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유한 요소 모델(Finite element model), 해석 모델(Analytic model) 혹은 실험을 통하여 구조물 자체의 고유 주파수에 대응하는 고유 모드인 비틀림 변형 모드를 구하는 단계;상기 고유 주파수와 비틀림의 변형 모드를 조합하여 상기 비틀림 변형 모드에 대응하는 비틀림 변형률 모드를 구하는 단계; 및 상기 비틀림 변형 모드 및 상기 대응하는 비틀림 변형률 모드를 이용하여 비틀림 변형-변형률 관계식을 구하는 단계를 포함하는 구조물의 비틀림 측정 방법
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제 1 항에 있어서,상기 비틀림 변형-변형률 관계식은, (여기서, M은 비틀림 변형을 측정할 측정점의 개수, N은 변형률 측정 센서가 부착된 지점의 개수, n은 취사 선택된 비틀림 변형 모드의 개수이고, T는 비틀림 변형-변형률 관계, [Φ]는 취사 선택된 비틀림 변형 모드 행렬, [Ψ]는 취사 선택된 비틀림 변형률 모드 행렬을 의미한다)인 구조물의 비틀림 측정 방법
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제 2 항에 있어서, 상기 비틀림 변형 모드의 개수는 상기 변형률 센서의 개수보다 작거나 같은 개수인 구조물의 비틀림 측정 방법
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구조물의 특정 부위에 설치된 적어도 하나 이상의 변형률 측정 센서로부터 상기 구조물의 기계적 변화량을 측정한 적어도 하나의 측정 신호를 수신하는 단계; 상기 적어도 하나의 측정 신호를 변형률값으로 변환하는 단계;상기 변형률값을 통계적 처리 또는 상기 변형률값의 특정 주파수를 필터링함으로써 최종 변형률을 구하는 단계; 및 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 하나의 방법에 따른 상기 비틀림 변형-변형률 관계식에 상기 최종 변형률을 곱하여 상기 구조물의 비틀림 변형값을 산출하는 단계를 포함하는 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 방법
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제 4 항에 있어서, 상기 구조물의 비틀림 변형값은 다음식 (여기서, M은 비틀림 변형을 측정할 측정점의 개수, N은 변형률 측정 센서가 부착된 지점의 개수, n은 취사 선택된 비틀림 변형 모드의 개수이고, T는 비틀림 변형-변형률 관계, [Φ]는 취사 선택된 비틀림 변형 모드 행렬, [Ψ]는 취사 선택된 비틀림 변형률 모드 행렬을 의미한다)에 의해 구해지는 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 방법
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제 5 항에 있어서,상기 변형률 측정 센서는 스트레인 게이지 또는 광섬유 센서인 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 방법
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제 4 항에 있어서, 상기 구조물에 온도 센서가 설치되고, 상기 온도 센서로부터 상기 구조물에 대한 온도를 감지하여 상기 구조물의 기계적 변화량에 대한 보정을 수행하여 상기 변형률값을 산출하는 단계를 더 포함하는 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 방법
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제 5 항에 있어서, 상기 통계적 처리는 상기 변형률값의 평균 혹은 최빈값을 구함으로써 상기 구조물에 대한 상기 최종 변형률을 구하고,상기 필터링은 상기 변형률값의 주파수 분석(FFT: Fast Fourie Transformation)을 통하여 특정 주파수의 신호를 필터링하는 과정을 통해 상기 최종 변형률을 구하되, 상기 필터링은 로우-패스 필터링 또는 모드 필터링이 되는 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 방법
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구조물의 특정 부위에 설치되는 적어도 하나 이상의 변형률 측정 센서;상기 변형률 측정 센서로부터 상기 구조물의 기계적 변화량을 측정한 적어도 하나의 측정 신호를 수신하여 변형률값으로 변환하는 변환 수단; 및 상기 변형률값을 통계적 처리 또는 상기 변형률값의 특정 주파수를 필터링함으로써 최종 변형률을 구하고 비틀림 변형-변형률 관계식에 상기 최종 변형률을 곱하여 상기 구조물의 비틀림 변형값을 산출하는 계산 수단을 포함하는 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 시스템
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제 9 항에 있어서, 상기 비틀림 변형-변형률 관계식은, 상기 구조물의 비틀림 변형값은 (여기서, M은 비틀림 변형을 측정할 측정점의 개수, N은 변형률 측정 센서가 부착된 지점의 개수, n은 취사 선택된 비틀림 변형 모드의 개수이고, T는 비틀림 변형-변형률 관계, [Φ]는 취사 선택된 비틀림 변형 모드 행렬, [Ψ]는 취사 선택된 비틀림 변형률 모드 행렬을 의미한다)인 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 시스템
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제 9 항 또는 제 10 항에 있어서, 상기 변형률 측정 센서는, 스트레인 게이지 또는 광섬유 센서이고, 상기 변환 수단은 스트레인 인디케이터 또는 광 스펙트럼 분석기인 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 시스템
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제 9 항 또는 제 10 항에 있어서, 상기 구조물에 대한 온도를 감지하여 상기 구조물의 기계적 변화량에 대한 보정을 수행하기 위한 보정 정보를 생성하는 온도 센서를 더 포함하는 변형률 측정 센서를 이용한 구조물의 비틀림 측정 시스템
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