맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

음이온 검출용 조성물 및 이를 이용한 음이온 검출 방법

  • 기술번호 : KST2015182884
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 음이온 검출용 조성물, 이의 제조 방법 및 이를 이용한 음이온의 검출 방법 및 음이온 검출용 센서에 관한 것이다. 본 발명의 음이온 검출용 조성물은 특정 음이온에 대해 높은 선택성을 가지고 있어, 다른 음이온의 존재 시에도 특정 음이온에 대해서만 선택적으로 검출할 수 있고, 특정 음이온에 대해 높은 민감성을 가지고 있어, 매우 작은 양의 음이온도 검출할 수 있다. 또한, 본 발명의 음이온 검출 방법은 반응 온도 및 반응 매체의 속성 등 검출 조건에 대한 제약이 없어, 시료에 특정 음이온이 존재하는지 여부를 육안으로 간단하게 확인할 수 있다.
Int. CL G01N 31/22 (2006.01) C07F 1/12 (2006.01) C09K 11/70 (2006.01)
CPC G01N 31/22(2013.01) G01N 31/22(2013.01) G01N 31/22(2013.01) G01N 31/22(2013.01)
출원번호/일자 1020100114655 (2010.11.17)
출원인 중앙대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1212014-0000 (2012.12.07)
공개번호/일자 10-2012-0053405 (2012.05.25) 문서열기
공고번호/일자 (20121213) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.11.17)
심사청구항수 25

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 중앙대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동작구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한민수 대한민국 서울특별시 동작구
2 김미희 대한민국 서울특별시 강서구
3 김수덕 대한민국 서울특별시 강서구
4 서성혁 대한민국 서울특별시 강서구
5 김승경 대한민국 서울특별시 은평구
6 엄민식 대한민국 경기도 양주시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 중앙대학교 산학협력단 서울특별시 동작구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.11.17 수리 (Accepted) 1-1-2010-0752428-47
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.07.20 수리 (Accepted) 4-1-2011-5148883-62
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.07.20 수리 (Accepted) 4-1-2011-5148879-89
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2012.02.24 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2012.03.21 수리 (Accepted) 9-1-2012-0022222-05
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.06.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0319558-00
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.08.01 수리 (Accepted) 1-1-2012-0615038-99
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.08.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0615039-34
9 등록결정서
Decision to grant		 2012.10.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0596516-67
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000494-54
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.10.20 수리 (Accepted) 4-1-2014-5123944-33
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.07.04 수리 (Accepted) 4-1-2018-5125629-51
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.07.29 수리 (Accepted) 4-1-2019-5151122-15
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.01 수리 (Accepted) 4-1-2019-5153932-16
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
음이온 수용체; 및 아데노신 트리포스페이트(ATP)로 표면 개질된 금 나노입자를 함유하는 발색체를 포함하는 음이온 검출용 조성물
2 2
제 1 항에 있어서, 음이온은 시안화 이온(CN-), 피로인산 이온(P2O74-) 및 인산 이온(HPO42-)으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 음이온 검출용 조성물
3 3
제 1 항에 있어서, 음이온 수용체는 구리 이온(Cu2+) 및 철 이온(Fe2+)으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 금속 이온과 페난트롤린((Phenanthroline)의 복합체인 음이온 검출용 조성물
4 4
제 1 항에 있어서, 금 나노입자는 그 평균 직경이 5 nm 내지 50 nm인 음이온 검출용 조성물
5 5
제 1 항에 있어서,음이온 수용체 및 발색체는,물, THF가 희석되어 있는 물 및 DMF가 희석되어 있는 물로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 용매에 용해되어 있는 음이온 검출용 조성물
6 6
제 5 항에 있어서, 음이온 수용체 및 발색체는 각각 102 nM 내지 105 nM 및 1 nM 내지 20 nM의 몰 농도로 용해되어 있는 음이온 검출용 조성물
7 7
음이온 수용체; 및 아데노신 트리포스페이트(ATP)로 표면 개질된 금 나노입자를 함유하는 발색체를 혼합하는 단계를 포함하는 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
8 8
제 7 항에 있어서, 음이온은 시안화 이온(CN-), 피로인산 이온(P2O74-) 및 인산 이온(HPO42-)으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
9 9
제 7 항에 있어서, 음이온 수용체는 구리 이온(Cu2+) 및 철 이온(Fe2+)으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 금속 이온 용액과 페난트롤린 (Phenanthroline)용액을 혼합하여 제조되는 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
10 10
제 9 항에 있어서, 금속 이온 용액의 몰 농도는 102 nM 내지 105 nM 인 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
11 11
제 9 항에 있어서, 페난트롤린 용액의 몰 농도는 102 nM 내지 105 nM 인 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
12 12
제 9 항에 있어서, 금속 이온 용액 및 페난트롤린 용액은 1 : 0
13 13
제 7 항에 있어서, 아데노신 트리포스페이트(ATP)로 표면 개질된 금 나노입자를 함유하는 발색체는 금 나노입자 용액과 아데노신 트리포스페이트(ATP) 용액을 혼합하여 제조되는 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
14 14
제 13 항에 있어서, 금 나노입자 용액은 금염 및 환원제를 혼합하여 제조되는 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
15 15
제 14 항에 있어서, 금염은 염화금산칼륨(KAuCl4), 염화금산나트륨 수화물(NaAuCl4·2H2O), 사염화금산 수화물(HAuCl4·3H2O), 염화금(III)(AuCl3) 및 브롬화금(III)(AuBr3)으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
16 16
제 14 항에 있어서, 금 나노입자는 그 평균 직경이 5 nm 내지 50 nm인 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
17 17
제 14 항에 있어서, 환원제는 시트르산인 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
18 18
제 13 항에 있어서, 금 나노입자 용액의 몰 농도는 1 nM 내지 20 nM 인 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
19 19
제 13 항에 있어서, 아데노신 트리포스페이트 용액의 몰 농도는 102 nM 내지 105 nM인 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
20 20
제 13 항에 있어서, 금 나노입자 용액 및 아데노신 트리포스페이트 용액은 1 : 10 내지 1 : 105의 몰수비로 혼합되는 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
21 21
제 7 항에 있어서, 음이온 수용체; 및 아데노신 트리포스페이트로 표면 개질된 금 나노입자를 함유하는 발색체는 10 : 1 내지 50000 : 1의 몰수비로 혼합되는 음이온 검출용 조성물의 제조 방법
22 22
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 따른 음이온 검출용 조성물과 시료를 혼합하고, 색 변화를 관찰하는 단계를 포함하는 음이온의 검출 방법
23 23
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 따른 음이온 검출용 조성물과 시료를 혼합하고, 자외선/가시광선 스펙트럼을 측정하는 단계를 포함하는 음이온의 검출 방법
24 24
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 따른 음이온 검출용 조성물을 포함하는 음이온 검출용 센서
25 25
제 24 항에 있어서, 자외선/가시광선 스펙트럼을 측정하는 장치를 추가로 포함하는 음이온 검출용 센서
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 중앙대학교 산학협력단 학술연구조성사업 단분자 감지체 및 분자이미징 기반연구