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컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체

  • 기술번호 : KST2015132890
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체가 개시된다. 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치는 감마선 검출부, 검출 순서 산출부, 및 피검사체 정보 생성부를 포함한다. 감마선 검출부는 양전자 소멸로 인해 피검사체에서 방출되는 2개의 감마선의 검출 위치 및 검출 위치에서의 검출 에너지를 획득하고, 검출 순서 산출부는 2개의 감마선 중 어느 하나의 감마선에 대해서라도 검출 위치가 복수개 검출되는 경우 복수의 검출 위치에 대한 검출 순서를 산출하며, 감마선의 검출 위치와 검출 위치의 검출 순서에 대한 정보를 이용하여 피검사체에 대한 정보를 생성한다. 양전자 소멸로 인해 방출되는 감마선의 검출 위치와 검출 위치에서의 검출 에너지를 이용하여 컴프턴 산란에 의해 발생하는 복수의 감마선 검출에 대한 순서를 산출함으로써, 양전자 단층 촬영에 있어서, 광전 효과뿐만 아니라 컴프턴 효과까지 이용할 수 있게 되어 더욱 우수한 영상을 구현할 수 있게 된다.
Int. CL G01T 1/161 (2006.01) A61B 5/055 (2006.01)
CPC G01T 1/1641(2013.01) G01T 1/1641(2013.01) G01T 1/1641(2013.01) G01T 1/1641(2013.01)
출원번호/일자 1020110077708 (2011.08.04)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1241821-0000 (2013.03.05)
공개번호/일자 10-2013-0015619 (2013.02.14) 문서열기
공고번호/일자 (20130318) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.08.04)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이원호 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인주원 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(논현동, 건설회관)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.08.04 수리 (Accepted) 1-1-2011-0603349-12
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.03.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.04.19 수리 (Accepted) 9-1-2012-0031709-38
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.10.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0613533-88
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-0953787-06
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.11.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0953798-08
7 등록결정서
Decision to grant
2013.02.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0142539-71
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
양전자 소멸로 인해 피검사체에서 방출되는 2개의 감마선의 검출 위치 및 상기 검출 위치에서의 검출 에너지를 획득하는 감마선 검출부;상기 2개의 감마선 중 어느 하나의 감마선에 대해서라도 검출 위치가 복수개 검출되는 경우 상기 복수의 검출 위치에 대한 검출 순서를 산출하는 검출 순서 산출부; 및상기 감마선의 검출 위치와 상기 검출 위치의 검출 순서에 대한 정보를 이용하여 상기 피검사체에 대한 정보를 생성하는 피검사체 정보 생성부를 포함하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치로서,상기 검출 순서는 상기 검출된 감마선의 에너지 정보로부터 산출한 방사선의 산란 각도와 상기 검출된 위치 정보로부터 산출한 감마선 산란 각도를 비교하여, 두 각도의 차가 작게 나오는 검출 순서인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 감마선 검출부는 픽셀화된 검출 어레이 구조를 포함하는 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 픽셀화된 검출 어레이는 카드뮴아연텔루라이드(CdZnTe; CZT) 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치
4 4
제 2항에 있어서,상기 픽셀화된 검출 어레이는 LYSO 섬광체로 이루어진 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치
5 5
삭제
6 6
제 1항에 있어서,상기 에너지 정보에서 산출한 방사선의 산란 각도(θE)는 다음의 수학식에 의해 산출되고,여기서, E0는 소멸 방사선 에너지이고, E1은 컴프턴 산란의 리코일 에너지이고, mec2는 전자의 에너지이며,상기 위치 정보에서 산출한 감마선의 산란 각도(θp)는 다음의 수학식에 의해 산출되고, 여기서, (x0, y0), 및 (x2, y2)는 광전 효과의 반응 위치이며, (x1, y1)은 컴프턴 산란 반응 위치인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치
7 7
제 1항에 있어서,상기 복수개 검출 위치는 2개의 검출 위치인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 장치
8 8
양전자 소멸로 인해 피검사체에서 방출되는 2개의 감마선의 검출 위치 및 상기 검출 위치에서의 검출 에너지를 획득하는 단계;상기 2개의 감마선 중 어느 하나의 감마선에 대해서라도 검출 위치가 복수개 검출되는 경우 상기 복수의 검출 위치에 대한 검출 순서를 산출하는 단계; 및상기 감마선의 검출 위치와 상기 검출 위치의 검출 순서에 대한 정보를 이용하여 상기 피검사체에 대한 정보를 생성하는 단계를 포함하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법으로서,상기 검출 순서는 상기 검출된 감마선의 에너지 정보로부터 산출한 방사선의 산란 각도와 상기 검출된 위치 정보로부터 산출한 감마선 산란 각도를 비교하여, 두 각도의 차가 작게 나오는 검출 순서인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법
9 9
제 8항에 있어서,상기 감마선의 검출 위치는 픽셀화된 검출 어레이 구조의 검출기를 이용해 검출되는 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법
10 10
제 9항에 있어서,상기 픽셀화된 검출 어레이는 카드뮴아연텔루라이드(CdZnTe; CZT) 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법
11 11
제 9항에 있어서,상기 픽셀화된 검출 어레이는 LYSO 섬광체로 이루어진 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법
12 12
삭제
13 13
제 8항에 있어서,상기 에너지 정보에서 산출한 방사선의 산란 각도(θE)는 다음의 수학식에 의해 산출되고,여기서, E0는 소멸 방사선 에너지이고, E1은 컴프턴 산란의 리코일 에너지이고, mec2는 전자의 에너지이며,상기 위치 정보에서 산출한 감마선의 산란 각도(θp)는 다음의 수학식에 의해 산출되고, 여기서, (x0, y0), 및 (x2, y2)는 광전 효과의 반응 위치이며, (x1, y1)은 컴프턴 산란 반응 위치인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법
14 14
제 8항에 있어서,상기 복수개 검출 위치는 2개의 검출 위치인 것을 특징으로 하는 컴프턴 현상을 이용한 양전자 단층 촬영 방법
15 15
제 8 내지 11, 13, 14항 중 어느 한 항의 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 한국연구재단 고려대학교 산학협력단 원자력연구개발사업 새로운 방사선 검출 방식:민감형 컬리메이터