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공초점 자가 간섭 현미경

  • 기술번호 : KST2015112116
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 공초점 주사 현미경에서 비축 물체에서 반사된 빛을 복굴절 파장판을 이용하여 자가 간섭시켜 측정되는 빛의 강도를 비축 물체가 초점에서 벗어남에 따라 급격히 떨어뜨려 수평 방향 분해능을 향상시키는 공초점 자가 간섭 현미경에 관한 것이다. 현미경, 파장판, 편광판, 대물렌즈, 집광렌즈, 빔 편향장치, 복굴절, 공초점
Int. CL G02B 21/00 (2006.01)
CPC G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01)
출원번호/일자 1020030084339 (2003.11.26)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-0533324-0000 (2005.11.28)
공개번호/일자 10-2005-0050735 (2005.06.01) 문서열기
공고번호/일자 (20051206) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.11.26)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권대갑 대한민국 대전광역시유성구
2 강동균 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 공지예외적용주장대상(신규성,출원시의특례)증명서류제출서
Submission of Document Verifying Exclusion from Being Publically Known (Novelty, Special Provisions for Application)		 2003.11.26 수리 (Accepted) 1-1-2003-5224280-99
2 특허출원서
Patent Application		 2003.11.26 수리 (Accepted) 1-1-2003-0447290-25
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2004.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2004-0001933-29
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2004.03.19 수리 (Accepted) 4-1-2004-0012166-74
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2005.06.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0284388-93
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2005.08.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0448401-55
7 의견서
Written Opinion		 2005.08.16 수리 (Accepted) 1-1-2005-0448394-12
8 등록결정서
Decision to grant		 2005.09.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0452098-09
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
조사빛을 제공하는 광원과;상기 광원에서 나온 빛을 집광하여 시편에 조사하는 대물 렌즈와;상기 시편에서 반사되어 상기 대물렌즈를 통과하여 나오는 평행광을 각기 다른 광경로를 거치도록 굴절시킨 후 두 가지 편광방향을 발생시키는 복굴절 파장판과;상기 복굴절 파장판을 통과한 두 가지 편광을 자가 간섭시키기 위한 편광판과;상기 편광판을 통과한 빛을 집광시키는 집광렌즈와;상기 집광렌즈에 의해 집광된 빛의 초평면에 위치된 바늘구멍개구와;상기 바늘구멍개구를 통과한 빛을 측정하는 광전검출기로 구성된 것을 특징으로 하는 공초점 자가 간섭 현미경
2 2
제 1항에 있어서, 상기 대물 렌즈와 상기 복굴절 파장판 사이에 망원경광학계를 더 구비한 것을 특징으로 하는 공초점 자가 간섭 현미경
3 3
제 1항에 있어서, 상기 복굴절 파장판이 광축에 수직이며, 서로 수직인 두 축에 대하여 회전된 두 개의 복굴절 파장판으로 구성된 것을 특징으로 하는 공초점 자가 간섭 현미경
4 4
제 1항에 있어서, 상기 대물 렌즈와 상기 복굴절 파장판 사이에 빔 편향 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 공초점 자가 간섭 현미경
5 5
제 1항에 있어서, 상기 광원과 대물렌즈 사이에 편광판 및 1/4파장판이 구비된 것을 특징으로 하는 공초점 자가 간섭 현미경
6 5
제 1항에 있어서, 상기 광원과 대물렌즈 사이에 편광판 및 1/4파장판이 구비된 것을 특징으로 하는 공초점 자가 간섭 현미경
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.