맞춤기술찾기

이전대상기술

루테늄 박막 형성 방법

  • 기술번호 : KST2015160338
  • 담당센터 :
  • 전화번호 :
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체 배선용 전극으로 사용되는 루테늄 박막을 전해 도금으로 형성하는 방법에 대하여 개시한다. 본 발명의 루테늄 박막 형성 방법은: 반도체 기판을 마련하는 단계와, 활성화 용액에 기판을 침지시켜서 기판 표면에 활성화 물질을 증착하여 기판을 활성화하는 단계, 활성화된 기판을 루테늄 전해 도금 용액에 침지시키고 환원 전위를 인가하여 활성화된 기판 표면에 루테늄을 전해 도금하는 루테늄 증착 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 활성화된 기판은 전해 도금법에 의한 보다 균일하게 루테늄이 증착되도록 유도함으로써, 누설 전류가 감소 및 항복 전압이 증가, 즉 전기적 특성이 좋아지게 되는 효과를 나타낸다. 또한, 간단한 공정으로 보다 얇은 단차 패턴의 고품질 루테늄 박막을 형성할 수 있어서, 유전 물질을 쉽게 채워 넣을 수 있는 디램 커패시터의 하부 전극을 형성할 수 있기 때문에 반도체 산업에 지대한 영향을 끼칠 수 있다. 루테늄 박막, 전해도금, 하부 전극, 활성화 물질, 팔라듐
Int. CL H01L 21/20 (2006.01)
CPC H01L 28/65(2013.01) H01L 28/65(2013.01) H01L 28/65(2013.01)
출원번호/일자 1020020031577 (2002.06.05)
출원인 재단법인서울대학교산학협력재단
등록번호/일자 10-0475402-0000 (2005.02.25)
공개번호/일자 10-2003-0093737 (2003.12.11) 문서열기
공고번호/일자 (20050310) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2002.06.05)
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김재정 대한민국 서울특별시 서초구
2 권오중 대한민국 서울특별시관악구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 허진석 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로***, **,**층(역삼동, 동희빌딩)(특허법인아주김장리)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 케이알이 주식회사 경기도 수원시 영통구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.06.05 수리 (Accepted) 1-1-2002-0176951-83
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2004.02.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2004.03.12 수리 (Accepted) 9-1-2004-0014210-48
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.05.11 수리 (Accepted) 4-1-2004-0020333-35
5 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2004.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2004-5090982-12
6 보정통지서
Request for Amendment
2004.06.26 발송취소 (Cancellation of dispatch) 1-5-2004-0042577-18
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2004.10.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0426176-73
8 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
2004.10.18 수리 (Accepted) 1-1-2004-5163247-62
9 의견서
Written Opinion
2004.12.09 수리 (Accepted) 1-1-2004-0580064-90
10 등록결정서
Decision to grant
2005.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0020328-40
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2008-5015497-73
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 기판을 마련하는 단계와; 활성화 용액에 상기 기판을 침지시켜서 상기 기판 표면에 활성화 물질을 증착하여 기판을 활성화하는 단계와; 상기 활성화된 기판을 루테늄 전해 도금 용액에 침지시키고, 환원 전위를 인가하여 상기 활성화된 기판 표면에 루테늄을 전해 도금하는 루테늄 증착 단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 루테늄 박막 형성 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 반도체 기판을 마련하는 단계에서, 상기 반도체 기판은 TiN, TaN, WN, 또는 TiSiN으로 확산 방지막을 형성하는 것을 특징으로 하는 루테늄 박막 형성 방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 기판을 활성화하는 단계에서, 상기 활성화 물질은 팔라듐, 주석-팔라듐 또는 은인 것을 특징으로 하는 루테늄 박막 형성 방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 활성화 용액은 상기 활성화 물질로서 팔라듐을 이용하며, 염화 팔라듐 0
5 5
제 1항에 있어서, 상기 루테늄 전해 도금액은 루테늄 이온을 포함하며, 상기 루테늄 이온의 농도는 1g/L∼10g/L 범위에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 루테늄 박막 형성 방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 루테늄 전해 도금의 환원 전위는 표준 감홍 전극을 기준으로 하여 -1V∼-1
7 7
제 1항에 있어서, 상기 루테늄 전해 도금액의 온도는 10℃∼70℃인 것을 특징으로 하는 루테늄 박막 형성 방법
8 8
제 1항에 있어서, 상기 루테늄 전해 도금은 상기 루테늄 전해 도금액을 교반하면서 실시하는 것을 특징으로 하는 루테늄 박막 형성 방법
9 8
제 1항에 있어서, 상기 루테늄 전해 도금은 상기 루테늄 전해 도금액을 교반하면서 실시하는 것을 특징으로 하는 루테늄 박막 형성 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.