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섬유 및 의류산업의 원사 가공 공정 중에 사용되는 얀 패키지의 불량 검출 장치로서, 얀 가공 장치로 공급되는 얀이 보빈에 감겨있는 얀 패키지와, 상기 얀 패키지의 이미지를 획득하기 위한 이미지 획득 시스템과, 상기 이미지 획득 시스템에서 획득한 상기 얀 패키지의 이미지를 4개의 부분이미지로 나누어 분석하여 상기 얀 패키지의 권취 불량을 검출해내는 이미지 분석 시스템을, 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 얀 패키지 불량 검출 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 이미지 획득 시스템은, 렌즈를 포함하는 카메라와, 상기 렌즈를 포함하는 카메라와 일체형 또는 독립형으로 제작되는 직접조명과, 상기 렌즈를 포함하는 카메라 및 상기 직접조명과는 독립되도록 설치되는 하나 또는 복수의 간접조명을, 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 얀 패키지 불량 검출 장치
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제 2 항에 있어서, 상기 이미지 획득 시스템을 구성하는 직접조명이, 상기 렌즈를 포함하는 카메라와 일체형으로 제작되는 것을 특징으로 하는 얀 패키지 불량 검출 장치
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제 2 항에 있어서, 상기 이미지 획득 시스템을 구성하는 직접조명이, 상기 렌즈를 포함하는 카메라와 독립형으로 제작되는 것을 특징으로 하는 얀 패키지 불량 검출 장치
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제 1 항 내지 제4항 중 선택된 어느 한 항에 있어서, 상기 이미지 획득 시스템으로부터 획득한 이미지를 분석하는 시스템은;획득된 이미지의 데카르트 좌표를 (x,y), 분할 후 이미지의 극좌표계를 (X,Y)라고 할 때, 상기 데카르트 좌표를 이미지 극좌표로 변환하는 과정은 다음 식(1)을 이용하며,식 (1)을 통하여 획득된 극좌표계를 다음 식(2)를 이용하여 직사각형 형상으로 변환하고, (단, X', Y'은 변환된 좌표이고, H는 이미지의 세로 크기임)상기 식(2)를 통해 변환된 좌표에서 정상섬유를 배제하기 위해 다음 식 (3) 및 (4)를 적용하여 분석하는 것을 특징으로 하는 얀 패키지 불량 검출 장치
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섬유 및 의류산업의 원사 가공 공정 중에 사용되는 얀 패키지의 불량 검출 방법으로서, 상기 얀 패키지의 불량 검출 방법은, 이미지 획득 시스템에서 획득한 상기 얀 패키지의 이미지를 이미지 분석 시스템에서 분석하는 단계를 포함하며, 상기 이미지 분석 시스템에서의 상기 얀 패키지 이미지 분석 단계는 상기 얀 패키지의 이미지를 4개의 부분 이미지로 나누는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 얀 패키지의 이미지 원본을 상기 4개의 부분 이미지로 나눌 때, 상기 얀 패키지의 이미지 원본 상의 상기 얀 패키지의 회전 중심점을 기준으로 하여 상기 얀 패키지의 상기 이미지 원본을 각기 균등한 각도로 분할하여 상기 4개의 부분 이미지로 나누는 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 얀 패키지의 이미지 원본을 상기 4개의 부분 이미지로 나누는 과정을 거친 후, 상기 4개의 부분 이미지 중 어느 하나를 데카르트 좌표계의 직사각형 또는 정사각형 이미지로 변환하는 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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제 7 항에 있어서, 상기 얀 패키지의 이미지 원본을 상기 4개의 부분 이미지로 나누는 과정을 거친 후, 상기 4개의 부분 이미지 중 어느 하나를 데카르트 좌표계의 직사각형 또는 정사각형 이미지로 변환하는 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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제 8 항 또는 제 9 항에 있어서, 상기 데카르트 좌표계의 직사각형 또는 정사각형 이미지로의 변환 과정을 거친 이미지에, 히스토그램 평활화 또는 이진화 과정을 추가로 거치는 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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제 8 항 또는 제 9 항에 있어서, 상기 데카르트 좌표계의 직사각형 또는 정사각형 이미지로의 변환 과정을 거친 이미지에, 에지 검출 필터를 추가로 적용하고,Skeleton 알고리즘을 적용하여 상기 에지 검출 필터 적용 후의 이미지를 변환하고, 상기 변환된 이미지 중 다른 섬유들의 배향에 대하여 평행하지 않게 배향된 섬유를 불량 권취 섬유로 판정하는 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 평활화 또는 이진화 과정을 거친 이미지에, 에지 검출 필터를 추가로 적용하고, 상기 에지 검출 필터 적용 후의 이미지 상에 나타난 섬유들 중, 다른 섬유들의 배향에 대하여 평행하지 않게 배향된 섬유를 불량 권취 섬유로 판정하는 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 평활화 또는 이진화 과정을 거친 이미지에, 에지 검출 필터를 추가로 적용하고,상기 추가로 적용되는 에지 검출 필터가 캐니(Canny) 에지 검출 필터 또는 소벨(Sobel) 에지 검출 필터인 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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제 13 항에 있어서, 상기 에지 검출 필터를 적용한 후의 이미지에, Skeleton 알고리즘을 추가로 적용하여 상기 에지 검출 필터가 적용된 이미지를 변환하고, 상기 변환된 이미지 중 다른 섬유들의 배향에 대하여 평행하지 않게 배향된 섬유를 불량 권취 섬유로 판정하는 것을 특징으로 하는 얀 패키지의 불량 검출 방법
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섬유 및 의류산업의 원사 가공 공정 중에 사용되는 얀 패키지의 불량 검출 방법으로서, 얀 가공 장치로 공급되는 얀이 보빈에 감겨있는 얀 패키지와, 상기 얀 패키지의 이미지를 획득하기 위한 이미지 획득 시스템과, 상기 이미지 획득 시스템에서 획득한 상기 얀 패키지의 이미지를 4개의 부분이미지로 나누어 분석하여 상기 얀 패키지의 권취 불량을 검출해내는 이미지 분석 프로세스를 거치되, 상기 이미지 획득 시스템으로부터 획득한 이미지를 분석하는 프로세스는;획득된 이미지의 데카르트 좌표를 (x,y), 분할 후 이미지의 좌표계를 (X,Y)라고 할 때, 상기 데카르트 좌표를 이미지 극좌표로 변환하는 과정은 다음 식(1)을 이용하며,식 (1)을 통하여 획득된 극좌표계를 다음 식(2)를 이용하여 직사각형 형상으로 변환하고, (단, X', Y'은 변환된 좌표이고, H는 이미지의 세로 크기임)상기 식(2)를 통해 변환된 좌표에서 정상섬유를 배제하기 위해 다음 식 (3) 및 (4)를 적용하여 분석하는 것을 특징으로 하는 얀 패키지 불량 검출 방법
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