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전기광학 변조기를 이용한 공간적 위상 변조기 및 이를 이용한 공초점 현미경

  • 기술번호 : KST2015115485
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전기광학 변조기를 이용한 공간적 위상 변조기 및 이를 이용한 공초점 현미경에 관한 것으로, 레이저 광을 출사하는 광원, 상기 광원에서 출사되는 레이저 광을 평행광으로 만드는 콜리메이터, 상기 콜리메이터에서 출사되는 선형 편광광에서 p파 광을 위상 변조(phaser modulation) 시키고, s파는 광주파수 편이가 일어나지 않도록 변조시키는 전기광학 변조기, s파 편광판과 p파 편광판이 일체로 구성되어 p파만을 위상 변조를 일으키는 편광판 및 한쪽만 반파장판(half-wave plate)로 구성되어 최종빔 출력을 편향방향은 동일하게 하고, p파만 위상변조를 일어나도록 빔을 출력하는 파장판을 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G02B 21/00 (2006.01) G01N 21/62 (2006.01) G01N 21/17 (2006.01)
CPC G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01) G02B 21/0032(2013.01)
출원번호/일자 1020120003933 (2012.01.12)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1329474-0000 (2013.11.07)
공개번호/일자 10-2013-0083258 (2013.07.22) 문서열기
공고번호/일자 (20131113) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.01.12)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권대갑 대한민국 대전광역시 유성구
2 안진우 대한민국 대전 유성구
3 천완희 대한민국 충청북도 청주시 상당구
4 김영덕 대한민국 대전 유성구
5 도덕호 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인대한 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 부봉빌딩 *층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.01.12 수리 (Accepted) 1-1-2012-0031836-75
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2012.12.18 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2013.01.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0003173-00
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.03.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0215605-87
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2013-0477566-14
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.05.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0477568-16
8 등록결정서
Decision to grant		 2013.10.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0726518-54
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
레이저 광을 출사하는 광원;상기 광원에서 출사되는 레이저 광을 평행광으로 만드는 콜리메이터;상기 콜리메이터에서 출사되는 선형 편광광에서 p파 광을 위상 변조(phaser modulation) 시키고, s파는 광주파수 편이가 일어나지 않도록 변조시키는 전기광학 변조기;s파 편광판과 p파 편광판이 일체로 구성되어 p파만을 위상 변조를 일으키는 편광판; 및한쪽만 반파장판(half-wave plate)로 구성되어 최종빔 출력을 편향방향은 동일하게 하고, p파만 위상변조를 일어나도록 빔을 출력하는 파장판;을 포함하는 전기광학 변조기를 이용한 공간적 위상 변조기
2 2
제 1항에 있어서, 상기 편광판은,세로축 중앙을 기준으로 양쪽으로 s파 편광판(polarizer)과 p파 편광판이 구성되는 전기광학 변조기를 이용한 공간적 위상 변조기
3 3
제 1항에 있어서,상기 콜리메이터를 통과한 평행빔은 45°각도로 상기 전기광학 변조기에 입사되는 것을 특징으로 하는 전기광학 변조기를 이용한 공간적 위상 변조기
4 4
삭제
5 5
레이저 광을 출사하는 광원, 상기 광원에서 출사되는 레이저 광을 평행광으로 만드는 콜리메이터, 상기 콜리메이터에서 출사되는 선형 편광광에서 p파 광을 위상 변조(phaser modulation) 시키고, s파는 광주파수 편이가 일어나지 않도록 변조시키는 전기광학 변조기, s파 편광판과 p파 편광판이 일체로 구성되어 p파만을 위상 변조를 일으키는 편광판 및 한쪽만 반파장판(half-wave plate)로 구성되어 최종빔 출력을 편향방향은 동일하게 하고, p파만 위상변조를 일어나도록 빔을 출력하는 파장판을 포함하는 구성되는 광원 생성부;상기 광원 생성부에 출력되는 광을 분할하는 빔스플리터;상기 빔스플리터에서 반사된 광을 집광시키는 집광렌즈;상기 집광렌즈를 투과한 광을 검출하는 광검출기;상기 빔스플리터를 투과한 광에서 임의의 파장값은 투과시키고 나머지 광은 반사시키는 이색거울(dichroic mirror);상기 이색거울을 통과한 광을 스캐닝하여 반사시켜 스캔렌즈와 튜브렌즈를 각각 통과한 후 통과된 광을 측정 대상물에 조사시키는 대물렌즈;상기 측정 대상물에서 반사된 형광 광은 상기 이색거울을 통해 반사된 후 반사된 형광 광을 검출하는 검출부;상기 광검출기에서 검출된 기준신호광과 상기 검출부에서 검출된 광에서 동일한 주파수를 가지는 신호만을 검출하는 락인증폭기(lock-in amplifier);를 포함하는 전기광학 변조기를 이용한 공간적 위상 변조기를 사용하는 공초점 현미경
6 6
제 5항에 있어서, 상기 검출부는,상기 이색거울에서 반사된 광을 집광시키는 집광렌즈;상기 집광렌즈를 투과한 광의 초점광을 투과시키는 핀홀; 및상기 핀홀을 관통한 광을 검출하는 광전자 증배기(photo multiplier tube);를 포함하는 전기광학 변조기를 이용한 공간적 위상 변조기를 사용하는 공초점 현미경
7 7
삭제
8 8
삭제
9 9
제 5항에 있어서, 상기 광원은,편광 유지형 광섬유(PM fiber)를 이용하여 635nm 다이오드 레이저를 통해 구성되는 전기광학 변조기를 이용한 공간적 위상 변조기를 사용하는 공초점 현미경
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.