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방사선 검출기의 불균일성 보정 방법

  • 기술번호 : KST2015210384
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 광자계수 기반의 엑스선 검출기로 획득한 영상을 보정하는 방법이 개시된다. 상기 방법은, 매질의 두께를 변화시켜가며 상기 매질을 통과한 후 상기 광자계수 기반의 엑스선 검출기의 각 픽셀에서 검출된 검출 광자 수를 측정하는 단계와; 상기 측정에 근거하여 상기 매질의 각 두께와 상기 각 픽셀에 입사된 광자의 수와의 관계를 분석하는 단계와; 상기 분석된 관계에 따라 상기 각 픽셀의 응답특성을 추정하는 단계와; 임의의 피사체가 촬영된 영상에 상기 추정된 각 픽셀의 응답특성을 적용하여 상기 각 픽셀에서 검출된 검출 광자 수를 보정하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL A61B 6/00 (2006.01) G06T 7/00 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01)
CPC A61B 6/52(2013.01) A61B 6/52(2013.01) A61B 6/52(2013.01) A61B 6/52(2013.01)
출원번호/일자 1020120100174 (2012.09.10)
출원인 연세대학교 원주산학협력단
등록번호/일자 10-1347254-0000 (2013.12.26)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140107) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.09.10)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 원주산학협력단 대한민국 강원도 원주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김희중 대한민국 강원 원주시 늘품로 ***
2 최유나 대한민국 강원 원주시
3 조효민 대한민국 강원 원주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권형중 대한민국 서울특별시 중구 서소문로 ** (서소문동, 정안빌딩 *층)(특허법인 남앤남)
2 김문재 대한민국 서울특별시 중구 서소문로 ** (서소문동, 정안빌딩 *층)(특허법인 남앤남)
3 이종승 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길** 에이동 ***호 (문정동, 현대지식산업센터)(리스비특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 원주산학협력단 강원도 원주시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.09.10 수리 (Accepted) 1-1-2012-0730640-85
2 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status		 2012.12.06 수리 (Accepted) 1-1-2012-1012591-17
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.26 수리 (Accepted) 4-1-2013-0003835-11
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.03 수리 (Accepted) 4-1-2013-5080015-66
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2013.07.29 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2013.08.26 수리 (Accepted) 9-1-2013-0071108-70
7 등록결정서
Decision to grant		 2013.09.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0667273-45
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.05.10 수리 (Accepted) 4-1-2016-5057268-74
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.06.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5098886-10
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2018-5085255-51
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번호 청구항
1 1
광자계수 기반의 엑스선 검출기로 획득한 영상을 보정하는 방법으로서,매질의 두께를 변화시켜가며 상기 매질을 통과한 후 상기 광자계수 기반의 엑스선 검출기의 각 픽셀에서 검출된 검출 광자 수를 측정하는 단계;상기 측정에 근거하여 상기 매질의 각 두께와 상기 각 픽셀에 입사된 광자의 수와의 관계를 분석하는 단계;상기 분석된 관계에 따라 상기 각 픽셀의 응답특성을 추정하는 단계; 및임의의 피사체가 촬영된 영상에 상기 추정된 각 픽셀의 응답특성을 적용하여 상기 각 픽셀에서 검출된 검출 광자 수를 보정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 추정한 각 픽셀의 응답특성은 이며, 상기 는 상기 매질의 두께이고, 상기 와 는 (i,j) 픽셀의 응답 특성 계수이고, 상기 는 검출 광자 수인 것을 특징으로 하는 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 매질은 알루미늄(aluminum)인 것을 특징으로 하는 방법
4 4
제1항에 있어서,상기 광자계수 기반의 엑스선 검출기는 카드뮴 텔루라이드(CdTe) 검출기인 것을 특징으로 하는 방법
5 5
제1항에 있어서,상기 검출 광자 수를 보정하는 단계는,상기 추정된 각 픽셀의 응답특성을 기반으로 상기 각 픽셀별로 상기 피사체에 대응되는 등가 매질 두께를 결정하는 단계;상기 등가 매질 두께에 대응되는 이상적인 상기 각 픽셀 별 검출 광자 수를 기반으로 상기 각 픽셀 별 검출 광자 수를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 이상적인 상기 각 픽셀 별 검출 광자 수는 몬테칼로 시뮬레이션(Monte Carlo Simulation)을 통해 결정되는 것을 특징으로 하는 방법
7 7
광자계수 기반의 엑스선 검출기로부터 획득된 영상을 보정하는 장치로서,매질의 두께를 변화시켜가며 상기 매질을 통과한 후 상기 광자계수 기반의 엑스선 검출기의 각 픽셀에서 검출된 검출 광자 수를 측정하는 검출부;상기 측정된 검출 광자 수에 근거하여 상기 매질의 각 두께와 상기 각 픽셀에 검출된 광자의 수와의 관계를 분석하고, 상기 분석된 관계에 따라 상기 각 픽셀의 응답특성을 추정하는 응답특성 추정부; 및임의의 피사체가 촬영된 영상에 상기 추정된 각 픽셀의 응답특성을 적용하여 상기 각 픽셀에서 검출된 검출 광자 수를 보정하는 영상보정부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상 보정 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 매질은 알루미늄(aluminum)인 것을 특징으로 하는 영상 보정 장치
9 9
제7항에 있어서,상기 광자계수 기반의 엑스선 검출기는 카드뮴 텔루라이드(CdTe) 검출기인 것을 특징으로 하는 영상 보정 장치
10 10
제7항에 있어서,상기 영상보정부는상기 추정된 각 픽셀의 응답특성을 기반으로 상기 각 픽셀별로 상기 피사체에 대응되는 등가 매질 두께를 결정하고,상기 등가 매질 두께에 대응되는 이상적인 상기 각 픽셀 별 검출 광자 수를 기반으로 상기 각 픽셀 별 검출 광자 수를 결정하는 것을 특징으로 하는 영상 보정 장치
11 11
제1항 내지 제6항 중 어느 하나에 따른 방법의 각 단계를 수행하는 명령들을 포함하는 컴퓨터 판독 가능 기록매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.