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테스트 장비로부터 입력받은 0, 1 및 하이-임피던스의 논리 신호로 구성된 테스트 패턴 데이터를 디코딩하는 트라이-스테이트 검출기;상기 디코딩된 데이터에 따라 0 및 1로 구성된 이진 데이터, 선택 신호 및 제어 신호를 생성하여 출력하는 디컴프레서;상기 선택 신호에 따라 상기 이진 데이터를 저장하거나 저장된 이진 데이터를 내보내는 레지스터; 및상기 제어 신호에 따라 상기 레지스터로부터 상기 이진 데이터를 입력받아 처리하는 스캔 체인을 포함하는 회로 장치
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제 1 항에 있어서,상기 트라이-스테이트 검출기는 0, 1 및 하이-임피던스의 논리 신호를 2 비트의 디지털 코드로 변환하는 회로 장치
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제 2 항에 있어서,상기 트라이-스테이트 검출기는 0, 1 및 하이-임피던스의 논리 신호를 각각 01, 10 및 11 중 어느 하나의 디지털 코드로 변환하는 회로 장치
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제 1 항에 있어서,상기 디컴프레서는:상기 트라이-스테이트 검출기로부터 0 또는 1에 대응하는 데이터를 입력받는 경우, 해당 데이터를 다시 그에 대응하는 0 또는 1의 이진 데이터로 변환하고, 상기 이진 데이터를 상기 레지스터에 저장하도록 하는 선택 신호, 및 상기 스캔 체인을 디스에이블시키는 제어 신호를 생성하는 회로 장치
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제 1 항에 있어서,상기 디컴프레서는:상기 트라이-스테이트 검출기로부터 상기 하이-임피던스에 대응하는 데이터를 입력받는 경우, 상기 레지스터에 저장된 이진 데이터를 상기 스캔 체인으로 내보내며 상기 스캔 체인을 인에이블시키는 제어 신호를 생성하는 회로 장치
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제 5 항에 있어서,상기 디컴프레서는:상기 트라이-스테이트 검출기로부터 상기 하이-임피던스에 대응하는 데이터를 입력받는 경우, 상기 레지스터에 저장된 이진 데이터를 상기 레지스터에 다시 저장시키는 선택 신호를 생성하는 회로 장치
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제 1 항에 있어서,상기 디컴프레서가 출력한 이진 데이터 및 상기 레지스터가 내보내는 이진 데이터를 입력받아, 상기 선택 신호에 따라 두 이진 데이터 중 어느 하나를 상기 레지스터로 출력하는 멀티플렉서를 더 포함하는 회로 장치
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8
제 1 항에 있어서,상기 디컴프레서는:상기 이진 데이터에 따라, 상기 테스트 장비로부터 제공된 테스트 클럭을 상기 레지스터로 공급하거나, 상기 회로 장치의 구동 클럭을 상기 스캔 체인으로 공급하는 회로 장치
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제 8 항에 있어서,상기 디컴프레서는:상기 트라이-스테이트 검출기로부터 0 또는 1에 대응하는 데이터를 입력받는 경우, 상기 테스트 클럭을 상기 레지스터로 공급하고,상기 트라이-스테이트 검출기로부터 상기 하이-임피던스에 대응하는 데이터를 입력받는 경우, 상기 구동 클럭을 상기 스캔 체인으로 공급하는 회로 장치
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10
트라이-스테이트 검출기, 디컴프레서, 레지스터 및 스캔 체인을 포함하는 회로 장치를 테스트하는 방법에 있어서,상기 회로 장치가 테스트 장비로부터 0, 1 및 하이-임피던스의 논리 신호로 구성된 테스트 패턴 데이터를 입력받는 단계;상기 트라이-스테이트 검출기가 상기 테스트 패턴 데이터를 디코딩하는 단계;상기 디컴프레서가 상기 디코딩된 데이터에 따라 0 및 1로 구성된 이진 데이터, 선택 신호 및 제어 신호를 생성하는 단계;상기 레지스터가 상기 선택 신호에 따라 상기 이진 데이터를 저장하거나 저장된 이진 데이터를 내보내는 단계; 및상기 스캔 체인이 상기 제어 신호에 따라 상기 레지스터로부터 상기 이진 데이터를 입력받아 처리하여 테스트 응답 데이터를 출력하는 단계;를 