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나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015146652
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법에 관한 것으로, 내부에 전도성 금속이 채워진 비아홀 그룹들을 제 1 웨이퍼를 관통하여 일정간격으로 형성하는 단계와; 상기 제 1 웨이퍼의 비아홀 그룹들 각각의 사이에 위치하는 영역에 탐침을 갖는 캔틸레버를 형성하여 어레이시키고, 상기 각각의 캔틸레버를 구동시키는 신호선을 상기 비아홀 그룹들의 전도성 금속과 전기적으로 연결하는 단계와; 상기 각각의 캔틸레버들을 구동시키기 위한 CMOS 회로부들을 제 2 웨이퍼에 형성하는 단계와; 상기 제 2 웨이퍼의 CMOS 회로부들의 신호선과 상기 비아홀 그룹들의 전도성 금속이 전기적으로 연결되도록, 상기 제 2 웨이퍼 상부에 상기 제 1 웨이퍼를 본딩 또는 언더필(Underfill)하는 단계를 포함하여 구성된다. 따라서, 본 발명은 CMOS 회로가 집적화된 기판과 병렬프로브 어레이가 형성된 기판을 전기적으로 접착시켜, 종래 기술보다 제한된 면적에 많은 개수의 프로브를 형성할 수 있는 효과가 있다. 더불어, 많은 개수의 프로브가 어레이되어, 나노리소그래피의 시간 효율 및 생산성 향상에 크게 기여할 수 있는 효과가 있다. 또한, 각각의 캔틸레버의 변위센서와 압전 엑츄에이터를 각각 구동할 수 있는 CMOS 회로부가 인터커넥션 되어 있으므로, 각각의 프로브(탐침)를 독립적으로 구동 및 제어 할 수 있는 효과가 있다. 병렬프로브, 비아홀, CMOS
Int. CL H01L 21/66 (2011.01)
CPC G01R 3/00(2013.01) G01R 3/00(2013.01)
출원번호/일자 1020030037078 (2003.06.10)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0493203-0000 (2005.05.25)
공개번호/일자 10-2004-0105922 (2004.12.17) 문서열기
공고번호/일자 (20050602) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.06.10)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 성우경 대한민국 경기도성남시분당구
2 김원효 대한민국 경기도평택시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조담 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.06.10 수리 (Accepted) 1-1-2003-0206054-26
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
3 등록결정서
Decision to grant
2005.05.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0233052-84
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
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번호 청구항
1 1
내부에 전도성 금속이 채워진 비아홀 그룹들을 제 1 웨이퍼를 관통하여 일정간격으로 형성하는 단계와; 상기 제 1 웨이퍼의 비아홀 그룹들 각각의 사이에 위치하는 영역에 탐침을 갖는 캔틸레버를 형성하여 어레이시키고, 상기 각각의 캔틸레버를 구동시키는 신호선을 상기 비아홀 그룹들의 전도성 금속과 전기적으로 연결하는 단계와; 상기 각각의 캔틸레버들을 구동시키기 위한 CMOS 회로부들을 제 2 웨이퍼에 형성하는 단계와; 상기 제 2 웨이퍼의 CMOS 회로부들의 신호선과 상기 비아홀 그룹들의 전도성 금속이 전기적으로 연결되도록, 상기 제 2 웨이퍼 상부에 상기 제 1 웨이퍼를 본딩 또는 언더필(Underfill)하는 단계를 포함하여 구성된 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 웨이퍼의 각각의 캔틸레버에는, 압전 엑츄에이터와 이 압전 엑츄에이터와 이격된 변위센서가 더 형성된 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 제 1 웨이퍼는, 상부에 실리콘 산화막, 제 1 실리콘 질화막, 희생층과 제 2 실리콘 질화막이 순차적으로 적층된 실리콘 웨이퍼인 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 캔틸레버에는, 상기 비아홀 그룹들의 사이 각각의 상기 제 2 실리콘 질화막 영역에 압전 엑츄에이터와 상기 압전 엑츄에이터와 이격된 변위센서가 더 형성되어 있으며, 상기 캔틸레버를 형성하는 것은, 상기 탐침, 변위센서와 압전 엑츄에이터를 포함하는 영역의 하부에 있는 희생층을 식각하여, 상기 제 2 실리콘 질화막을 부상시켜 캔틸레버를 형성하는 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
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제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 희생층은, 폴리실리콘, 실리콘 산화막과 PSG(Phosphosilicate glass) 중 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
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제 2 항에 있어서, 상기 제 1 웨이퍼는, 제 1 실리콘층, 실리콘 산화막과 제 2 실리콘층이 순차적으로 적층된 SOI(Silicon On Insulator) 웨이퍼인 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 캔틸레버에는, 상기 비아홀 그룹들의 사이 각각의 상기 제 2 실리콘층 영역에 압전 엑츄에이터와 상기 압전 엑츄에이터와 이격된 변위센서가 더 형성되어 있으며, 상기 캔틸레버를 형성하는 것은, 상기 탐침, 변위센서와 압전 엑츄에이터를 포함하는 영역의 하부에 있는 실리콘 산화막을 식각하여, 상기 제 2 실리콘층을 부상시켜 캔틸레버를 형성하는 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 CMOS 회로부에는, 리소그래피를 수행하기 위하여 상기 탐침에 전류를 주입하는 전류구동부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
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제 2 항에 있어서, 상기 CMOS 회로부에는, 리소그래피를 수행하기 위하여 상기 탐침에 전류를 주입하는 전류구동부와; 상기 캔틸레버의 변위센서로부터 캔틸레버의 위치를 감지하는 센싱부와; 상기 센싱부의 감지신호를 증폭하는 센서증폭기와; 상기 센서증폭기에서 증폭된 신호를 피드백시켜 주기 위해 처리하는 신호처리부와; 상기 신호처리부에서 처리된 신호로 캔틸레버의 압전 엑츄에이터를 구동시키는 엑츄에이터 구동부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 탐침에는, 탄소 나노튜브(CNT)가 더 증착되어 있는 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
11 10
제 1 항에 있어서, 상기 탐침에는, 탄소 나노튜브(CNT)가 더 증착되어 있는 것을 특징으로 하는 나노 리소그래피용 병렬 프로브 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.