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회전체의 회전 특성 측정 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015089555
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 회전체의 회전율, 회전축, 회전각과 같은 회전 특성을 측정하기 위한 방법 및 장치가 개시된다. 회전 특성 측정 방법은, 회전체의 영상으로부터 회전체 영역을 추출하는 단계, 추출한 회전체 영역의 명도에 기초하여 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 단계 및 추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 단계를 포함한다. 따라서, 조명의 조도, 카메라의 감도 및 카메라의 노출 시간에 따른 회전체 표면 영역의 명도 값 변화에 관계없이 회전체의 회전율을 정확하게 측정할 수 있다.
Int. CL A63B 69/36 (2006.01) G01B 11/00 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01)
CPC G06T 7/246(2013.01) G06T 7/246(2013.01) G06T 7/246(2013.01) G06T 7/246(2013.01)
출원번호/일자 1020110124582 (2011.11.25)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0058526 (2013.06.04) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.09.21)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종성 대한민국 대전광역시 서구
2 김명규 대한민국 대전광역시 유성구
3 백성민 대한민국 대전광역시 유성구
4 정일권 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.11.25 수리 (Accepted) 1-1-2011-0938351-72
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.02.14 수리 (Accepted) 1-1-2012-0116402-90
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2015.09.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-0914518-97
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.06.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0450086-95
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.08.19 수리 (Accepted) 1-1-2016-0805952-00
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.08.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0805953-45
8 등록결정서
Decision to grant
2016.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0934714-89
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번호 청구항
1 1
회전체의 영상으로부터 회전체 영역을 추출하는 단계;추출한 회전체 영역에 포함된 각 픽셀의 명도 중 최소 명도와 최대 명도를 기반으로 상기 회전체 영역의 명도 범위를 정규화하는 단계; 정규화한 회전체 영역의 명도를 대비한 결과를 기반으로 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 단계; 및추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 단계를 포함하되, 상기 정규화한 회전체 영역의 명도를 대비한 결과를 기반으로 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 단계는, 상기 정규화한 회전체 영역에 대한 적분 영상을 반영하여 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 것을 특징으로 하는, 회전 특성 측정 방법
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 정규화한 회전체 영역의 명도를 대비한 결과를 기반으로 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 단계는,상기 정규화한 회전체 영역 내의 소정 부분에 포함된 픽셀들 각각의 명도 값을 더하여 적분 영상을 생성하는 단계; 및생성된 적분 영상을 이용하여 정규화한 회전체 영역에 포함된 픽셀의 명도 대비값 및 픽셀의 명도 평균값을 산출하고, 산출한 픽셀의 명도 대비값 및 픽셀의 명도 평균값을 기반으로 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 단계를 포함하는, 회전 특성 측정 방법
3 3
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 회전체의 영상으로부터 회전체 영역을 추출하는 단계는,상기 회전체의 영상으로부터 회전체 영역에 대한 픽셀 클러스터(cluster)를 추출하는 단계;추출한 픽셀 클러스터를 기반으로 상기 회전체의 중심점 및 반경을 추정하는 단계; 및추정한 회전체의 중심점 및 반경을 기반으로 상기 회전체 영역을 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 회전 특성 측정 방법
4 4
