맞춤기술찾기

이전대상기술

휨 센서

  • 기술번호 : KST2015113911
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 휨 센서는 휨 센서 본체(bend sensor body); 및 상기 휨 센서 본체의 저항값의 변화로부터 상기 휨 센서 본체의 휨 정도를 판단할 수 있는 판단 회로를 포함하며, 상기 휨 센서 본체는, 일정한 간격으로 배치된 복수의 제1접속 단자들을 포함하는 가요성을 갖는 상판; 및 각각이 상기 복수의 제1접속 단자들 각각에 접촉될 수 있는 위치에 구현된 복수의 제2접속 단자들을 포함하는 가요성을 갖는 하판을 포함하며, 상기 복수의 제1접속 단자들 중에서 어느 하나의 접속 단자는 상기 복수의 제2접속 단자들 중에서 어느 하나의 접속 단자에 접속되어 고정되고, 상기 휨 센서 본체가 휘지 않았을 때 상기 복수의 제1접속 단자들의 나머지 접속 단자들 각각과 상기 복수의 제2접속 단자들의 나머지 접속 단자들 각각은 서로 접촉되고, 상기 휨 센서 본체가 휠 때 상기 복수의 제1접속 단자들의 나머지 접속 단자들 중에서 적어도 하나는 상기 복수의 제2접속 단자들의 나머지 접속 단자들 중에서 적어도 하나와 접촉되지 않는다.
Int. CL G01N 27/04 (2006.01) G01B 7/16 (2006.01)
CPC G01B 7/20(2013.01) G01B 7/20(2013.01) G01B 7/20(2013.01) G01B 7/20(2013.01)
출원번호/일자 1020100012128 (2010.02.09)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1179625-0000 (2012.08.29)
공개번호/일자 10-2011-0092613 (2011.08.18) 문서열기
공고번호/일자 (20120905) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.03.11)
심사청구항수 12

