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갈바노 미러를 이용한 파장 스캐닝 방식의 공초점 분광 현미경

  • 기술번호 : KST2015115405
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 갈바노 미러를 이용한 파장 스캐닝 방식의 공초점 분광 현미경에 관한 것으로, 평행광을 출사하는 펄스 레이저 광원부, 상기 광원부에서 출사되는 레이저의 편광을 얻기 위한 편광판, 상기 편광판에서 편광된 광에서 임의의 파장에 대한 회절광을 획득하기 위한 회절부, 상기 회절부를 통해 회절된 광을 스캐닝 하는 스캐닝 미러, 상기 스캐닝 미러에서 스캐닝된 빔을 측정 시편에 조사하는 조사부, 상기 조사부를 통해 측정 시편에 조사된 후 반사되는 형광신호를 파장에 따라 분산시키는 프리즘, 상기 프리즘을 투과한 광의 크기를 결정하는 렌즈부, 회전을 통해 상기 렌즈부에서 출사되는 광의 파장을 결정하는 갈바노 미러 및 상기 갈바노 미러에서 선택된 임의의 파장을 가지는 광이 핀홀을 투과하면 해당 광을 검출하는 광검출부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01N 21/64 (2006.01) G01B 9/04 (2006.01)
CPC G02B 21/0024(2013.01) G02B 21/0024(2013.01) G02B 21/0024(2013.01) G02B 21/0024(2013.01) G02B 21/0024(2013.01) G02B 21/0024(2013.01)
출원번호/일자 1020110087537 (2011.08.31)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1240146-0000 (2013.02.27)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20130307) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.08.31)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권대갑 대한민국 대전광역시 유성구
2 도덕호 대한민국 대전광역시 유성구
3 천완희 대한민국 충청북도 청주시 상당구
4 안진우 대한민국 대전광역시 유성구
5 김영덕 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인대한 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 부봉빌딩 *층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.08.31 수리 (Accepted) 1-1-2011-0678061-15
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0585742-11
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2012-0987668-12
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.11.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0987669-57
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
6 등록결정서
Decision to grant		 2013.02.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0125896-12
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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평행광을 출사하는 펄스 레이저 광원부;상기 광원부에서 출사되는 레이저의 편광을 얻기 위한 편광판;상기 편광판에서 편광된 광에서 임의의 파장에 대한 회절광을 획득하기 위한 회절부;상기 회절부를 통해 회절된 광을 스캐닝 하는 스캐닝 미러;상기 스캐닝 미러에서 스캐닝된 빔을 측정 시편에 조사하는 조사부;상기 조사부를 통해 측정 시편에 조사된 후 반사되는 형광신호를 파장에 따라 분산시키는 프리즘;상기 프리즘을 투과한 광의 크기를 결정하는 렌즈부;회전을 통해 상기 렌즈부에서 출사되는 광의 파장을 결정하는 갈바노 미러; 및상기 갈바노 미러에서 선택된 임의의 파장을 가지는 광이 핀홀을 투과하면 해당 광을 검출하는 광검출부;를 포함하며,상기 광원부는, 펄스 레이저를 출사하는 다채널 레이저부, 상기 레이저부에서 출사되는 광을 하나로 합치는 컴바이너, 상기 컴바이너에서 합쳐진 광을 전달하는 광섬유 및 상기 광섬유에서 출사되는 광을 평행광으로 만드는 콜리메이팅 렌즈;를 포함하고,상기 조사부는, 상기 스캐닝미러에서 반사되는 광의 크기를 조절하기 위해 순차적으로 구성되는 스캔렌즈와 튜브렌즈 및 상기 튜브렌즈를 투과한 광을 시편으로 조사하는 대물렌즈를 포함하며,상기 렌즈부는, 두 개의 렌즈로 구성되며, 두 렌즈의 초점거리 비율 제어를 통해 빔 크기를 제어하고,상기 광검출부는, 상기 갈바노 미러에서 반사되는 광의 초점을 형성시키는 초점렌즈, 상기 초점렌즈를 투과하는 광의 편광 성분에 대해 오프셋을 보상하기 위한 칼사이트(Calcite), 상기 칼사이트를 투과하는 광의 특정 파장만 통과시키는 핀홀 및 핀홀을 통과한 광의 파장을 검출하는 PMT;를 포함하며,상기 칼사이트는, 두께를 조절하여 초점의 위치를 조절하는 것을 특징으로 하는 갈바노 미러를 이용한 파장 스캐닝 방식의 공초점 분광 현미경
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