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정전용량형 변위 게이지 및 이를 이용한 시편의 변형측정방법

  • 기술번호 : KST2016004047
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 정전용량형 변위 게이지 및 이를 이용한 시편의 변형 측정방법에 관한 것으로서, 시편, 특히, MEMS(Micro Electro-Mechanical Systems) 기기 분야에 이용되는 수 마이크로미터 두께의 시편의 변형을 측정함에 있어서, 높은 측정 속도를 가지며, 또한, 그 측정의 선형성이 향상된 정전용량형 변형 게이지를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.이를 위해, 본 발명은, 인가되는 하중에 의한 시편의 변형을 측정하는 정전용량형 변위 게이지를 제공한다. 본 발명에 따른 정전용량형 변위 게이지는, 프레임과; 시편을 지지하도록 상기 프레임에 설치되는 제 1 및 제 2 그립과; 제 1 전극 및 상기 제 1 전극에 대향하는 제 2 및 제 3 전극을 구비하며, 상기 제 1 전극에 대한 상기 제 2 및 제 3 전극의 대향면적 및 이에 따른 정전용량이 상기 시편의 변형에 따라 상대적으로 증감되는 전극유닛을 포함한다.정전용량, 변형, 대향면적, 전극, 접지, 가동, 고정, 그립,
Int. CL G01B 7/16 (2006.01)
CPC G01B 7/24(2013.01) G01B 7/24(2013.01) G01B 7/24(2013.01) G01B 7/24(2013.01)
출원번호/일자 1020060013253 (2006.02.10)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-0776391-0000 (2007.11.07)
공개번호/일자 10-2007-0081357 (2007.08.16) 문서열기
공고번호/일자 (20071116) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.02.10)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이학주 대한민국 대전광역시 유성구
2 김정엽 대한민국 전남 여수시
3 송지호 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이수완 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)(특허법인에이아이피)
2 이성규 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)(특허법인에이아이피)
3 윤종섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)(특허법인에이아이피)
4 조진태 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)(특허법인에이아이피)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.02.10 수리 (Accepted) 1-1-2006-0101149-95
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.12.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.01.15 수리 (Accepted) 9-1-2007-0004338-18
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0118756-67
5 의견서
Written Opinion
2007.04.24 수리 (Accepted) 1-1-2007-0309796-61
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2007.04.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0309794-70
7 등록결정서
Decision to grant
2007.08.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0431406-12
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069914-14
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069919-31
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
프레임과;상기 프레임의 일측에 제공되는 액츄에이터와;상기 액츄에이터의 구동에 의해 직선 이동되는 제 1 그립과 상기 프레임에 고정된 제 2 그립으로 이루어지되, 상기 제 1 및 제 2 그립이 시편의 양단을 지지하는 그립 수단과;상기 액츄에이터의 구동에 의해 상기 제 1 그립과 함께 직선 이동하는 가동 전극체와, 상기 가동 전극체에 대향되도록 상기 프레임에 고정 설치된 고정 전극체가 구비된 전극유닛을 포함하여,상기 제 1 그립 및 상기 가동 전극체가 함께 이동하여 상기 시편이 변형할 때, 상기 가동 전극체와 상기 고정 전극체 사이의 대향면적 및 이에 따른 정전용량이 변화되도록 한 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 가동 전극체는 제 1 전극이고 상기 고정 전극체는 서로 절연된 채 상기 프레임에 고정 설치된 제 2 및 제 3 전극이며, 상기 제 1 전극이 직선 이동할 때, 상기 제 1 전극에 대한 상기 제 2 및 제 3 전극의 대향면적 및 이에 따른 정전용량이 상대적으로 증감되도록 한 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 제 1 그립과 마주하는 제 2 그립 부근에는 상기 시편에 인가되는 하중을 측정하기 위한 로드셀이 마련됨을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지
4 4
청구항 1에 있어서, 상기 고정 전극체는 중공형 프레임의 내측에 고정 설치되어 상기 가동 전극체가 이동되는 공간을 내부 중앙에 형성하는 중공 구조로 이루어진 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 가동 전극체는 시편에 하중을 인가하기 위한 상기 액츄에이터의 선단에 연결되고 상기 가동 전극체 상에 상기 제 1 그립이 일체로 연결된 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지
6 6
청구항 2에 있어서, 상기 제 2 및 상기 제 3 전극은 동일 면적으로 이루어지고, 시편에 대한 변형 측정 초기에, 상기 제 1 전극에 대한 상기 제 2 및 제 3 전극의 대향면적은 서로 같은 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 시편은 마이크로미터 두께의 박막인 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지
8 8
프레임과; 상기 프레임의 일측에 제공되는 액츄에이터와; 상기 액츄에이터의 구동에 의해 직선 이동되는 제 1 그립과 상기 프레임에 고정된 제 2 그립으로 이루어진 그립 수단과; 및 상기 액츄에이터의 구동에 의해 상기 제 1 그립과 함께 직선 이동하는 가동 전극체와, 상기 가동 전극체에 대향되도록 상기 프레임에 고정 설치된 고정 전극체가 구비된 전극유닛을 포함하는 정전용량형 변위 게이지를 이용하여 시편의 변형을 측정하는 방법에 있어서,(a) 상기 제 1 및 제 2 그립으로 시편의 양단을 지지하는 단계와;(b) 상기 액츄에이터를 구동하여 상기 제 1 그립과 상기 가동 전극체를 함께 직선 이동시키는 것에 의해, 상기 가동 전극체와 상기 고정 전극체 사이의 대향면적이 변화되도록 하는 단계와;(c) 상기 대향면적 변화에 따른 정전용량 변화값을 이용하여 상기 시편의 변형을 측정하는 단계를;포함하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지를 이용한 시편의 변형 측정방법
9 9
청구항 8에 있어서,상기 가동 전극체는 제 1 전극이고 상기 고정 전극체는 서로 절연된 채 상기 프레임에 고정 설치된 제 2 및 제 3 전극이되,상기 (a) 단계는, 상기 제 1 전극에 대한 상기 제 2 및 제 3 전극의 대향면적을 같게 세팅한 후, 상기 제 1 전극이 직선 이동할 때, 상기 제 1 전극에 대한 상기 제 2 및 제 3 전극의 대향면적 및 이에 따른 정전용량이 상대적으로 증감되도록 하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지를 이용한 시편의 변형 측정방법
10 10
청구항 8 또는 9에 있어서, 상기 시편은 마이크로미터 두께의 박막인 것을 특징으로 하는 정전용량형 변위 게이지를 이용한 시편의 변형 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.