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도파관의 어느 한쪽 끝단 또는 양쪽 끝단에 전자기파의 집속을 위한 안테나가 결합된 구조물을 이용하여,상기 안테나에 의하여 집속된 전자기파를 상기 도파관 내부, 또는 상기 도파관의 전자기파 출사 쪽 끝단의 시료에 통과시키고, 상기 시료를 통과한 전자기파를 검출하여 분광을 분석하되,상기 도파관 내부나 외부에 가열 수단 또는 냉각 수단을 설치하고, 상기 시료를 가열 또는 냉각하면서 상기 전자기파를 통과시키는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 도파관의 단면은 원형, 타원형, 또는 다각형 형태를 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 안테나의 단면은 원형, 타원형, 다각형, 또는 코일 형태를 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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제1항에 있어서,상기 시료는 고체, 액체, 기체, 입자, 또는 가스 형태를 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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삭제
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제1항에 있어서,상기 도파관의 전자기파 출사 쪽 끝단에 시료를 설치하는 경우에, 상기 시료 또는 상기 도파관의 2차원 이동을 이용하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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7
제1항에 있어서,상기 도파관의 중간에 공극을 형성하고 상기 공극에 삽입된 시료에 상기 전자기파를 통과시키는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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8
제1항에 있어서,제1 구조물인 상기 구조물과다른 도파관의 어느 한쪽 끝단 또는 양쪽 끝단에 전자기파의 집속을 위한 안테나가 결합된 제2 구조물을 이용하여,상기 제1 구조물과 상기 제2 구조물 사이에 시료를 설치하고 상기 제1 구조물, 상기 시료, 및 상기 제2 구조물을 차례로 관통하도록 상기 전자기파를 통과시키는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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제7항 또는 제8항에 있어서,상기 시료 또는 상기 도파관의 2차원 이동을 이용하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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제1항에 있어서,제1 구조물인 상기 구조물과다른 도파관의 어느 한쪽 끝단 또는 양쪽 끝단에 전자기파의 집속을 위한 안테나가 결합된 제2 구조물을 이용하여,상기 제1 구조물 또는 상기 제2 구조물의 도파관 내부에 시료를 설치하고 상기 제1 구조물 및 상기 제2 구조물을 차례로 관통하도록 상기 전자기파를 통과시키는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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11
제1항에 있어서,상기 도파관의 전자기파 출사 쪽 끝단에 탐침봉을 설치하여, 상기 탐침봉을 따라 진행한 전자기파를 이용하여 상기 분석이 이루어지는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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제11항에 있어서,상기 시료 또는 상기 탐침봉의 2차원 이동을 이용하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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제1항에 있어서, 상기 도파관 내부에 공진기, 격자, 또는 광결정 구조물을 설치하여, 상기 전자기파의 신호의 증폭, 감쇠, 또는 주파수 변환이 이루어지도록 하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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제1항에 있어서, 상기 도파관 내부에 시료를 채울 수 있도록 일정 공간이 형성된 공진기 구조물을 설치하고, 상기 전자기파에 의하여 상기 공진기 구조물 내부의 시료의 유전율 변화에 따른 공진 특성 변화를 분석하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 방법
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도파관; 및 상기 도파관의 어느 한쪽 끝단 또는 양쪽 끝단에 전자기파의 집속을 위하여 결합된 안테나가 포함된 구조물을 포함하고,상기 안테나에 의하여 집속된 전자기파를 상기 도파관 내부, 또는 상기 도파관의 전자기파 출사 쪽 끝단의 시료에 통과시키고, 상기 시료를 통과한 전자기파를 상기 도파관의 전자기파 출사 쪽 끝단에 설치된 검출기를 이용해 검출하여 분광을 분석하기 위한 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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삭제
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제15항에 있어서,상기 도파관의 전자기파 출사 쪽 끝단에 시료를 설치하는 경우에, 상기 시료 또는 상기 도파관의 2차원 이동을 이용하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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제15항에 있어서,상기 도파관의 중간에 공극을 형성하고 상기 공극에 삽입된 시료에 상기 전자기파를 통과시키는 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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제15항에 있어서,제1 구조물인 상기 구조물 이외에, 다른 도파관의 어느 한쪽 끝단 또는 양쪽 끝단에 전자기파의 집속을 위한 안테나가 결합된 제2 구조물을 더 포함하고,상기 제1 구조물과 상기 제2 구조물 사이에 시료를 설치하고, 상기 제1 구조물, 상기 시료 및 상기 제2 구조물을 차례로 관통한 전자기파를 검출하여 분광을 분석하기 위한 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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제18항 또는 제19항에 있어서,상기 시료 또는 상기 도파관의 2차원 이동을 이용하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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제15항에 있어서,제1 구조물인 상기 구조물 이외에, 다른 도파관의 어느 한쪽 끝단 또는 양쪽 끝단에 전자기파의 집속을 위한 안테나가 결합된 제2 구조물을 더 포함하고,상기 제1 구조물 또는 상기 제2 구조물의 도파관 내부에 시료를 설치하고 상기 제1 구조물 및 상기 제2 구조물을 차례로 관통하도록 상기 전자기파를 통과시키는 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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22
제15항에 있어서,상기 도파관의 전자기파 출사 쪽 끝단에 탐침봉을 설치하여, 상기 탐침봉을 따라 진행한 전자기파를 이용하여 상기 분석이 이루어지는 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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제22항에 있어서,상기 시료 또는 상기 탐침봉의 2차원 이동을 이용하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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제15항에 있어서, 상기 도파관 내부에 설치된 공진기, 격자, 또는 광결정 구조물을 더 포함하고,상기 공진기, 격자, 또는 광결정 구조물에 의한 상기 전자기파의 신호의 증폭, 감쇠, 또는 주파수 변환이 이루어지도록 하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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25
제15항에 있어서, 상기 도파관 내부에 설치된, 시료를 채울 수 있도록 일정 공간을 갖는 공진기 구조물을 더 포함하고,상기 전자기파에 의하여 상기 공진기 구조물 내부의 시료의 유전율 변화에 따른 공진 특성 변화를 분석하는 것을 특징으로 하는 분광 분석 장치
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