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현탁용액에 분산된 고체입자들간의 리프시츠-반데르발스 상호작용 힘을 산출하는 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015123511
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 액체용매 및 상기 액체용매에 분산된 고체입자들을 포함하는 현탁용액에 있어서 상기 고체입자들 사이의 리프시츠-반데르발스(Lifshitz-van der Waals) 상호작용 힘을 산출하기 위한 방법이 개시된다. 상기 방법은, 상기 액체용매와 상기 고체입자 사이의 접촉각을 측정하는 단계; 상기 접촉각, 상기 고체입자의 밀도, 및 상기 액체용매의 표면장력 성분들의 정보를 이용하여, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하는 단계; 상기 고체입자의 표면장력 성분들 및 상기 액체용매의 표면장력 성분들의 정보를 이용하여, 상기 현탁용액의 하마커(Hamaker) 상수를 산출하는 단계; 및 상기 하마커 상수, 상기 고체입자의 직경 및 상기 고체입자들 사이의 거리를 이용하여 상기 고체입자들 사이의 리프시츠-반데르발스 상호작용 힘을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G01L 1/00 (2006.01) G06F 19/00 (2011.01) G06F 17/11 (2006.01)
CPC G01L 1/00(2013.01) G01L 1/00(2013.01) G01L 1/00(2013.01)
출원번호/일자 1020140168184 (2014.11.28)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-1559322-0000 (2015.10.05)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20151012) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.11.28)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전명석 대한민국 서울특별시 성북구
2 전영민 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-1157129-27
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.04.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.06.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0039858-12
4 등록결정서
Decision to grant
2015.09.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0633917-89
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번호 청구항
1 1
액체용매 및 상기 액체용매에 분산된 고체입자들을 포함하는 현탁용액에 있어서 상기 고체입자들 사이의 리프시츠-반데르발스 상호작용 힘을 산출하기 위한 방법으로서, 상기 액체용매와 상기 고체입자 사이의 접촉각을 측정하는 단계; 상기 접촉각, 상기 고체입자의 밀도, 및 상기 액체용매의 표면장력 성분들의 정보를 이용하여, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하는 단계; 상기 고체입자의 표면장력 성분들 및 상기 액체용매의 표면장력 성분들의 정보를 이용하여, 상기 현탁용액의 하마커 상수를 산출하는 단계; 및상기 하마커 상수, 상기 고체입자의 직경 및 상기 고체입자들 사이의 거리를 이용하여 상기 고체입자들 사이의 리프시츠-반데르발스 상호작용 힘을 산출하는 단계를 포함하는 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하는 단계는, 의 수학식에 기초하여 상기 고체입자의 표면장력 성분들 중 하나 이상을 산출하는 단계를 포함하며,상기 수학식에서, θ는 상기 접촉각을 나타내고, 는 상기 액체용매의 전체 표면장력을 나타내며, 와 는 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 나타내고, 와 는 상기 액체용매의 표면장력 성분들을 나타내는 방법
3 3
제 2항에 있어서, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하는 단계는, 의 수학식에 기초하여 상기 고체입자의 표면장력 성분들 중 하나 이상을 산출하는 단계를 더 포함하며, 상기 수학식에서, 및 는 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 나타내고, 및 는 상기 액체용매의 표면장력 성분들을 나타내는 방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하는 단계는, 상기 고체입자의 분자량, 상기 고체입자의 파라코르 인자 및 상기 고체입자의 밀도로부터 상기 고체입자의 전체 표면장력을 산출하는 단계를 포함하는 방법
5 5
