| 1 |
1
전자기기나 반도체 칩(chip)에서 발생되는 전자기파를 입사받아 투과시키는 투과층;상기 투과층 상에 배치되며, 상기 투과층에서 투과된 상기 전자기파의 세기에 따라 색상이 가변되는 감별층; 및상기 감별층 상에 배치되며, 상기 감별층을 보호하고 상기 감별층의 색상을 확인하는 투명층;을 포함하는 전자기파 감별 부재
|
| 2 |
2
제 1 항에 있어서,상기 투과층은,상기 전자기파를 투과하는 폴리수지, 종이 및 투광성 재질 중 적어도 하나를 포함하는 전자기파 감별 부재
|
| 3 |
3
제 2 항에 있어서,상기 투과층의 일면은,상기 전자기기 및 상기 반도체 칩(chip) 중 적어도 하나의 표면에 접촉되도록 표면처리된 전자기파 감별부재
|
| 4 |
4
제 1 항에 있어서,상기 감별층은,상기 전자기파의 세기에 비례하여 에너지를 변환하고 축적하는 합성입자로 도포 된 흡수층; 및상기 흡수층의 축적된 에너지량에 반응하여 색상이 가변되는 안료입자로 도포 된 안료층;을 포함하는 전자기파 감별 부재
|
| 5 |
5
제 1 항에 있어서,상기 감별층은,상기 전자기파의 세기에 대응하여 에너지를 변환하고 축적하는 합성입자 및 축적 에너지량에 반응하여 색상이 가변되는 안료입자가 서로 혼합(mixing)된 전자기파 감별부재
|
| 6 |
6
제 1 항에 있어서,전자기파 감별부재에 설정된 특정 주파수 신호세기를 입사할 시 초기의 설정 색상으로 돌아가고 다시 전자기파의 측정을 초기화할 수 있는 것을 특징으로 하는 전자기파 감별 부재
|
| 7 |
7
전자기기나 반도체 칩(chip)에서 발생되는 전자기파를 입사받아 투과시키는 투과층, 상기 투과층 상에 배치되며, 상기 투과층에서 투과된 상기 전자기파의 세기에 따라 색상이 가변되는 감별층 및 상기 감별층 상에 배치되며, 상기 감별층을 보호하고 상기 감별층의 색상을 확인하는 투명층을 포함하는 전자기파 감별 부재;상기 전자기파 감별 부재가 상기 전자기기나 반도체 칩(chip)이 거치된 거치대의 상부에 배치되고 상기 전자기파 감별 부재 위에 배치되어 상기 전자기파 감별 부재의 이미지 정보를 찍는 카메라;상기 전자기기나 반도체 칩에 전원을 공급하며, 상기 카메라 및 상기 거치대의 상하좌우 이동을 제어하는 컨트롤러; 및 상기 카메라와 컨트롤러를 연동시키며 획득한 이미지 정보를 분석하는 측정 컴퓨터를 포함하는 측정 셋업 장치
|
| 8 |
8
제 7 항에 있어서,상기 컨트롤러는,상기 전자기기나 반도체 칩(chip)에 설정된 기준시간 동안 전원을 공급한 후, 전원을 차단하고 상기 카메라를 제어하여 상기 전자기파 감별 부재의 이미지를 획득하는 측정 셋업 장치
|
| 9 |
9
제 7 항에 있어서,상기 측정 컴퓨터는,상기 컨트롤러에서 획득한 이미지를 넘겨받아 이미지를 처리하고 설정된 기준 색상 대조표와 비교하여 산출된 전자기파의 세기에 대응하는 다양한 데이터값을 분석하고 디스플레이하는 것을 특징으로 하는 측정 셋업 장치
|
