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선형 초점 타원계측기

  • 기술번호 : KST2015179474
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 타원계측기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 원통형 광학계를 사용하여 빛을 시편에 선형으로 초점을 맺은 후 반사된 빛의 편광상태의 변화를 측정하는 선형 초점 타원계측기에 관한 것이다. 이를 위해 본 발명은 광원으로부터 발생된 빛을 편광된 빛으로 분할하는 광분할부; 상기 광분할부로부터 분할된 빛을 시편에 집중 조사시키는 광집중부; 및 상기 시편으로부터 반사된 후, 상기 광집중부 및 상기 광분할부를 통과한 빛을 검출하는 광검출부를 포함하되, 상기 광집중부는 상기 분할된 빛을 상기 시편에 선형으로 집중 조사시키는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기를 제공한다. 상기 선형 초점 타원계측기는 광분할부에서 분할된 빛을 다수의 시편에 선형으로 초점을 맺은 후에 반사된 빛을 다중 입사각에 대하여 편광상태 변화를 측정함으로써, 다수의 시편을 동시에 측정할 수 있는 효과가 있다 타원계측기, 편광 발생장치, 선형 초점, 광분할기
Int. CL G01B 11/06 (2006.01) G01B 11/00 (2006.01) G02B 27/00 (2006.01)
CPC G01N 21/211(2013.01) G01N 21/211(2013.01)
출원번호/일자 1020070116334 (2007.11.14)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2009-0049951 (2009.05.19) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 포기
심사진행상태 포기
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.11.14)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조용재 대한민국 대전시 유성구
2 제갈원 대한민국 대전시 유성구
3 조현모 대한민국 대전시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김종관 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
2 박창희 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
3 권오식 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.11.14 포기 (Abandonment) 1-1-2007-0818262-08
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.08.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.09.11 수리 (Accepted) 9-1-2008-0059334-37
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.01.12 수리 (Accepted) 1-1-2009-0016559-32
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.03.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0128298-16
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2009.05.25 수리 (Accepted) 1-1-2009-0313443-89
7 [특허 등 절차 포기]취하(포기)서
[Abandonment of Procedure such as Patent, etc.] Request for Withdrawal (Abandonment)
2009.06.25 수리 (Accepted) 1-1-2009-0385377-84
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
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번호 청구항
1 1
광원으로부터 발생된 빛을 편광된 빛으로 분할하는 광분할부; 상기 광분할부로부터 분할된 빛을 시편에 집중 조사시키는 광집중부; 및 상기 시편으로부터 반사된 후, 상기 광집중부 및 상기 광분할부를 통과한 빛을 검출하는 광검출부를 포함하되, 상기 광집중부는 상기 분할된 빛을 상기 시편에 선형으로 집중 조사시키는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
2 2
광원으로부터 발생된 빛을 편광시키는 편광부; 상기 편광부로부터 편광된 빛을 분할하는 광분할부; 상기 광분할부로부터 분할된 빛을 시편에 집중 조사시키는 광집중부; 상기 시편으로부터 반사된 후, 상기 광집중부 및 상기 광분할부를 통과한 빛에서 특정한 편광 상태를 검출하는 편광검출부; 및 상기 편광검출부를 통과한 빛을 검출하는 광검출부를 포함하되, 상기 광집중부는 상기 분할된 빛을 상기 시편에 선형으로 집중 조사시키는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 선형 초점 타원계측기는 상기 광분할부로부터 분할된 빛 중 일부만 통과시키기 위한 어퍼쳐를 더 포함하고, 상기 어퍼쳐는 상기 광분할부와 상기 광집중부 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
4 4
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 광집중부는 빛을 상기 시편에 선형으로 집중시키기 위한 원통형 광학계를 포함하는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 원통형 광학계는 반원통형 렌즈, 반원통형 거울, 곡면 거울 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 광분할부는 편광용 광분할기 또는 비평광용 광분할기로 구성되고, 상기 광분할부가 상기 비평광용 광분할기로 구성되는 경우에 상기 선형 초점 타원계측기는 상기 광분할부와 상기 광집중부 사이에 선형 편광자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
7 7
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 광원은 백색광원 또는 단색광원인 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 광원으로 백색광원을 사용하는 경우에, 상기 선형 초점 타원계측기는 특정 파장 범위의 빛을 통과시키는 대역 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
9 9
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 선형 초점 타원계측기는 상기 광분할부와 상기 광집중부 사이에, 상기 광분할부에 분할된 빛의 편광상태에 따라 상기 빛의 위상을 바꾸는 보상부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
10 10
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 광검출부는 다수의 단위소자(pixel)로 구성된 2차원 영상측정 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 선형 초점 타원계측기
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 TW200925567 TW 대만 FAMILY
2 WO2009064081 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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1 TW200925567 TW 대만 DOCDBFAMILY
2 WO2009064081 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부/지식경제부 한국표준과학연구원/한국표준과학연구원 나노메카트로닉스 기술개발사업/나노바이오 특정제어 기술개발사업 나노공정용 소재의 물성측정 및 손상기술개발/SPRE융합 고감도 바이오표면 분석장비 기술개발