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광섬유 브래그 격자 센서 장치에 있어서, 광대역 스펙트럼 폭을 갖는 광신호를 발생하기 위한 광신호 발생 수단; 상기 광신호를 입사받아 설정 파라미터에 따라 광신호를 반사하는 광섬유 브래그 격자; 상기 광신호 발생 수단의 광신호를 상기 광섬유 브래그 격자로 전달하고, 상기 광섬유 브래그 격자의 반사광을 분기하기 위한 광분기 수단; 상기 광분기 수단에서 분기된 광신호를 분배하기 위한 광분배 수단; 상기 광분배 수단의 일출력을 파장에 관계없이 전기적 신호로 변환하여 검출하기 위한 광검출 수단; 상기 광분배 수단의 타출력을 파장에 따라 전기적 신호로 변환하여 검출하기 위한 파장선택형 광검출 수단; 및 상기 광검출 수단 및 상기 파장선택형 광검출 수단으로부터의 전기적 신호를 처리하여 상기 광섬유 브래그 격자에 인가된 파라미터 양을 측정하기 위한 신호 처리 수단 을 포함하는 광섬유 브래그 격자 센서 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 파장선택형 광검출 수단은, 파장에 따라 응답 특성이 선형적으로 변화하는 파장선택형 광검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 브래그 격자 센서 장치
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제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 신호 처리 수단은, 상기 광검출 수단 및 상기 파장선택형 광검출 수단으로부터의 전기적 신호를 증폭하기 위한 증폭 수단; 상기 증폭 수단에서 증폭된 신호를 차동 증폭하기 위한 차동 증폭 수단; 상기 차동 증폭 수단의 출력을 상기 광검출 수단의 출력으로 나누어 정규화(normalization)하기 위한 제산 수단; 상기 제산 수단에서 정규화(Normalization)된 아날로그 값을 디지탈 값으로 변환하기 위한 아날로그/디지탈 변환 수단; 미리 보정된 값을 파라미터 값을 저장하고 있는 저장 수단; 및 상기 아날로그/디지탈 변환 수단의 출력값과 상기 저장 수단에 저장되어 있는 값과 비교하여 상기 광섬유 브래그 격자에 인가된 파라미터 양을 측정하기 위한 중앙 처리 수단 을 포함하는 광섬유 브래그 격자 센서 장치
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제 3 항에 있어서, 상기 광분기 수단은, 광커플러를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 브래그 격자 센서 장치
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제 3 항에 있어서, 상기 광분기 수단은, 광서큘레이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 브래그 격자 센서 장치
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광섬유 브래그 격자 센서 장치에 적용되는 광섬유 브래그 격자 센싱 방법에 있어서, 입사 광신호가 광섬유 브래그 격자의 설정 파라미터에 따라 반사된 광신호를 분기하는 제 1 단계; 상기 분기된 광신호를 분배하는 제 2 단계; 상기 분배된 일측의 광신호를, 파장에 관계없이 일정한 응답 특성에 따라 전기적인 신호로 변환하고, 상기 분배된 타측의 광신호를, 파장에 따라 변화하는 선형적인 응답 특성에 따라 전기적인 신호로 변환하는 제 3 단계; 상기 전기적 신호로 변환된 신호들을 증폭한 후에, 다시 차동 증폭하는 제 4 단계; 상기 차동 증폭된 신호를, 상기 일정한 응답 특성에 따라 변환된 전기적인 신호로 나누어 정규화(normalization)하는 제 5 단계; 및 상기 정규화(Normalization)된 아날로그 값을 디지탈 값으로 변환한 후에 미리 보정되어 저장되어 있는 값과 비교하여 상기 광섬유 브래그 격자에 인가된 파라미터 양을 측정하는 제 6 단계 를 포함하는 광섬유 브래그 격자 센싱 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 제 3 단계의 선형적인 응답 특성에 따라 전기적인 신호로 변환하는 과정은, 파장선택형 광검출기를 이용하여 광신호를 전기적인 신호로 변환하여 검출하는 것을 특징으로 하는 광섬유 브래그 격자 센싱 방법
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광신호 파장 측정 장치에 있어서, 측정하고자 하는 광신호를 입사받아 분배하기 위한 광분배 수단; 상기 광분배 수단의 일출력을 파장에 관계없이 전기적 신호로 변환하여 검출하기 위한 광검출 수단; 상기 광분배 수단의 타출력을 파장에 따라 전기적 신호로 변환하여 검출하기 위한 파장선택형 광검출 수단; 및 상기 광검출 수단 및 상기 파장선택형 광검출 수단으로부터의 전기적 신호를 처리하여 상기 입사 광신호의 파장을 측정하기 위한 신호 처리 수단 을 포함하는 광신호 파장 측정 장치
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제 8 항에 있어서, 상기 파장선택형 광검출 수단은, 파장에 따라 응답 특성이 선형적으로 변화하는 파장선택형 광검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광신호 파장 측정 장치
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제 8 항 또는 제 9 항에 있어서, 상기 신호 처리 수단은, 상기 광검출 수단 및 상기 파장선택형 광검출 수단으로부터의 전기적 신호를 증폭하기 위한 증폭 수단; 상기 증폭 수단에서 증폭된 신호를 차동 증폭하기 위한 차동 증폭 수단; 상기 차동 증폭 수단의 출력을 상기 광검출 수단의 출력으로 나누어 정규화(normalization)하기 위한 제산 수단; 상기 제산 수단에서 정규화(Normalization)된 아날로그 값을 디지탈 값으로 변환하기 위한 아날로그/디지탈 변환 수단; 미리 보정된 값을 파라미터 값을 저장하고 있는 저장 수단; 및 상기 아날로그/디지탈 변환 수단의 출력값과 상기 저장 수단에 저장되어 있는 값과 비교하여 상기 입사 광신호의 파장을 측정하기 위한 중앙 처리 수단 을 포함하는 광신호 파장 측정 장치
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광신호 파장 측정 장치에 적용되는 광신호 파장 측정 방법에 있어서, 측정하고자 하는 입사 광신호를 분배하는 제 1 단계; 상기 분배된 일측의 광신호를, 파장에 관계없이 일정한 응답 특성에 따라 전기적인 신호로 변환하고, 상기 분배된 타측의 광신호를, 파장에 따라 변화하는 선형적인 응답 특성에 따라 전기적인 신호로 변환하는 제 2 단계; 상기 전기적 신호로 변환된 신호들을 증폭한 후에, 다시 차동 증폭하는 제 3 단계; 상기 차동 증폭된 신호를, 상기 일정한 응답 특성에 따라 변환된 전기적인 신호로 나누어 정규화(normalization)하는 제 4 단계; 및 상기 정규화(Normalization)된 아날로그 값을 디지탈 값으로 변환한 후에 미리 보정되어 저장되어 있는 값과 비교하여 상기 입사 광신호의 파장을 측정하는 제 5 단계 를 포함하는 광신호 파장 측정 방법
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제 11 항에 있어서, 상기 제 2 단계의 선형적인 응답 특성에 따라 전기적인 신호로 변환하는 과정은, 파장선택형 광검출기를 이용하여 광신호를 전기적인 신호로 변환하여 검출하는 것을 특징으로 하는 광신호 파장 측정 방법
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