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구조물 변형 측정용 도료, 이를 포함하는 테이프 및 이를 이용한 구조물의 변형 측정방법

  • 기술번호 : KST2015125419
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 구조물 변형 측정용 도료, 이를 포함하는 테이프 및 이를 이용한 구조물의 변형 측정방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로 본 발명의 구조물 변형 측정용 도료는 구조물의 변형에 따라 변형 여부 및 변형 정도를 용이하게 확인할 수 있도록 자성 광결정을 함유함으로써 구조물의 변형을 측정하는데 유용하게 활용될 수 있다.또한, 본 발명에 의하면, 사용하중 등에 의하여 발생하는 구조물의 변형 및 변형 정도를 용이하게 측정할 수 있으므로 구조물의 과다변형으로 인한 안전사고의 발생을 미연에 방지할 수 있다.자성 광결정 클러스터, 구조색, 자속, 구조물, 변형 측정방법
Int. CL C09D 7/12 (2006.01) C09D 5/23 (2006.01) B82Y 25/00 (2011.01)
CPC
출원번호/일자 1020090017317 (2009.02.27)
출원인 연세대학교 산학협력단, (주)기술과가치
등록번호/일자 10-1647352-0000 (2016.08.04)
공개번호/일자 10-2010-0098251 (2010.09.06) 문서열기
공고번호/일자 (20160811) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.02.27)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
2 (주)기술과가치 대한민국 서울특별시 서초구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 함승주 대한민국 서울특별시 마포구
2 임윤묵 대한민국 서울특별시 서초구
3 임윤철 대한민국 서울특별시 양천구
4 박요셉 대한민국 서울특별시 종로구
5 강병훈 대한민국 서울시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
2 (주)기술과가치 대한민국 서울특별시 서초구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2009-0125349-85
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.03.10 수리 (Accepted) 1-1-2009-0143451-56
3 보정요구서
Request for Amendment
2009.03.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0016461-50
4 직권수리안내서
Notification of Ex officio Acceptance
2009.03.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0016650-83
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.02.18 수리 (Accepted) 4-1-2011-5030614-19
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.03.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-0006933-02
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.04 수리 (Accepted) 4-1-2013-5080415-15
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
11 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2014-0197986-21
12 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.05.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-0506850-92
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
14 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.09.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0636564-80
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.11.16 수리 (Accepted) 1-1-2015-1114772-58
16 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.11.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-1114744-80
17 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.03.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0178749-43
18 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2016.03.31 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2016-0016206-68
19 등록결정서
Decision to grant
2016.05.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0347565-69
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번호 청구항
1 1
자성체가 함유된 제1유전체; 및상기 제1유전체와 상이한 비유전율을 갖는 제2유전체가 격자 패턴으로 일정하게 배열된 자성 광결정을 포함하며,제1유전체와 제2유전체간의 간격은 1 내지 2 nm인 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
2 2
제 1항에 있어서,상기 제1유전체는 평균 입경이 80 내지 200nm인 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
3 3
삭제
4 4
제 1항에 있어서,상기 자성체는 자성 나노입자에 실리카, 폴리알킬렌글리콜, 폴리에테르이미드, 폴리비닐피롤리돈, 친수성 폴리아미노산 및 친수성 비닐계 고분자 수지로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 친수성 물질이 코팅된 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
5 5
제 4항에 있어서,상기 자성 나노입자는 Co, Mn, Fe, Ni, Gd, Mo, MM'2O4, 및 MxOy (M 및 M'는 각각 독립적으로 Co, Fe, Ni, Mn, Zn, Gd, 또는 Cr을 나타내고, 0 003c# x ≤3, 0 003c# y ≤5)로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 자성 물질; 또는 CoCu, CoPt, FePt, CoSm, NiFe 및 NiFeCo로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 자성 합금인 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
6 6
제 4항에 있어서,자성 나노입자는 용매 하에서 자성 나노입자 씨드와 나노입자 전구체를 혼합하여 얻어진 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
7 7
제 6항에 있어서,상기 용매는 페닐에테르, 디메틸포름아미드, 테트라하이드로퓨란 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택된 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
8 8
제 6항에 있어서,상기 자성 나노입자 씨드는 Co, Mn, Fe, Ni, Gd, Mo, MM'2O4, 및 MxOy (M 및 M'는 각각 독립적으로 Co, Fe, Ni, Mn, Zn, Gd, 또는 Cr을 나타내고, 0 003c# x ≤3, 0 003c# y ≤5)로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 자성 물질; 또는 CoCu, CoPt, FePt, CoSm, NiFe 및 NiFeCo로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 자성 합금인 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
9 9
제 6항에 있어서,상기 나노입자 전구체는 아이언펜타카보닐, 페로센, 망간카보닐, 철 아세틸 아세토네이트, 삼클로로화철, 이클로로화철, 및 철 나이트레이트로 이루어진 군에서 선택된 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
10 10
제1항에 있어서,상기 제1유전체는 상기 자성체 및 고분자를 포함하고,상기 고분자는 스티렌, (메타)아크릴산 에스테르, 및 아크릴아마이드로 이루어진 그룹 중에서 선택된 하나 이상의 단량체로부터 유도된 중합체; 또는 폴리실록산인 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
11 11
제 10항에 있어서,고분자는 폴리스티렌, 폴리알파메틸스티렌, 폴리아크릴레이트, 폴리메틸메타크릴레이트, 폴리벤질메타크릴레이트, 폴리페닐메타크릴레이트, 폴리-1-메타시클로헥실메타크릴레이트, 폴리시클로헥실메타크릴레이트, 폴리클로로벤질메타크릴레이트, 폴리-1-페닐에틸메타크릴레이트, 폴리-1,2-디페닐에틸메타크릴레이트, 폴리디페닐메틸메타크릴레이트, 폴리퍼퓨릴메타크릴레이트, 폴리-1-페닐시클로헥실메타크릴레이트, 폴리펜타클로로페닐메타크릴레이트, 폴리펜타브로모페닐메타크릴레이트, 폴리디메틸실록산 및 폴리-N-이소프로필아크릴아미드로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상인 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
12 12
제 1항에 있어서,상기 제1유전체는 자성체와 양친매성의 폴리스티렌/알킬아크릴레이트 블록공중합체를 포함하는 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
13 13
제 12항에 있어서,상기 블록공중합체는 폴리스티렌 100중량부에 대하여, 알킬아크릴레이트 5 내지 50 중량부를 중합하고, 가수분해한 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
14 14
제12항에 있어서,상기 블록공중합체는 중량평균분자량이 20,000 내지 30,000인 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 도료
15 15
기재; 및상기 기재의 표면에 형성되고, 제1항에 따른 도료를 함유하는 코팅층을 포함하는 구조물 변형 측정용 테이프
16 16
제15항에 있어서,상기 도료는 5 내지 10 ㎛의 두께로 도포된 것을 특징으로 하는 구조물 변형 측정용 테이프
17 17
제1항에 따른 도료를 기재의 표면에 형성하는 제1단계;상기 도료가 형성된 기재를 변형 측정대상 구조물 표면 상에 배치시키는 제2단계; 및상기 도료의 구조색 변화 또는 자속 변화를 측정하는 제3단계를 포함하는 구조물의 변형 측정방법
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2 JP24519274 JP 일본 FAMILY
3 KR101217617 KR 대한민국 FAMILY
4 KR101592950 KR 대한민국 FAMILY
5 US08671769 US 미국 FAMILY
6 US20120152030 US 미국 FAMILY
7 WO2010098647 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
8 WO2010098647 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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2 JP5468091 JP 일본 DOCDBFAMILY
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