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 정성관 대한민국 대전광역시 유성구
2 김상식 대한민국 대전광역시 대덕구
3 이원겸 대한민국 경기도 고양시 일산서구
4 신재규 대한민국 대전광역시 유성구
5 장진혁 대한민국 대전광역시 서구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한지희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *** 한국지식재산센터 *층 (공익변리사 특허상담센터)(한국지식재산보호원)
2 권영규 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *** (역삼동, 재승빌딩 *층)(프라임특허법률사무소)
3 윤재석 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 **(서초동) *층(정석국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0088369-09
2 보정요구서
Request for Amendment
2010.02.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0016455-00
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2010.03.11 수리 (Accepted) 1-1-2010-0153303-11
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.03.11 수리 (Accepted) 1-1-2010-0153269-45
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2010-0862275-50
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.06.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.07.13 수리 (Accepted) 9-1-2011-0057678-74
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.01.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0014927-24
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.03.08 수리 (Accepted) 1-1-2012-0189916-34
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.03.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0189917-80
11 등록결정서
Decision to grant
2012.08.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0482607-28
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
휨 센서 본체(bend sensor body); 및상기 휨 센서 본체의 저항값의 변화로부터 상기 휨 센서 본체의 휨 정도를 판단할 수 있는 판단 회로를 포함하며,상기 휨 센서 본체는,일정한 간격으로 배치된 복수의 제1접속 단자들을 포함하는 가요성을 갖는 상판; 및각각이 상기 복수의 제1접속 단자들 각각에 접촉될 수 있는 위치에 구현된 복수의 제2접속 단자들을 포함하는 가요성을 갖는 하판을 포함하며,상기 복수의 제1접속 단자들 중에서 어느 하나의 접속 단자는 상기 복수의 제2접속 단자들 중에서 어느 하나의 접속 단자에 접속되어 고정되고,상기 휨 센서 본체가 휘지 않았을 때 상기 복수의 제1접속 단자들의 나머지 접속 단자들 각각과 상기 복수의 제2접속 단자들의 나머지 접속 단자들 각각은 서로 접촉되고, 상기 휨 센서 본체가 휠 때 상기 복수의 제1접속 단자들의 나머지 접속 단자들 중에서 적어도 하나는 상기 복수의 제2접속 단자들의 나머지 접속 단자들 중에서 적어도 하나와 접촉되지 않는 휨 센서
2 2
제1항에 있어서, 상기 복수의 제1접속 단자들 중에서 마지막 단자와 상기 복수의 제2접속 단자들 각각은 도체인 휨 센서
3 3
제2항에 있어서, 상기 마지막 단자와 상기 판단 회로의 입력 단자는 전기적으로 연결되며, 상기 복수의 제2접속 단자들 각각은 서로 전기적으로 연결되는 휨 센서
4 4
제1항에 있어서, 상기 복수의 제1접속 단자들 중에서 어느 하나의 접속 단자와 상기 복수의 제2접속 단자들 중에서 어느 하나의 접속 단자 각각은 첫 번째 접속 단자인 휨 센서
5 5
제1항에 있어서, 상기 복수의 제2접속 단자들 중에서 인접하는 두 개의 단자들 사이의 저항값은 서로 동일한 휨 센서
6 6
일정한 간격으로 배치된 복수의 제1 전도성 접속 단자들을 포함하는 가요성을 갖는 상판과각각이 상기 복수의 제1 전도성 접속 단자들 각각에 접촉될 수 있는 위치에 구현된 복수의 제2 전도성 접속 단자들을 포함하는 가요성을 갖는 하판을 포함하는 휨 센서 본체를 포함하며,상기 복수의 제1 전도성 접속 단자들 중에서 어느 하나의 단자는 상기 복수의 제2 전도성 접속 단자들 중에서 어느 하나의 접속 단자에 접속되어 고정되고,상기 상판과 상기 하판이 휘지 않았을 때 상기 복수의 제1접속 단자들의 나머지 접속 단자들 각각과 상기 복수의 제2접속 단자들의 나머지 접속 단자들 각각은 서로 접촉되고, 상기 상판과 상기 하판이 휠 때 상기 복수의 제1접속 단자들의 나머지 접속 단자들 중에서 적어도 하나는 상기 복수의 제2접속 단자들의 나머지 접속 단자들 중에서 적어도 하나와 접촉되지 않는 휨 센서
7 7
제6항에 있어서, 상기 휨 센서는,상기 복수의 제1접속 단자들 각각으로 일정한 전압 레벨을 가지는 전압 신호를 공급하기 위한 전압 공급기를 더 포함하는 휨 센서
8 8
제6항에 있어서, 상기 하판은 각각이 상기 복수의 제2접속 단자들 각각과 전기적으로 접속되는 휨 센서
9 9
제6항에 있어서, 상기 휨 센서는, 상기 복수의 제2접속 단자들 각각은 상기 복수의 제1접속 단자들 각각과 대응되는 접속 단자와 접속되었는지 여부에 따라 서로 다른 전압 레벨을 갖는 전압 신호들을 수신하여 상기 상판과 상기 하판의 휜 부분을 판단하는 판단 회로를 더 포함하는 휨 센서
10 10
제9항에 있어서, 상기 판단 회로는,상기 전압신호들을 디지털 신호들로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터; 및상기 디지털 신호들과 메모리로부터 출력되는 신호들을 비교하여 상기 상판과 상기 하판의 휜 부분을 판단하는 프로세서를 포함하는 휨 센서
11 11
제10항에 있어서, 상기 프로세서는,상기 디지털 신호들이 하이 레벨일 때, 휘지 않는 것으로 판단하고,상기 디지털 신호들 중 어느 하나가 로우 레벨일 때, 휜 것으로 판단하는 휨 센서
12 12
휨 센서 본체(bend sensor body); 및상기 휨 센서 본체의 저항값의 변화로부터 상기 휨 센서 본체의 휨 정도를 판단할 수 있는 판단 회로를 포함하며,상기 휨 센서 본체는,전도성 측정 단자를 포함하는 가요성 상판; 및일정한 간격으로 배치된 전도성이 있는 N개의 접속 단자들을 포함하는 가용성 하판을 포함하며,상기 휨 센서 본체가 휘어짐에 따라 상기 전도성 측정 단자가 상기 N개의 접속 단자들 중에서 (N-M)번째 접속 단자에 접촉될 때, 상기 N개의 접속 단자들 중에서 첫 번째 접속 단자와 (N-M) 번째 접속 단자 사이의 저항값에 따라 상기 휨 센서의 휨 정도를 판단하기 위한 휨 센서
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 KAIST 산업원천기술개발사업 미래 정보기기용 변형기반 제스쳐 센싱/반응 인터랙션 기술개발