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절대 변위 센서를 이용한 광학식 원자현미경

  • 기술번호 : KST2015174910
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 실시예는 광학식 원자 현미경으로서, 샘플을 수평 방향으로 이동시키는 XY축 나노 스캐너, 상기 샘플의 표면을 켄틸레버로 스캐닝하는 Z축 나노 스캐너 헤드부, 상기 Z축 나노 스캐너 헤드부의 상대 변위를 측정하는 광센서, 상기 Z축 나노 스캐너를 지지하는 프레임 및 상기 Z축 나노 스캐너의 일측에 마련된 나노 스캐너 헤드부의 절대 변위를 측정하는 절대 변위 센서를 포함하고, 상기 Z축 나노 스캐너 헤드부의 변위 측정은 측정하고자 하는 샘플 표면 형상이 가지는 높이에 따라 상기 광센서 또는 상기 절대 변위 센서로 수행된다. 따라서, 원자현미경의 광센서 외에 추가적으로 스트레인 게이지 센서를 이용하여 Z축 나노스캐너의 절대 변위를 측정함으로써, 기존의 컨트롤 제어 출력값을 이용하여 형상 정보를 얻는 경우에 발생되는 Z축 나노 스캐너의 비선형성으로 인한 측정 에러를 제거하여, 보다 정확한 형상 정보를 얻을 수 있다.
Int. CL G01Q 60/24 (2010.01) G02B 21/00 (2006.01)
CPC G02B 21/362(2013.01) G02B 21/362(2013.01) G02B 21/362(2013.01) G02B 21/362(2013.01)
출원번호/일자 1020140031363 (2014.03.18)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자 10-1566178-0000 (2015.10.30)
공개번호/일자 10-2015-0108513 (2015.09.30) 문서열기
공고번호/일자 (20151105) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.03.18)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박기환 대한민국 광주광역시 북구
2 정지성 대한민국 광주광역시 북구
3 조준현 대한민국 광주광역시 북구
4 윤여민 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김기문 대한민국 서울시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동 현죽빌딩)(한미르특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.03.18 수리 (Accepted) 1-1-2014-0257306-02
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.03.21 수리 (Accepted) 1-1-2014-0273935-75
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.10.02 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.11.12 수리 (Accepted) 9-1-2014-0088701-67
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.03.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0208480-71
6 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.05.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-0486705-55
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.05.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0508855-01
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.05.27 수리 (Accepted) 1-1-2015-0508854-55
9 등록결정서
Decision to grant
2015.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0746556-16
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번호 청구항
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Z축 나노 스캐너의 움직임에 따른 광센서의 피드백으로 제어기에서 샘플 표면 형상에 대한 제1 위상 신호를 검출하는 단계;상기 제1 위상 신호가 기설정된 값보다 작은지를 판별하는 단계;상기 제1 위상 신호의 값에 따라, 광센서에 연결된 제1 스위치와 스트레인 게이지 센서에 연결된 제2 스위치 중 어느 하나를 온시키는 단계; 및온상태로 제어된 스위치로 들어오는 위상 신호를 샘플 형상의 최종 위상 신호로 판별하고, 이에 대한 최종 형상 이미지를 도출하는 단계;를 포함하는 광학식 원자 현미경의 동작 방법
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제 7항에 있어서,상기 제1 위상 신호가 기설정된 값보다 작으면, 상기 광센서에 연결된 제1 스위치는 온되고 상기 제2 스위치는 오프되며, 상기 스트레인 게이지 센서에 연결된 전원은 오프되는 광학식 원자 현미경의 동작 방법
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제 8항에 있어서,상기 Z축 나노 스캐너의 움직임에 따른 광센서의 피드백에 따라 제어기에서 출력된 샘플 표면 형상에 대한 제1 위상 신호가 최종 위상 신호로 선택되어 상기 샘플에 대한 최종 형상 이미지가 도출되는 광학식 원자 현미경의 동작 방법
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제 7항에 있어서,상기 제1 위상 신호가 기설정된 값보다 크면, 상기 광센서에 연결된 제1 스위치는 오프되고 상기 제1 스위치는 온되며, 상기 스트레인 게이지 센서에 연결된 전원은 온되는 광학식 원자 현미경의 동작 방법
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제 10항에 있어서,상기 스트레인 게이지 센서가 온됨에 따라, 상기 Z축 나노 스캐너의 움직임에 따른 절대 변위에 대한 제2 위상 신호가 최종 위상 신호로 선택되어 상기 샘플에 대한 최종 형상 이미지가 도출되는 광학식 원자 현미경의 동작 방법
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원자 현미경에 구비되며 Z축 방향의 샘플의 형상 이미지를 얻기 위한 Z축 나노 스캐너에 스트레인 게이지 센서를 부착하는 방법으로서, 상기 Z축 나노 스캐너의 일측에 Z축 나노 스캐너의 구동축과 평행하도록 액티브 게이지 센서를 부착하는 단계; 및상기 액티브 게이지 센서의 연장 방향과 직교하도록 더미 게이지 센서를 부착하는 단계;를 포함하고,상기 액티브 게이지 센서와 더미 게이지 센서는 상기 Z축 나노 스캐너와 같은 높이에 위치하도록 부착되는 스트레인 게이지 센서 부착 방법
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1 미래부 광주과학기술원 중견연구자지원사업(도약) 회전 운동체의 진동측정을 위한 영상기반 추종 3D 레이저 스캐닝 바이브로미터 기술개발