 항에 있어서, 상기 ATM 셀 발생 및 검증 수단(22)은, 상기 시스템 버스(24)를 통하여 셀 발생 시간 간격 데이터가 입력되면 서비스별로 저장하는 적어도 하나의 셀 발생 시간 간격 데이터 메모리(31,32,33); 셀 발생 간격을 계수하는 적어도 하나의 타이머(34,35,36); 상기 셀 발생 시간 간격 데이터 메모리(31,32,33)로 부터 셀 발생 시간 간격 데이터를 읽어 상기 해당 타이머(34,35,36)를 초기화시킨 후에 타임 아웃되면 셀 송신 시점을 통보하는 적어도 하나의 셀 발생 및 검증 제어 회로(37,38,39); 상기 셀 발생 및 검증 제어 회로(37,38,39)로 부터 셀 송신 시점을 통보받아 상기 시스템 버스(24)를 통하여 상기 UNI 정합 수단(23)으로 셀을 전달하는 적어도 하나의 셀 송신 데이터 회로(40,41,42); 및 상기 UNI 정합 수단(23)의 ATM 계층에서 추출된 상기 ATM 교환시스템(12)으로 부터 수신된 ATM 셀을 상기 시스템 버스(24)를 통하여 입력받아 상기 셀 발생 및 검증 제어 회로(37,38,39)로 전송하는 적어도 하나의 셀 수신 데이터 회로(43,44,45)를 포함하는 것을 특징으로 하는 에이티엠(ATM) 교환시스템의 셀 전달계 성능 측정 장치
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제7항에 있어서, 상기 셀 송신 데이터 회로(40,41,42)로 부터 상기 UNI 정합 수단(23)로 전달되는 셀의 데이터 부분은, 셀 에러율을 측정하기 위하여 AAL(ATM Adaptation Layer) 계층에서 사용되는 CRC(Cyclic Redundancy Check) 기능을 적용하고, 셀 지연 시간 측정하기 위하여 상기 타이머(34,35,36)값을 셀 데이터 부분에 첨가하여 구성하는 것을 특징으로 하는 에이티엠(ATM) 교환시스템의 셀 전달계 성능 측정 장치
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