맞춤기술찾기

이전대상기술

스캐너 및 이를 이용한 구멍 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015148624
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 스캐너 및 이를 이용한 구멍 측정 방법을 개시한다. 개시된 스캐너는 대상물체로 제 1 슬릿광을 조사하는 제 1 광조사장치를 포함한다. 제 1 슬릿광의 평면과 직교하는 평면으로 제 2 슬릿광을 조사하는 제 2 광조사장치가 제 1 조사수단과 직교하는 방향으로 배치된다. 서로 직교하는 제 1 및 제 2 슬릿광이 조사된 대상물체를 촬영장치가 촬영하여, 대상물체의 이미지를 획득한다. 이러한 구조의 스캐너를 이용해서, 구멍을 갖는 대상물체로 서로 직교하는 평면을 갖는 제 1 및 제 2 슬릿광을 조사한다. 그런 다음, 제 1 및 제 2 슬릿광이 조사된 대상물체를 촬영하여 이미지를 획득한다. 이어서, 획득한 제 1 및 제 2 슬릿광의 이미지로부터 구멍이 포함된 평면에 대한 정보와 영상처리를 통해 구한 구멍의 중심좌표로부터 구멍 중심의 3차원 절대 좌표를 측정한다.
Int. CL G01B 11/00 (2006.01)
CPC G01B 11/14(2013.01) G01B 11/14(2013.01) G01B 11/14(2013.01) G01B 11/14(2013.01)
출원번호/일자 1020020063221 (2002.10.16)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2004-0033929 (2004.04.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.06.13)
심사청구항수 4

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 백문홍 대한민국 경기도수원시팔달구
2 백승호 대한민국 충청남도천안시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 정세성 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로 ****, ***호 특허법인이노 제*분사무소 (서초동, 보성빌딩)
2 최이욱 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, 허바허바빌딩 ***호 **세기 특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2002-0339750-36
2 복대리인선임신고서
Report on Appointment of Sub-agent
2003.04.02 수리 (Accepted) 1-1-2003-5064170-66
3 출원심사청구서
Request for Examination
2003.06.13 수리 (Accepted) 1-1-2003-5113576-27
4 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2003.06.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2003-0212303-97
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2004-5053909-24
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.02.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.03.17 수리 (Accepted) 9-1-2005-0018199-50
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0149212-99
9 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.05.31 수리 (Accepted) 1-1-2005-0289743-13
10 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2005-0355736-86
11 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2005-0419679-50
12 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.08.30 수리 (Accepted) 1-1-2005-0484227-40
13 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.09.30 수리 (Accepted) 1-1-2005-0554683-11
14 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.10.28 수리 (Accepted) 1-1-2005-0618514-04
15 의견서
Written Opinion
2005.11.25 수리 (Accepted) 1-1-2005-0684215-38
16 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.11.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0684230-13
17 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2006.01.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0028014-30
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.02.09 수리 (Accepted) 4-1-2007-5022520-66
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.10.20 수리 (Accepted) 4-1-2008-5164358-96
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.11.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5178457-80
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.01.20 수리 (Accepted) 4-1-2009-5013686-94
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.30 수리 (Accepted) 4-1-2010-5161401-06
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.02 수리 (Accepted) 4-1-2012-5068733-13
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090658-47
25 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2013-5017806-08
26 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5006834-98
27 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

대상물체로 제 1 슬릿광을 조사하는 제 1 광조사장치;

상기 제 1 슬릿광의 평면과 직교하는 평면으로 제 2 슬릿광을 조사하는 제 2 광조사장치; 및

상기 서로 직교하는 제 1 및 제 2 슬릿광이 조사된 대상물체를 촬영하는 촬영장치를 포함하는 스캐너

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 제 1 광조사장치가 배치되는 제 1 베이스와, 상기 제 1 베이스에 90°각도로 연결되어 상기 제 2 광조사장치가 배치되는 제 2 베이스로 이루어진 프레임을 더 포함하고,

상기 프레임의 제 1 및 제 2 베이스가 연결되는 부분에 상기 촬영장치가 배치된 것을 특징으로 하는 스캐너

3 3

제 2 항에 있어서, 상기 프레임을 덮는 케이스를 더 포함하고,

상기 케이스는 상기 제 1 광조사장치로부터의 제 1 슬릿광이 통과하는 제 1 슬릿; 상기 제 2 광조사장치로부터의 제 2 슬릿광이 통과하는 제 2 슬릿; 및 상기 제 1 및 제 2 슬릿광이 조사된 대상물체가 투과하는 투과창을 갖는 것을 특징으로 하는 스캐너

4 4

제 3 항에 있어서, 상기 제 1 광조사장치는

상기 제 1 베이스상에 설치된 제 1 받침대;

상기 제 1 받침대상에 수평하게 배치되고, 수평 슬릿을 갖는 제 1 광조사기; 및

상기 제 1 광조사기의 수평 슬릿을 통해 발한 상기 제 1 슬릿광을 상기 케이스의 제 1 슬릿을 통해 대상물체로 조사되도록 반사시키는 제 1 반사경을 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너

5 5

제 4 항에 있어서, 상기 제 1 반사경에 의한 제 1 슬릿광의 반사각은 45°인 것을 특징으로 하는 스캐너

6 6

제 3 항에 있어서, 상기 제 2 광조사장치는

상기 제 2 베이스상에 설치된 제 2 받침대;

상기 제 2 받침대상에 상기 제 1 광조사장치로부터의 제 1 슬릿광 조사방향과 직교하는 방향으로 제 2 슬릿광을 조사하는 방향으로 수평하게 배치되고, 수직 슬릿을 갖는 제 2 광조사기; 및

상기 제 2 광조사기의 수직 슬릿을 통해 발한 제 2 슬릿광을 상기 케이스의 제 2 슬릿을 통해 대상물체로 조사되도록 반사시키는 제 2 반사경을 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너

7 7

제 6 항에 있어서, 상기 제 2 반사경에 의한 제 2 슬릿광의 반사각은 45°인 것을 특징으로 하는 스캐너

8 8

제 3 항에 있어서, 상기 촬영장치는

상기 제 1 및 제 2 베이스가 연결되는 부분에 수평하게 배치된 카메라; 및

상기 투과창을 통해 투영된 대상물체를 상기 카메라로 반사하는 제 3 반사경을 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너

9 9

제 1 항에 있어서, 상기 대상물체를 조명하는 조명장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스캐너

10 10

구멍을 갖는 대상물체로 서로 직교하는 평면을 갖는 제 1 및 제 2 슬릿광을 조사하는 단계;

상기 제 1 및 제 2 슬릿광이 조사된 대상물체를 촬영하여 대상물체의 이미지를 획득하는 단계;

상기 획득한 이미지로부터 제 1 및 제 2 슬릿광의 교차점에 관한 3차원 좌표값을 측정하는 단계; 및

상기 각 슬릿광 교차점의 3차원 좌표값으로부터 상기 구멍 중심의 3차원 절대 좌표를 측정하는 단계를 포함하는 구멍 측정 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.