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다양한 노이즈에 강건한 마이크로파 위상 추정 장치 및 방법(APPARATUS AND METHOD FOR ESTIMATING ROBUST MICROWAVE PHASE TO VARIOUS NOISE)

  • 기술번호 : KST2016015563
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다양한 노이즈에 강건한 마이크로파 위상 추정 장치 및 방법이 개시된다. 위상 추정 방법은 특정 대상에 대해 측정된 마이크로파 신호의 위상값들 중 유효 범위에 속하는 위상값들을 결정하는 단계 및 상기 유효 범위에 속하는 위상값들을 이용하여 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값을 추정하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL A61B 5/05 (2006.01.01)
CPC A61B 5/0507(2013.01)
출원번호/일자 1020150022606 (2015.02.13)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0100087 (2016.08.23) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 손성호 대한민국 대전광역시 유성구
2 김혁제 대한민국 대전광역시 유성구
3 이종문 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구
4 전순익 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.02.13 수리 (Accepted) 1-1-2015-0157193-40
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번호 청구항
1 1
특정 대상에 대해 측정된 마이크로파 신호의 위상값들 중 유효 범위에 속하는 위상값들을 결정하는 단계; 및상기 유효 범위에 속하는 위상값들을 이용하여 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값을 추정하는 단계를 포함하는 위상 추정 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 결정하는 단계는,상기 측정된 마이크로파 신호의 위상값들 각각을 기준으로 미리 설정된 범위 내에 존재하는 상기 측정된 마이크로파 신호의 위상값들의 빈도수를 확인하는 위상 추정 방법
3 3
제2항에 있어서,상기 결정하는 단계는,상기 확인된 빈도수 중 최대 빈도수를 가지는 위상값을 기준으로 상기 미리 설정된 범위 내에 존재하는 상기 측정된 마이크로파 신호의 위상값들을 선택하는 위상 추정 방법
4 4
제2항에 있어서,상기 미리 설정된 범위는,위상 감김을 고려하여 범위가 설정된 위상 추정 방법
5 5
제1항에 있어서,상기 유효 범위에 속하는 위상값들이 서로 연속되도록 펼치는 단계를 더 포함하고,상기 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값을 추정하는 단계는,상기 펼쳐진 유효 범위에 속하는 위상값들을 이용하는 위상 추정 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 펼치는 단계는,상기 유효 범위에 속하는 위상값들 중 펼침이 필요한 위상값과 상기 펼침이 필요한 위상값 인근의 위상값을 이용하는 위상 추정 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 펼치는 단계,상기 펼침이 필요한 위상값과 상기 펼침이 필요한 위상값 인근의 위상값의 차이를 이용하는 위상 추정 방법
8 8
제1항에 있어서,상기 추정하는 단계는,펼쳐진 유효 범위에 속하는 위상값들의 산술평균 및 표준편차를 이용하여 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값을 확인하는 위상 추정 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 추정하는 단계는,상기 산술평균 및 표준편차의 합계와 상기 산술평균 및 표준편차의 차이를 이용하여 확인하는 위상 추정 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 추정하는 단계는,상기 산술평균 및 표준편차의 합계와 상기 산술평균 및 표준편차의 차이의 사이에 존재하는 펼쳐진 유효 범위에 속하는 위상값들의 산술평균을 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값으로 추정하는 위상 추정 방법
11 11
특정 대상에 대해 측정된 마이크로파 신호의 위상값들을 저장하는 데이터베이스; 및상기 특정 대상에 대해 측정된 마이크로파 신호의 위상값들 중 유효 범위에 속하는 위상값들을 결정하고, 상기 유효 범위에 속하는 위상값들을 이용하여 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값을 추정하는 프로세서를 포함하는 위상 추정 장치
12 12
제11항에 있어서,상기 프로세서는,상기 측정된 마이크로파 신호의 위상값들 각각을 기준으로 미리 설정된 범위 내에 존재하는 상기 측정된 마이크로파 신호의 위상값들의 빈도수를 확인하는 위상 추정 장치
13 13
제12항에 있어서,상기 프로세서는,상기 확인된 빈도수 중 최대 빈도수를 가지는 위상값을 기준으로 상기 미리 설정된 범위 내에 존재하는 상기 측정된 마이크로파 신호의 위상값들을 선택하는 위상 추정 장치
14 14
제12항에 있어서,상기 미리 설정된 범위는,위상 감김을 고려하여 범위가 설정된 위상 추정 장치
15 15
제11항에 있어서,상기 프로세서는,상기 유효 범위에 속하는 위상값들이 서로 연속되도록 펼치고, 상기 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값을 추정하기 위하여 상기 펼쳐진 유효 범위에 속하는 위상값들을 이용하는 위상 추정 장치
16 16
제15항에 있어서,상기 프로세서는,상기 유효 범위에 속하는 위상값들 중 펼침이 필요한 위상값과 상기 펼침이 필요한 위상값 인근의 위상값을 이용하는 위상 추정 장치
17 17
제16항에 있어서,상기 프로세서는,상기 펼침이 필요한 위상값과 상기 펼침이 필요한 위상값 인근의 위상값의 차이를 이용하는 위상 추정 장치
18 18
제11항에 있어서,상기 프로세서는,펼쳐진 유효 범위에 속하는 위상값들의 산술평균 및 표준편차를 이용하여 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값을 확인하는 위상 추정 장치
19 19
제18항에 있어서,상기 프로세서는,상기 산술평균 및 표준편차의 합계와 상기 산술평균 및 표준편차의 차이를 이용하여 확인하는 위상 추정 장치
20 20
제19항에 있어서,상기 프로세서는,상기 산술평균 및 표준편차의 합계와 상기 산술평균 및 표준편차의 차이의 사이에 존재하는 펼쳐진 유효 범위에 속하는 위상값들의 산술평균을 특정 대상의 이미지 생성을 위해 필요한 위상값으로 추정하는 위상 추정 방법
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1 미래창조과학부 한국전자통신연구원 정보통신방송기술개발사업(인프라원천) 전자파 이용 조기진단 고정밀 MT 시스템 개발