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고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 및그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015145198
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 락인 증폭기를 사용하지 않으면서도 수십 GHz 이상에서 작동되는 반도체 소자의 고주파 특성을 볼 수 있는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명의 상기 목적은 캔틸레버 지지대, 상기 캔틸레버 지지대상에 위치하며 일측이 부상된 캔틸레버 아암, 상기 캔틸레버 아암 선단에 위치한 팁, 상기 팁 내에 형성된 채널 및 상기 채널의 양측면에 각각 형성된 소스 및 드레인으로 이루어진 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버에 있어서, 상기 팁은 콘 모양 또는 피라미드 모양임을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버에 의해 이루어짐에 기술적 특징이 있다. 따라서, 본 발명의 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 및 그 제조 방법은 팁을 제외한 주변의 절연막을 제거하므로써 고주파 소자의 검사가 가능한 효과가 있다. 고주파, 소자, 원자간력, 현미경, 캔틸레버
Int. CL G01Q 60/24 (2010.01) G01Q 60/38 (2010.01) B81C 1/00 (2010.01) G12B 21/08 (2010.01)
CPC G01Q 60/38(2013.01) G01Q 60/38(2013.01) G01Q 60/38(2013.01) G01Q 60/38(2013.01)
출원번호/일자 1020040039653 (2004.06.01)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0653198-0000 (2006.11.27)
공개번호/일자 10-2005-0114435 (2005.12.06) 문서열기
공고번호/일자 (20061206) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.06.01)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 서문석 대한민국 경기도안양시동안구
2 신진국 대한민국 서울특별시강남구
3 이철승 대한민국 경기도오산시
4 김성현 대한민국 인천광역시계양구
5 최영진 대한민국 경기도성남시분당구
6 이경일 대한민국 서울특별시양천구
7 조진우 대한민국 경기도성남시분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서천석 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로**길 **, *층 (서초동, 서초다우빌딩)(특허법인세하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.06.01 수리 (Accepted) 1-1-2004-0236260-18
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.09.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.10.12 수리 (Accepted) 9-1-2005-0063520-69
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.05.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0316794-46
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.07.31 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0550523-77
7 의견서
Written Opinion
2006.07.31 수리 (Accepted) 1-1-2006-0550497-77
8 등록결정서
Decision to grant
2006.08.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0514077-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
캔틸레버 지지대, 상기 캔틸레버 지지대상에 위치하며 일측이 부상된 캔틸레버 아암, 상기 캔틸레버 아암 선단에 위치한 팁, 상기 팁 내에 형성된 채널 및 상기 채널의 양측면에 각각 형성된 소스 및 드레인으로 이루어진 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버에 있어서, 상기 팁은 콘 모양 또는 피라미드 모양임을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버
2 2
제 1항에 있어서, 상기 캔틸레버 지지대는 제 1 실리콘층 및 상기 제 1 실리콘층 상부의 제 1 절연막을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버
3 3
제 2항에 있어서, 상기 제 1 절연막 상에 도파관과 전극 패드 역할을 하는 메탈 라인이 형성되는 것을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버
4 4
제 3항에 있어서, 상기 메탈은 금임을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버
5 5
제 1항에 있어서, 상기 캔틸레버 아암은 실리콘 질화막으로 구성됨을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버
6 6
고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법에 있어서, 제 1 실리콘층, 제 1 절연막 및 제 2 실리콘층이 순차적으로 적층된 실리콘-온-절연체 기판의 제 2 실리콘층 상부에 팁을 형성하는 단계; 상기 팁에 제 3 절연막을 적층하여 팁 주변의 제 2 실리콘층을 제거하는 단계; 상기 팁을 포함하는 제 1 절연막 상부에 캔틸레버 마스크 패턴을 형성하는 단계; 상기 캔틸레버 마스크 패턴을 마스크로 하여 제 1 절연막 상부에 채널 마스크 패턴을 형성하는 단계; 상기 채널 마스크 패턴으로 마스킹 하여 불순물을 주입하고 열처리하는 단계; 상기 팁과 불순물이 주입된 영역들을 포함하는 형상을 갖는 제 1 절연막 상부에 메탈 라인을 형성하는 단계; 및 상기 형성된 메탈 라인을 갖는 제 1 절연막과 제 1 실리콘층을 포함하여 캔틸레버를 형성하는 단계 를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
7 7
제 6항에 있어서, 상기 제 2 실리콘층 상부에 팁을 형성하는 단계는 제 1 실리콘층, 제 1 절연막 및 제 2 실리콘층이 순차적으로 적층된 실리콘-온-절연체 기판 상하부에 제 2 절연막을 적층하는 단계; 상기 제 2 절연막 상에 포토레지스트막을 적층한 후 팁이 형성될 영역을 제외하고 건식 식각한 후 포토레지스트막을 제거하는 단계; 상기 제 2 실리콘층을 건식 식각하는 단계; 및 건식 식각된 제 2 실리콘층 상부에 위치하는 제 2 절연막을 습식 식각하는 단계 를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
8 8
제 6항에 있어서, 상기 팁 주변의 제 2 실리콘층을 제거하는 단계는 습식 열 산화 방법 또는 플라즈마 식각을 사용하는 것을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
9 9
제 8항에 있어서, 상기 습식 열 산화 방법은 BHF와 초순수를 7:1의 부피 비율로 혼합한 용액을 이용함을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
10 10
제 6항에 있어서, 상기 캔틸레버 마스크 패턴을 형성하는 단계는 상기 팁과 제 1 절연막 상부에 제 4 절연막, 제 5 절연막, 폴리 실리콘층 및 포토레지스트막을 순차적으로 적층하는 단계; 사진 식각공정을 수행하여 상기 포토레지스트막을 제거하여 제 1 마스크 패턴을 상기 폴리 실리콘층 상부에 형성하는 단계; 및 상기 제 1 마스크 패턴으로 마스킹하여 폴리 실리콘층에서 제 5 절연막까지 식각하여 제 1 절연막 상부에 제 2 마스크 패턴을 형성하는 단계 를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
11 11
제 10항에 있어서, 상기 제 4 절연막과 제 5 절연막은 상호 이종 물질로 이루어지며, 각각 실리콘 질화막과 TEOS 산화막 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
12 12
제 6항에 있어서, 상기 불순물을 주입하는 단계는 제 1 절연막에 P형 불순물이 도핑되어 있으면 N형 불순물을 주입하고, 제 1 절연막에 N형 불순물이 도핑되어 있으면 P형 불순물을 주입하는 것을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
13 13
삭제
14 14
제 6항에 있어서, 상기 메탈 라인을 형성하는 단계는 불순물이 주입된 팁을 포함하는 제 1 절연막의 상부에 실리콘 질화막과 실리콘 산화막을 증착하는 단계; 사진 식각과 습식 식각을 통해 실리콘 산화막은 제거하고 팁 영역의 실리콘 질화막은 제거하는 단계; 실리콘 질화막과 팁을 포함하는 제 1 절연막 상부에 포토레지스트막과 메탈을 증착하는 단계; 및 리프트 오프를 통해 포토레지스트막을 제거하는 단계 를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
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제 14항에 있어서, 상기 메탈을 증착하는 단계는 금을 사용하는 것을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
16 16
제 6항에 있어서, 상기 캔틸레버를 형성하는 단계의 제 1 실리콘층은 건식 식각하는 것을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
17 16
제 6항에 있어서, 상기 캔틸레버를 형성하는 단계의 제 1 실리콘층은 건식 식각하는 것을 특징으로 하는 고주파 소자 검사용 기능성 원자간력 현미경 캔틸레버 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.