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마이크로칩 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법(MICROCHIP X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEM AND INSPECTION METHOD USING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2015225724
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 검사방법이 개시된다. 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템은 피검체에 X선을 방사하여 투과영상 데이터를 검출하는 X선 단층영상 촬영장치 및 검출된 투과영상 데이터를 기초로 상기 피검체의 단면영상을 재건하는 제어부를 포함하되, X선 단층영상 촬영장치는, 피검체를 향하여 X선을 방사하는 X선 발생원, 피검체를 상부에 배치하고, X선 발생원과 대향되도록 형성되며, 피검체를 회전시키는 제1 회전부, 피검체를 통과한 X선에 포함된 투과영상 데이터를 검출하는 검출부 및 제1 회전부를 회전시키는 제2 회전부를 포함한다.
Int. CL H05G 1/30 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01)
CPC G01N 23/046(2013.01) G01N 23/046(2013.01) G01N 23/046(2013.01) G01N 23/046(2013.01) G01N 23/046(2013.01) G01N 23/046(2013.01) G01N 23/046(2013.01)
출원번호/일자 1020150059977 (2015.04.28)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0126556 (2015.11.12) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020140053097   |   2014.05.01
법적상태 거절
심사진행상태 취하
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호 1020160182844;
심사청구여부/일자 Y (2015.04.28)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조승룡 대한민국 대전광역시 서구
2 박미란 대한민국 경기도 성남시 분당구
3 조상훈 대한민국 서울시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.04.28 취하 (Withdrawal) 1-1-2015-0415409-03
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.02.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.04.11 수리 (Accepted) 9-1-2016-0016171-16
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.04.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0272244-82
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.05.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0511732-00
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.05.27 수리 (Accepted) 1-1-2016-0511724-34
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0754895-56
8 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2016.11.21 보정각하 (Rejection of amendment) 1-1-2016-1133390-45
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.11.21 수리 (Accepted) 1-1-2016-1133346-46
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0857666-45
11 보정각하결정서
Decision of Rejection for Amendment
2016.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0857664-54
12 [특허 등 절차 취하]취하(포기)서
[Withdrawal of Procedure such as Patent, etc.] Request for Withdrawal (Abandonment)
2016.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2016-1293009-83
13 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2016.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2016-1292960-00
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
피검체에 X선을 방사하여 투과영상 데이터를 검출하는 X선 단층영상 촬영장치; 및상기 검출된 투과영상 데이터를 기초로 상기 피검체의 단면영상을 재건하는 제어부를 포함하되,상기 X선 단층영상 촬영장치는,상기 피검체를 향하여 X선을 방사하는 X선 발생원;상기 피검체를 상부에 배치하고, 상기 X선 발생원과 대향되도록 형성되며, 상기 피검체를 회전시키는 제1 회전부;상기 피검체를 통과한 X선에 포함된 투과영상 데이터를 검출하는 검출부; 및상기 제1 회전부를 회전시키는 제2 회전부를 포함하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
2 2
제 1항에 있어서,상기 X선 발생원 및 상기 검출부는 고정되는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
3 3
제 1항에 있어서,상기 X선 발생원은,상기 제1 회전부가 상기 피검체에 수직인 축과 X축 간의 끼인각으로 회전할 경우, 상기 제1 회전부와 부딪치지 않도록 형성되는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
4 4
제 1항에 있어서,상기 제1 회전부는,상기 피검체가 상부에 배치되어 회전하는 회전판을 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
5 5
제 4항에 있어서,상기 회전판은,상기 피검체에 수직인 축을 기준으로 회전 가능한 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
6 6
제 1항에 있어서,상기 제2 회전부는,상기 제1 회전부를 X축 방향으로 상하이동을 시키는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
7 7
제 1항에 있어서,상기 검출부는,2차원 배열(array) 구조로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
8 8
제 1항에 있어서,상기 제어부는,상기 검출된 투과영상 데이터를 기초로 반복적인 영상처리를 수행하여 상기 피검체의 단층영상을 재건하는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템
9 9
피검체를 제1 회전부의 상부에 배치하는 단계;X선 발생원과 검출부를 연결하는 축이 유지된 상태에서 상기 검출부를 통과된 제1 투과영상의 데이터를 수신하는 단계;제2 회전부를 이용하여 상기 피검체를 기 설정된 각도로 회전시키고, 상기 회전된 상태에서 상기 검출부를 통과된 제2 투과영상의 데이터를 수신하는 단계; 및상기 수신된 제1 및 제2 투과영상의 데이터를 기초로 상기 피검체의 단면영상을 재건하는 단계를 포함하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템을 이용한 검사방법
10 10
제 9항에 있어서,상기 제2 투과영상의 데이터를 수신하는 단계는,상기 제2 회전부를 Y축 기준으로 시계방향 및 반시계방향 중 어느 한 방향으로 적어도 한 번 회전시켜 투과영상을 수신하는 것을 특징으로 하는 마이크로칩 X선 단층촬영 시스템을 이용한 검사방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 KR1020170005781 KR 대한민국 FAMILY

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1 KR20170005781 KR 대한민국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국과학기술원 원자력연구개발사업 용접부 비파괴검사를 위한 방사선 컴퓨터 라미노그라피 기술개발