제 4항에 있어서, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하는 단계 전에, 상기 고체입자의 밀도를 측정하는 단계를 더 포함하는 방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하는 단계는, 상기 고체입자의 종류에 따라 미리 알려진, 상기 고체입자의 리프시츠-반데르발스 표면장력 및 산-염기 표면장력의 크기를 서로 비교한 결과에 기초하여, 상기 고체입자의 표면장력 성분들에 대한 복수의 근 중 하나를 상기 표면장력 성분으로 결정하는 단계를 포함하는 방법
7 7
제 1항에 있어서, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하는 단계는, 미리 알려진 상기 고체입자의 성질에 따라 상기 고체입자를 전자 공여기 및 전자 수용기 중 어느 하나로 결정하는 단계; 및 상기 고체입자가 전자 공여기 및 전자 수용기 중 어느 것인지에 따라 상기 고체입자의 표면장력 성분들에 대한 복수의 근 중 하나를 상기 표면장력 성분으로 결정하는 단계를 포함하는 방법
8 8
제 1항에 있어서, 상기 현탁용액의 하마커 상수를 산출하는 단계는, 상기 고체입자의 리프시츠-반데발스 표면장력 및 상기 액체용매의 리프시츠-반데발스 표면장력을 이용하여 상기 하마커 상수를 산출하는 단계를 포함하는 방법
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액체용매 및 상기 액체용매에 분산된 고체입자들을 포함하는 현탁용액에 있어서, 상기 고체입자들 사이의 리프시츠-반데르발스 상호작용 힘을 산출하기 위한 장치로서, 상기 액체용매와 상기 고체입자 사이의 접촉각을 측정하도록 구성된 접촉각 측정부; 상기 접촉각, 상기 고체입자의 밀도, 및 상기 액체용매의 표면장력 성분들의 정보를 이용하여, 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 산출하도록 구성된 표면장력 산출부; 상기 고체입자의 표면장력 성분들 및 상기 액체용매의 표면장력 성분들의 정보를 이용하여, 상기 현탁용액의 하마커 상수를 산출하도록 구성된 하마커 상수 산출부; 및 상기 하마커 상수, 상기 고체입자의 직경 및 상기 고체입자들 사이의 거리를 이용하여 상기 고체입자들 사이의 리프시츠-반데르발스 상호작용 힘을 산출하도록 구성된 리프시츠-반데르발스 힘 산출부를 포함하는 장치
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제 9항에 있어서, 상기 표면장력 산출부는, 의 수학식에 기초하여 상기 고체입자의 표면장력 성분들 중 하나 이상을 산출하도록 구성되며,상기 수학식에서, θ는 상기 접촉각을 나타내고, 는 상기 액체용매의 전체 표면장력을 나타내며, 와 는 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 나타내고, 와 는 상기 액체용매의 표면장력 성분들을 나타내는 장치
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제 10항에 있어서, 상기 표면장력 산출부는, 의 수학식에 기초하여 상기 고체입자의 표면장력 성분들 중 하나 이상을 산출하도록 더 구성되며,상기 수학식에서, 및 는 상기 고체입자의 표면장력 성분들을 나타내고, 및 는 상기 액체용매의 표면장력 성분들을 나타내는 장치
12 12
제 9항에 있어서, 상기 표면장력 산출부는, 상기 고체입자의 분자량, 상기 고체입자의 파라코르 인자 및 상기 고체입자의 밀도로부터 상기 고체입자의 전체 표면장력을 산출하도록 더 구성된 장치
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제 12항에 있어서, 상기 고체입자의 밀도를 측정하여 상기 표면장력 산출부에 전달하도록 구성된 밀도 측정부를 더 포함하는 장치
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제 9항에 있어서,상기 표면장력 산출부는, 상기 고체입자의 종류에 따라 미리 알려진, 상기 고체입자의 리프시츠-반데르발스 표면장력 및 산-염기 표면장력의 크기를 서로 비교한 결과에 기초하여, 상기 고체입자의 표면장력 성분들에 대한 복수의 근 중 하나를 상기 표면장력 성분으로 결정하도록 더 구성된 장치
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제 9항에 있어서, 상기 표면장력 산출부는, 미리 알려진 상기 고체입자의 성질에 따라 상기 고체입자를 전자 공여기 및 전자 수용기 중 어느 하나로 결정하고, 상기 고체입자가 전자 공여기 및 전자 수용기 중 어느 것인지에 따라 상기 고체입자의 표면장력 성분들에 대한 복수의 근 중 하나를 상기 표면장력 성분으로 결정하도록 더 구성된 장치
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제 9항에 있어서, 상기 하마커 상수 산출부는, 상기 고체입자의 리프시츠-반데발스 표면장력 및 상기 액체용매의 리프시츠-반데발스 표면장력을 이용하여 상기 하마커 상수를 산출하도록 구성된 장치
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1 미래창조과학부 한국표준과학연구원 융합실용화연구사업 AMOLED 내부결함 검사장비 기술 개발