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질화갈륨 후막 제조장치를 이용하여, 하나의 용기에 Ⅲ-족 원소와 p형 도펀트를 담는 단계와; 상기 용기를 통과하는 가스 주입관을 통해 불활성 가스를 주입하는 단계와;다른 가스 주입관으로 V-족 원소를 포함하는 기체를 투입하여 모기판 상부에 P형 반도체를 성장시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용한 p형 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 모기판은 사파이어 기판, SiC 기판, Si 기판, GaAs 기판 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용한 p형 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 Ⅲ-족 원소는 Ga, In, Al 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용한 p형 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 p형 도펀트는 Mg, Zn, Cd, Be 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용한 p형 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 V-족 원소를 포함하는 기체는 NH3 또는 N2H4인 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용한 p형 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 불활성 가스는 N2, H2, 아르곤 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용한 p형 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 모기판의 온도는 350℃ 이상으로 유지되는 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용한 p형 반도체의 제조방법
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제 1 항의 방법을 이용하여 제조된 p형 반도체는 Ⅲ-V족 반도체인 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용하여 제조된 p형 반도체
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제 8 항에 있어서,상기 Ⅲ-V족 반도체는 그 구조가 박막, 나노로드, 나노튜브 또는 포러스 재료 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용하여 제조된 p형 반도체
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제 1 항 또는 제 3 항의 방법을 이용하여 제조된 p형 반도체는 p형 질화갈륨 반도체인 것을 특징으로 하는 HVPE법을 이용하여 제조된 p형 반도체
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