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기판 상에 버퍼층, 활성층 및 보호층을 형성한 후 상기 보호층 상에 스트라이프 형태를 가지는 다수의 제 1 패턴을 형성하는 단계, 상기 제 1 패턴을 마스크로 이용하여 상기 보호층, 활성층 및 버퍼층을 패터닝하는 단계, 상기 제 1 패턴을 제거한 후 전체 상부면에 클래드층 및 오믹 접촉층을 형성하는 단계, 광증폭기 영역 및 레이저 다이오드 영역의 상기 오믹 접촉층 상에 각각 스트라이프 형태의 다수의 제 2 패턴을 형성하는 단계, 상기 제 2 패턴을 마스크로 이용한 이온주입 공정으로 노출된 부분의 상기 오믹 접촉층과 상기 클래드층에 전류차단층을 형성하는 단계, 상기 제 2 패턴을 제거한 후 이온이 주입된 부분의 상기 오믹 접촉층을 제거하고, 이온이 주입되지 않은 부분의 상기 오믹 접촉층이 노출되도록 산화물 패턴을 형성하는 단계, 상기 광증폭기 영역과 상기 레이저 다이오드 영역의 노출된 상기 오믹 접촉층 상에 각각 제 1 금속전극을 형성하는 단계, 상기 기판의 저면에 제 2 금속전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 활성층은 제 1 SCH층, 양자우물층 및 제 2 SCH층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 2 항에 있어서, 상기 양자우물층은 InGaAsP 스트레인드 우물층들 사이에 언스트레인드 InGaAsP 베리어층이 삽입된 다층 구조로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 보호층은 p-InP층으로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 1 패턴은 상기 광증폭기의 광출력면에 대하여 수직 또는 소정 각도의 기울기를 갖도록 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 5 항에 있어서, 상기 소정 각도는 5 내지 10도인 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 1 패턴은 산화물로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 클래드층은 두께와 도핑 농도가 다른 다수의 p-InP층으로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 2 패턴은 감광막으로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 이온주입 공정시 상기 광증폭기 영역과 상기 레이저 다이오드 영역 경계부의 상기 오믹 접촉층과 상기 클래드층에 전류차단층이 형성되도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 2 금속전극을 형성하기 전에 상기 기판의 저면을 소정 두께 식각하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 2 금속전극을 형성한 후 상기 광증폭기의 광출력면에 무반사막을 코팅하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 2 금속전극을 형성한 후 상기 광증폭기의 광출력면에 무반사막을 코팅하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 광소자의 제작 방법
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