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SoC 소자의 테스트를 위한 테스트데이터를 압축하는 방법으로서, 인가될 테스트벡터를 Td라 정의하며, 이와 별도로 Tdiff는 아래와 같이 정의하는 단계, Td = {t1, t2, t3, t4, t5 ,
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제1항의 방법에 의해 압축된 테스트데이터의 압축을 해제하기 위한 FSM과 3-bit counter를 포함하는 압축해제 디코더를 이용하여 압축을 해제하는 방법으로서, FSM으로부터 en 신호가 오면 이 신호는 FSM에서 데이터를 수용할 수 있다는 것을 나타내는 신호이므로 Bit_in 으로 비트를 보내는 단계, 이때 들어오는 비트가 '0'일 때에는 3-bit Counter의 0_sign과, Counter_start의 신호를 on시키고, '1'일 경우에는 1_sign과 Counter_start의 신호를 on시켜 주는 단계, 0_sign이 on일 경우에는 2비트를, 1_sign이 on일 경우에는 3비트를 3-bit Counter로 shift를 통해 넣어주는 단계, 3-bit Counter를 동작시켜서, 0_sign일 경우에는, 3-bit Counter의 출력을 C_out에 보내어 주며 해당 C_out을 받게 되면 3-bit counter에 기록되어 있는 '100'을 카운트하고, 해당 카운트가 끝나게 되면 v_2의 신호가 on되며 이 신호가 들어올 때 3-bit Counter는 다시 한 비트의 다운카운트를 하며, 0_sign이 들어왔을 경우 카운터가 모두 종료되고; 1_sign일 경우에는, 3-bit Counter를 동작시키고, 이 과정에서 1_sign의 신호가 들어와 있으므로 카운트가 종료되면 V_1의 신호가 on되는 단계, FSM에서 V_1의 신호가 들어올 경우 out으로 '1' 비트를 출력하는 단계를 포함하는, 시스템온칩 환경하에서 제로검출 런렝스 코드를 이용한 테스트데이터 압축해제방법
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제1항의 방법에 의해 압축된 테스트데이터의 압축을 해제하기 위한 FSM과 3-bit counter를 포함하는 압축해제 디코더를 이용하여 압축을 해제하는 방법으로서, FSM으로부터 en 신호가 오면 이 신호는 FSM에서 데이터를 수용할 수 있다는 것을 나타내는 신호이므로 Bit_in 으로 비트를 보내는 단계, 이때 들어오는 비트가 '0'일 때에는 3-bit Counter의 0_sign과, Counter_start의 신호를 on시키고, '1'일 경우에는 1_sign과 Counter_start의 신호를 on시켜 주는 단계, 0_sign이 on일 경우에는 2비트를, 1_sign이 on일 경우에는 3비트를 3-bit Counter로 shift를 통해 넣어주는 단계, 3-bit Counter를 동작시켜서, 0_sign일 경우에는, 3-bit Counter의 출력을 C_out에 보내어 주며 해당 C_out을 받게 되면 3-bit counter에 기록되어 있는 '100'을 카운트하고, 해당 카운트가 끝나게 되면 v_2의 신호가 on되며 이 신호가 들어올 때 3-bit Counter는 다시 한 비트의 다운카운트를 하며, 0_sign이 들어왔을 경우 카운터가 모두 종료되고; 1_sign일 경우에는, 3-bit Counter를 동작시키고, 이 과정에서 1_sign의 신호가 들어와 있으므로 카운트가 종료되면 V_1의 신호가 on되는 단계, FSM에서 V_1의 신호가 들어올 경우 out으로 '1' 비트를 출력하는 단계를 포함하는, 시스템온칩 환경하에서 제로검출 런렝스 코드를 이용한 테스트데이터 압축해제방법
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