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질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015132326
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 본 발명은, 도전성 기판; 상기 도전성 기판 상에 순차적으로 형성된 p형 질화물 반도체층, 활성층 및 n형 질화물 반도체층을 구비하는 발광적층체; 상기 n형 질화물 반도체층 상에 형성된 페시베이션층; 및 상기 페시베이션층 상에 형성된 n형 오믹 전극;을 포함하며, 상기 페시베이션층은 상기 n형 오믹 전극과 오믹컨택을 이루는 도전성 물질로 이루어진 질화물 반도체 발광소자를 제공함으로써, 열처리 공정을 거치지 않더라도 열적으로 안정하며 전기적 특성이 우수한 n형 오믹 전극을 형성할 수 있다. 또한, 본 발명에 따르면, 상기와 같은 우수한 열적·전기적 특성을 나타내기 위한 최적화된 질화물 반도체 발광소자의 제조방법을 제공한다. 발광소자, 오믹컨택, 셀레늄, 페시베이션, 표면처리
Int. CL H01L 33/02 (2014.01) H01L 33/36 (2014.01)
CPC H01L 33/44(2013.01) H01L 33/44(2013.01) H01L 33/44(2013.01) H01L 33/44(2013.01)
출원번호/일자 1020080128876 (2008.12.17)
출원인 삼성엘이디 주식회사, 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1004868-0000 (2010.12.22)
공개번호/일자 10-2010-0070242 (2010.06.25) 문서열기
공고번호/일자 (20101228) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.12.17)
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성엘이디 주식회사 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김현수 대한민국 경기 수원시 영통구
2 정세연 대한민국 서울특별시 성북구
3 홍현기 대한민국 서울특별시 성북구
4 전준우 대한민국 서울특별시 성북구
5 성태연 대한민국 서울특별시 성북구
6 손철수 대한민국 경기 안양시 동안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인씨엔에스 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, 대림아크로텔 *층(도곡동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구
2 삼성전자주식회사 경기도 수원시 영통구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.12.17 수리 (Accepted) 1-1-2008-0868543-73
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.06.09 수리 (Accepted) 4-1-2009-5111177-32
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.09.29 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.10.13 수리 (Accepted) 9-1-2009-0057125-90
5 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2010.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2010-0260587-36
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.05.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0217097-14
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.07.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0476499-71
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.07.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0476501-86
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149278-93
10 등록결정서
Decision to grant
2010.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0548354-28
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.13 수리 (Accepted) 4-1-2012-5008827-11
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
도전성 기판; 상기 도전성 기판 상에 순차적으로 형성된 p형 질화물 반도체층, 활성층 및 n형 질화물 반도체층을 구비하는 발광적층체; 상기 n형 질화물 반도체층 상에 형성된 페시베이션층; 및 상기 페시베이션층 상에 형성된 n형 오믹 전극;을 포함하며, 상기 페시베이션층은 상기 n형 오믹 전극과 오믹컨택을 이루는 도전성 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 페시베이션층은 셀레늄(selenium)을 함유하는 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
3 3
제2항에 있어서, 상기 페시베이션층은 상기 n형 질화물 반도체층의 전면에 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
4 4
제1항에 있어서, 상기 n형 오믹 전극은, Ti 또는 Ti 합금을 포함하는 물질로 이루어진 제1층; 및 상기 제1층 상에 형성되며 Al 또는 Al 합금을 포함하는 물질로 이루어진 제2층;을 구비하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
5 5
제4항에 있어서, 상기 Ti 합금은 Ti와, Al, Cr, Ni, Pd, Pt, Mo, Co 및 Mg로 구성된 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 원소의 합금인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
6 6
제4항에 있어서, 상기 Al 합금은 Al과, Ti, Cr, Ni, Pd, Pt, Mo, Co, Cu, Hf 및 Mg로 구성된 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 원소의 합금인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
7 7
제4항에 있어서, 상기 제1층의 두께는 10 ~ 300Å인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
8 8
제7항에 있어서, 상기 제2층의 두께는 100 ~ 4000Å인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
9 9
제1항에 있어서, 상기 도전성 기판과 상기 p형 질화물 반도체층 사이에 형성된 고반사성 오믹컨택층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
10 10
제9항에 있어서, 상기 고반사성 오믹컨택층은, Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt 및 Au로 구성된 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자
11 11
성장용 기판 상에 n형 질화물 반도체층, 활성층 및 p형 질화물 반도체층을 순차적으로 성장시켜 발광적층체를 형성하는 단계; 상기 p형 질화물 반도체층 상에 도전성 기판을 형성하는 단계; 상기 성장용 기판을 제거하는 하는 단계; 상기 n형 질화물 반도체층의 전면에 페시베이션층을 형성하는 단계; 및 상기 페시베이션층 상에 n형 오믹 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
12 12
제11항에 있어서, 상기 n형 질화물 반도체층 상에 페시베이션층을 형성하는 단계는, 상기 n형 질화물 반도체층의 표면 안정화를 위한 표면처리를 위해, 셀레늄(Selenium)화 암모늄(ammonium)의 수용액에 발광적층체를 침지하여 상기 n형 질화물 반도체층 상에 셀레늄 화합물층을 형성하는 것에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
13 13
제12항에 있어서, 상기 페시베이션층 상에 n형 오믹 전극을 형성하는 단계는, 상기 페시베이션층을 형성하는 단계 후, 열처리하지 않고 바로 실행되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
14 14
제13항에 있어서, 상기 페시베이션층 상에 n형 오믹 전극을 형성하는 단계는, 상기 페시베이션층 상에 Ti 또는 Ti 합금을 포함하는 물질로 이루어진 제1층을 형성하는 단계; 및 상기 제1층 상에 Al 또는 Al 합금을 포함하는 물질로 이루어진 제2층을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
15 15
제14항에 있어서, 상기 Ti 합금은 Ti와, Al, Cr, Ni, Pd, Pt, Mo, Co 및 Mg로 구성된 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 원소의 합금인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
16 16
제14항에 있어서, 상기 Al 합금은 Al과, Ti, Cr, Ni, Pd, Pt, Mo, Co, Cu, Hf 및 Mg로 구성된 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 원소의 합금인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
17 17
제14항에 있어서, 상기 제1층 및 제2층을 형성하는 단계는 전자선 증착법 또는 스퍼터링에 의해 실행되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
18 18
제11항에 있어서, 상기 도전성 기판과 상기 p형 질화물 반도체층 사이에 고반사성 오믹컨택층을 형성하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
19 19
제18항에 있어서, 상기 고반사성 오믹컨택층은, Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt 및 Au로 구성된 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.