청구항 3에 있어서, 상기 추출한 픽셀 클러스터를 기반으로 상기 회전체의 중심점 및 반경을 추정하는 단계는,허프 변환(hough transform) 기반의 원형 피팅 기법(circle fitting)을 이용하여 상기 회전체의 중심점 및 반경을 추정하는 것을 특징으로 하는 회전 특성 측정 방법
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 추출한 회전체 영역에 대한 픽셀의 최소 명도와 최대 명도를 기반으로 상기 회전체 영역의 명도 범위를 정규화하는 단계는,상기 픽셀의 최소 명도와 최대 명도를 기준으로 상기 추출한 회전체 영역에 대한 픽셀이 0 이상 255 이하의 명도 범위를 가지도록 상기 회전체 영역의 명도 범위를 정규화하는 것을 특징으로 하는 회전 특성 측정 방법
6 6
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 정규화한 회전체 영역의 명도를 대비한 결과를 기반으로 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 단계는,픽셀의 명도 대비에 따라 결과 값이 산출되는 오프 센터 셀 필터링을 사용하여 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 것을 특징으로 하는, 회전 특성 측정 방법
7 7
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 단계는,상기 추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 회전각의 범위를 추정하는 단계;추정한 회전각의 범위에 포함되는 임의의 회전각을 기반으로 회전 행렬을 산출하는 단계;추정한 회전각의 범위 내에서, 회전 행렬을 기반으로 비용 함수의 값이 최소인 회전각을 산출하는 단계; 및산출한 회전각을 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 회전 특성 측정 방법
8 8
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 단계는,상기 회전체의 탑스핀(top spin), 백스핀(back spin), 사이드스핀(side spin), 라이플스핀(rifle spin), 회전축 및 회전각 중 적어도 하나를 포함하는 회전 특성을 획득하는 것을 특징으로 하는 회전 특성 측정 방법
9 9
촬영된 회전체의 영상으로부터 상기 회전체의 중심점 및 반경을 추정하고, 추정한 중심점 및 반경을 기반으로 회전체 영역을 추출하는 영역 추출부;추출한 회전체 영역에 대한 픽셀의 최소 명도와 최대 명도를 기반으로 상기 회전체 영역의 명도 범위를 정규화하는 정규화부;정규화한 회전체 영역의 명도를 대비한 결과를 기반으로 하고 상기 정규화한 회전체 영역에 대한 적분 영상을 반영하여, 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 패턴 추출부; 및추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 측정부를 포함하는 회전 특성 측정 장치
10 10
청구항 9에 있어서, 상기 패턴 추출부는, 상기 정규화한 회전체 영역 내의 소정 부분에 포함된 픽셀들 각각의 명도 값을 더하여 적분 영상을 생성하고, 생성한 적분 영상을 이용하여 정규화한 회전체 영역에 포함된 픽셀의 명도 대비값 및 픽셀의 명도 평균값을 산출하고, 산출한 픽셀의 명도 대비값 및 픽셀의 명도 평균값을 기반으로 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 것을 특징으로 하는, 회전 특성 측정 장치
11 11
청구항 9 또는 청구항 10에 있어서, 상기 영역 추출부는,회전체의 영상으로부터 회전체 영역에 대한 픽셀 클러스터(cluster)를 추출하고, 추출한 픽셀 클러스터를 기반으로 상기 회전체의 중심점 및 반경을 추정하고, 추정한 회전체의 중심점 및 반경을 기반으로 상기 회전체 영역을 추출하는 것을 특징으로 하는 회전 특성 측정 장치
12 12
청구항 9 또는 청구항 10에 있어서, 상기 패턴 추출부는,픽셀의 명도 대비에 따라 결과 값이 산출되는 오프 센터 셀 필터링을 사용하여 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 것을 특징으로 하는, 회전 특성 측정 장치
13 13
청구항 9 또는 청구항 10에 있어서, 상기 측정부는,추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 회전각의 범위를 추정하고, 추정한 회전각의 범위에 포함되는 임의의 회전각을 기반으로 회전 행렬을 산출하고, 추정한 회전각의 범위 내에서, 회전 행렬을 기반으로 비용 함수의 값이 최소인 회전각을 산출하고, 산출한 회전각을 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 것을 특징으로 하는 회전 특성 측정 장치
14 14
회전체에 대한 복수의 회전체 영상을 획득하는 촬영부; 및획득한 회전체의 영상으로부터 상기 회전체의 중심점 및 반경을 추정하고, 추정한 중심점 및 반경을 기반으로 회전체 영역을 추출하고, 추출한 회전체 영역에 대한 픽셀의 최소 명도와 최대 명도를 기반으로 상기 회전체 영역의 명도 범위를 정규화며, 정규화한 회전체 영역의 명도를 대비한 결과를 기반으로 하되 상기 정규화한 회전체 영역에 대한 적분 영상을 반영하여 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하고, 추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 회전 특성 측정 장치를 포함하는 회전 특성 측정 시스템
15 15
청구항 14에 있어서, 상기 촬영부는 일정한 시간 간격으로 상기 복수의 회전체 영상을 획득하는 것을 특징으로 하는 회전 특성 측정 시스템
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1 문화체육관광부 한국전자통신연구원 2010년도 콘텐츠산업기술지원사업(지정공모) 스포츠 아케이드 게임을 위한 회전궤적인식 기술