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온 칩 온도 센서 회로의 온도 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015185049
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 온 칩 온도 센서 회로의 온도 측정 방법을 개시한다. 개시된 본 발명의 온 칩 온도 센서 회로의 온도 측정 방법은, 칩 내부의 현재 온도에 상응하는 칩 전류가 온도 측정 기본 영역내의 전류값인지 판단하는 단계, 상기 판단 결과에 따라 상기 칩 전류를, 온도에 따라 비례하는 기 설정된 비례 전류와 온도에 따라 반비례하는 기 설정된 상보 전류의 관계가 되도록 유효 전류원을 선택하는 단계 및 상기 선택된 유효 전류원에 따라 가변되는 상기 칩 전류와 상기 비례 전류를 비교하는 단계를 포함한다. 온도, PN 접합, 전류
Int. CL G10K 7/00 (2006.01)
CPC G01K 7/00(2013.01)
출원번호/일자 1020080073533 (2008.07.28)
출원인 충북대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1056183-0000 (2011.08.04)
공개번호/일자 10-2010-0012240 (2010.02.08) 문서열기
공고번호/일자 (20110811) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.07.28)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 충북대학교 산학협력단 대한민국 충청북도 청주시 서원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 양병도 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구
2 윤진국 대한민국 경상북도 예천군
3 김장수 대한민국 충청북도 영동군
4 이용규 대한민국 충청북도 청주시 상당구
5 이지수 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김성남 대한민국 서울특별시 송파구 법원로*길 **(문정동) 에이치비즈니스파크 C동 ***호(에스엔케이특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 충북대학교 산학협력단 대한민국 충청북도 청주시 서원구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.07.28 수리 (Accepted) 1-1-2008-0541955-45
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.07.30 수리 (Accepted) 1-1-2008-0549172-99
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.02.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.03.17 수리 (Accepted) 9-1-2010-0016061-85
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0330969-96
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.09.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0622811-61
7 심사처리지연에대한안내문
Notification of Delay of Processing of Examination
2011.01.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0056360-86
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0057801-98
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.03.31 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0234947-50
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.03.31 수리 (Accepted) 1-1-2011-0234945-69
11 등록결정서
Decision to grant
2011.06.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0363233-19
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.28 수리 (Accepted) 4-1-2014-5103343-45
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.06.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5081402-70
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2018-5086612-26
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5149268-82
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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온도 측정 기본 영역을 정의하는 높은 임계치의 제 1 기준 온도 및 낮은 임계치의 제 2 기준 온도를 설정하는 단계; 칩 내부의 현재 온도에 상응하는 칩 전류가 상기 온도 측정 기본 영역내의 전류값인지 판단하는 단계; 상기 판단 결과에 따라 상기 칩 전류를, 온도에 따라 비례하는 기 설정된 비례 전류와 온도에 따라 반비례하는 기 설정된 상보 전류의 관계가 되도록 유효 전류원을 선택하는 단계; 및 상기 선택된 유효 전류원에 따라 가변되는 상기 칩 전류와 상기 비례 전류를 비교하는 단계를 포함하고, 상기 칩 전류가 상기 기본 영역내의 전류값인지 판단하는 단계는, 상기 칩 전류가 감지된 전류값이 상기 제 1 기준 온도보다 높은 영역에서 감지된 것인지, 상기 제 2 기준 온도보다 낮은 영역에서 감지된 것인지 구분하여 판단하는 단계를 포함하며, 상기 유효 전류원을 선택하는 단계는, 상기 제 1 기준 온도보다 높은 영역에서 상기 칩 전류가 감지되면, 상기 비례 전류를 공급 전류원으로 사용하고, 상기 제 2 기준 온도에서의 상기 상보 전류를 싱크 전류원으로 사용하도록 제어하며, 상기 칩 전류가 감지된 전류값이 상기 제 2기준 온도보다 낮은 영역에서 감지되면, 상기 제 2 기준 온도에서의 상기 상보 전류를 공급 전류원으로 사용하고, 상기 비례 전류를 싱크 전류원으로 사용하도록 제어하는 온 칩 온도 센서 회로의 온도 측정 방법
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제 1항에 있어서, 상기 비교하는 단계는, 상기 칩 전류와 상기 비례 전류의 전류 크기를 비교하고, 상기 비교 결과에 따라, 상기 칩 전류의 전류값을 가변시키는 온 칩 온도 센서 회로의 온도 측정 방법
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제 5항에 있어서, 상기 전류값을 가변시키는 것은, 상기 칩 전류와 상기 비례 전류의 크기를 지정된 횟수만큼 비교하고, 각 비교 단계마다 상기 상보 전류의 전류값을 달리하여 이전 비교의 결과에 따라 이후의 비교시 상기 상보 전류의 전류값의 가감을 조절하는 온 칩 온도 센서 회로의 온도 측정 방법
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제 6항에 있어서, 상기 각 비교 단계의 상기 상보 전류의 전류값에 대응되는 디지털 코드 신호를 출력하는 것을 더 포함하는 온 칩 온도 센서 회로의 온도 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.