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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제 10 항에 있어서,상기 테스트 패턴 데이터를 디코딩하는 단계는:상기 0, 1 및 하이-임피던스의 논리 신호를 2 비트의 디지털 코드로 변환하는 단계를 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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제 11 항에 있어서,상기 0, 1 및 하이-임피던스의 논리 신호를 2 비트의 디지털 코드로 변환하는 단계는:상기 0, 1 및 하이-임피던스의 논리 신호를 각각 01, 10 및 11 중 어느 하나의 디지털 코드로 변환하는 단계를 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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제 10 항에 있어서,상기 디코딩된 데이터에 따라 이진 데이터, 선택 신호 및 제어 신호를 생성하는 단계는:상기 트라이-스테이트 검출기로부터 0 또는 1에 대응하는 데이터를 입력받은 경우, 해당 데이터를 다시 그에 대응하는 0 또는 1의 이진 데이터로 변환하는 단계;상기 이진 데이터를 상기 레지스터에 저장하도록 하는 선택 신호를 생성하는 단계; 및상기 스캔 체인을 디스에이블시키는 제어 신호를 생성하는 단계;를 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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제 10 항에 있어서,상기 디코딩된 데이터에 따라 이진 데이터, 선택 신호 및 제어 신호를 생성하는 단계는:상기 트라이-스테이트 검출기로부터 상기 하이-임피던스에 대응하는 데이터를 입력받은 경우, 상기 레지스터에 저장된 이진 데이터를 상기 스캔 체인으로 내보내며 상기 스캔 체인을 인에이블시키는 제어 신호를 생성하는 단계를 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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제 14 항에 있어서,상기 디코딩된 데이터에 따라 이진 데이터, 선택 신호 및 제어 신호를 생성하는 단계는:상기 트라이-스테이트 검출기로부터 상기 하이-임피던스에 대응하는 데이터를 입력받은 경우, 상기 레지스터에 저장된 이진 데이터를 상기 레지스터에 다시 저장시키는 선택 신호를 생성하는 단계를 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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제 10 항에 있어서,상기 레지스터가 선택 신호에 따라 이진 데이터를 저장하거나 저장된 이진 데이터를 내보내는 단계 후:상기 회로 장치에 더 포함된 멀티플렉서가, 상기 디컴프레서가 출력한 이진 데이터 및 상기 레지스터가 내보내는 이진 데이터를 입력받아, 상기 선택 신호에 따라 두 이진 데이터 중 어느 하나를 상기 레지스터로 출력하는 단계를 더 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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제 10 항에 있어서,상기 레지스터가 선택 신호에 따라 이진 데이터를 저장하거나 저장된 이진 데이터를 내보내는 단계 전:상기 디컴프레서가, 상기 디코딩된 데이터에 따라, 상기 테스트 장비로부터 제공된 테스트 클럭을 상기 레지스터로 공급하거나, 상기 회로 장치의 구동 클럭을 상기 스캔 체인으로 공급하는 단계를 더 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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제 17 항에 있어서,상기 디코딩된 데이터에 따라 테스트 클럭을 레지스터로 공급하거나 구동 클럭을 스캔 체인으로 공급하는 단계는:상기 트라이-스테이트 검출기로부터 0 또는 1에 대응하는 데이터를 입력받은 경우, 상기 테스트 클럭을 상기 레지스터로 공급하는 단계; 및상기 트라이-스테이트 검출기로부터 상기 하이-임피던스에 대응하는 데이터를 입력받은 경우, 상기 구동 클럭을 상기 스캔 체인으로 공급하는 단계;를 포함하는 회로 장치 테스트 방법
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