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나노 물질용 열전 물성 측정 장치, 열전 물성 측정 방법 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015179890
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 나노 물질의 열전 특성을 용이하게 측정할 수 있는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치를 제공한다. 본 발명의 일실시예에 따른 나노 물질용 열전 특성 측정 장치는, 기판; 기판 상에 위치하고, 측정 대상 나노 물질에 직류 전류를 인가하는 직류 전류 인가 전극; 기판 상에 위치하고, 측정 대상 나노 물질에 온도 구배를 제공하도록 가열하는 히터; 기판 상에 위치하고, 측정 대상 나노 물질에 인가된 직류 전류에 의하여 형성되는 전압을 측정하고, 측정 대상 나노 물질의 온도 구배를 측정하는 측정 전극; 및 직류 전류 인가 전극, 히터, 및 측정 전극과 각각 전기적으로 연결된 마이크로 단자;를 포함한다.
Int. CL G01N 27/02 (2006.01) G01N 25/00 (2006.01)
CPC G01N 27/14(2013.01) G01N 27/14(2013.01) G01N 27/14(2013.01) G01N 27/14(2013.01)
출원번호/일자 1020120071779 (2012.07.02)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0006289 (2014.01.16) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.07.02)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송재용 대한민국 대전 유성구
2 신호선 대한민국 대전 유성구
3 이우 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김남식 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
2 한윤호 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **(삼성동) 명지빌딩, *층(선정국제특허법률사무소)
3 양기혁 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **(삼성동) 명지빌딩, *층(선정국제특허법률사무소)
4 이인행 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.07.02 수리 (Accepted) 1-1-2012-0527688-58
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.06.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.07.09 수리 (Accepted) 9-1-2013-0054102-53
4 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2013.08.01 수리 (Accepted) 1-1-2013-0698654-17
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0741533-36
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2013-1193995-38
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-0090066-11
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-0200299-45
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.03.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-0303650-17
11 지정기간연장관련안내서
Notification for Extension of Designated Period
2014.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0054085-38
12 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.05.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0314224-74
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판;상기 기판 상에 위치하고, 측정 대상 나노 물질에 직류 전류를 인가하는 직류 전류 인가 전극;상기 기판 상에 위치하고, 상기 측정 대상 나노 물질에 온도 구배를 제공하도록 가열하는 히터;상기 기판 상에 위치하고, 상기 측정 대상 나노 물질에 인가된 상기 직류 전류에 의하여 형성되는 전압을 측정하고, 상기 측정 대상 나노 물질의 상기 온도 구배를 측정하는 측정 전극; 및상기 직류 전류 인가 전극, 상기 히터, 및 상기 측정 전극과 각각 전기적으로 연결된 마이크로 단자;를 포함하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 전류 인가 전극은 상기 히터와 상기 측정 전극 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 측정 전극은 상기 전류 인가 전극과 상기 히터 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 측정 전극은 양 단부에 분지들을 가지는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 직류 전류 인가 전극과 상기 측정 전극은 제1 방향으로 연장되고, 상기 히터는 상기 제1 방향과는 수직인 방향에 위치하는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 히터는 하나로 구성되거나 또는 서로 대향하는 복수 개로 구성된 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 직류 전류 인가 전극, 상기 히터, 및 상기 측정 전극은 동일한 높이를 가지는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
8 8
제 1 항에 있어서,상기 직류 전류 인가 전극, 상기 히터, 및 상기 측정 전극 중 적어도 어느 하나는 백금 또는 백금 합금을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
9 9
제 1 항에 있어서,상기 기판은,상기 직류 전류 인가 전극, 상기 히터, 및 상기 측정 전극이 위치하는 제1 영역; 및상기 마이크로 단자가 위치하는 제2 영역;을 포함하고,상기 제1 영역의 열용량이 상기 제2 영역의 열용량에 비하여 작게되도록, 상기 제1 영역은 상기 제2 영역에 비하여 작은 두께를 가지는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
10 10
제 9 항에 있어서,상기 제1 영역은 상기 제2 영역에 의하여 둘러싸이는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
11 11
제 9 항에 있어서, 상기 제1 영역은 절연층을 포함하고,상기 제2 영역은 상기 절연층과 상기 절연층의 하측에 위치한 반도체층을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
12 12
제 1 항에 있어서,상기 마이크로 단자는,상기 나노 구조체에 전력을 전달하여 열을 발생시키는 히터용 마이크로 단자; 및상기 나노 구조체와 신호를 송수신하는 신호 송수신용 마이크로 단자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
13 13
기판;상기 기판 상에 위치하고, 측정 대상 나노 물질의 일부 영역을 가열하여 상기 측정 대상 나노 물질의 열전 특성을 측정하는 나노 구조체; 상기 기판 상에 위치하고 상기 나노 구조체와 전기적으로 연결된 마이크로 단자;를 포함하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치
14 14
측정 대상 나노 물질에 직류 전류 인가 전극을 통하여 직류 전류를 인가하는 단계;상기 측정 대상 나노 물질에 인가된 상기 직류 전류에 의하여 형성되는 전압을 측정 전극을 통하여 측정하는 단계;상기 측정 대상 나노 물질을 히터를 이용하여 가열하여 상기 측정 대상 나노 물질에 온도 구배를 형성하는 단계; 및상기 측정 대상 나노 물질에 형성된 온도 구배에 의하여 발생하는 열기전력을 상기 측정 전극을 통하여 측정하는 단계;를 포함하는 나노 물질용 열전 특성 측정 방법
15 15
제1 영역과 제2 영역을 포함하고, 지지층과 절연층이 순차적으로 형성된 기판을 제공하는 단계;상기 기판의 제 2 영역 상에 마이크로 단자를 형성하는 단계;상기 기판의 상기 제1 영역 상에 직류 전류 인가 전극, 측정 전극, 및 히터를 형성하는 단계; 및상기 기판의 제1 영역의 지지층을 제거하여 개구부를 형성하는 단계;를 포함하는 나노 물질용 열전 특성 측정 장치의 제조 방법
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 한국표준과학연구원 국가연구개발사업 반도체 공정기반 수직정렬 나노선 열 전소자 원천기술개발