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두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치 및 이를 이용한 방법(APPARATUS OF OBTAING LOCATION COORDINATE OF OBJECT USING TWO MEASUREMENT HEADS AND METHOD USING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2017005735
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 두 개의 측정헤드를 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치 및 이를 이용한 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치는 각각 측정 물체에 상응하는 신호를 검출(detection)하는 두 개의 측정헤드들; 상기 두 개의 측정헤드들이 상기 측정 물체를 사이에 두고 서로 마주보도록 위치시키는 측정헤드 고정부; 상기 측정헤드 고정부를 회전시키는 회전 구조체; 및 상기 측정헤드들이 검출한 두 개의 검출신호들의 강도를 기반으로 상기 측정 물체에 상응하는 위치 좌표를 획득하는 측위부 를 포함한다.
Int. CL G21K 5/00 (2006.01.01) A61B 6/03 (2006.01.01) A61B 5/055 (2006.01.01)
CPC G21K 5/00(2013.01) G21K 5/00(2013.01) G21K 5/00(2013.01)
출원번호/일자 1020160025560 (2016.03.03)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0029367 (2017.03.15) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020150126519   |   2015.09.07
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.12.03)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍효봉 대한민국 대전광역시 유성구
2 최승민 대한민국 대전광역시 유성구
3 김창범 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.03.03 수리 (Accepted) 1-1-2016-0207010-56
2 [심사청구]심사청구서·우선심사신청서
2020.12.03 수리 (Accepted) 1-1-2020-1308151-27
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번호 청구항
1 1
각각 측정 물체에 상응하는 신호를 검출(detection)하는 두 개의 측정헤드들; 상기 두 개의 측정헤드들이 상기 측정 물체를 사이에 두고 서로 마주보도록 위치시키는 측정헤드 고정부;상기 측정헤드 고정부를 회전시키는 회전 구조체; 및상기 측정헤드들이 검출한 두 개의 검출신호들의 강도를 기반으로 상기 측정 물체에 상응하는 위치 좌표를 획득하는 측위부를 포함하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치
2 2
청구항 1에 있어서,상기 측위부는상기 회전으로 생성되는 원을 기반으로 상기 측정 물체의 극좌표에 상응하는 반지름을 산출하고, 상기 극좌표에 상응하는 반지름과 상기 측정헤드 고정부가 회전한 각도를 기반으로 상기 극좌표를 데카르트 좌표로 변환하여 상기 위치 좌표를 획득하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치
3 3
청구항 2에 있어서,상기 측위부는상기 측정 물체와 상기 측정헤드들 중 제1 측정헤드 사이의 길이에 상응하는 제1 거리와 상기 측정 물체와 상기 측정헤드들 중 제2 측정헤드 사이의 길이에 상응하는 제2 거리를 각각 산출하고, 상기 제1 거리 및 제2 거리 중 길이가 더 긴 거리에서 상기 원의 반지름을 빼서 상기 극좌표에 상응하는 반지름을 산출하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치
4 4
청구항 3에 있어서,상기 측위부는상기 제1 측정헤드에서 검출한 제1 검출신호의 강도, 상기 제2 측정헤드에서 검출한 제2 검출신호의 강도 및 상기 신호의 종류에 따른 비례상수 중 적어도 하나를 이용하여 상기 제1 거리와 상기 제2 거리를 산출하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치
5 5
청구항 2에 있어서,상기 측위부는상기 측정헤드들이 시계반대방향으로 180도에 상응하게 회전하면서 검출한 상기 검출신호들에 상응하게 상기 위치 좌표를 획득하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치
6 6
청구항 1에 있어서,상기 두 개의 측정헤드들은비선형 마그네틱 파티클을 검출하기 위해 고주파의 정현파 신호와 저주파의 정현파 신호를 혼합한 혼합 신호를 기반으로 자기장을 발생시키는 하나의 여기(excitation) 솔레노이드 코일을 포함하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치
7 7
청구항 6에 있어서,상기 자기장은상기 고주파의 정현파 신호에 상응하게 발생하는 제1 자기장과 상기 저주파의 정현파 신호에 상응하게 발생하는 제2 자기장을 합한 것에 상응하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치
8 8
청구항 6에 있어서,상기 혼합 신호는두 개의 신호를 더하여 혼합하는 컴바이너(combiner)로 상기 고주파의 정현파 신호와 상기 저주파의 정현파 신호를 혼합하여 생성되는 되는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 장치
9 9
측정헤드 고정부를 통해 각각 측정 물체에 상응하는 신호를 검출(detection)하는 두 개의 측정헤드들이 상기 측정 물체를 사이에 두고 서로 마주보도록 고정하는 단계;상기 측정헤드 고정부를 회전시키는 단계; 및상기 측정헤드들이 검출한 두 개의 검출신호들의 강도를 기반으로 상기 측정 물체에 상응하는 위치 좌표를 획득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 방법
10 10
청구항 9에 있어서,상기 위치 좌표를 획득하는 단계는상기 회전으로 생성되는 원을 기반으로 상기 측정 물체의 극좌표에 상응하는 반지름을 산출하는 단계; 및 상기 극좌표에 상응하는 반지름과 상기 측정헤드 고정부가 회전한 각도를 기반으로 극좌표를 데카르트 좌표로 변환하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 방법
11 11
청구항 10에 있어서,상기 반지름을 산출하는 단계는상기 측정 물체와 상기 측정헤드들 중 제1 측정헤드 사이의 길이에 상응하는 제1 거리와 상기 측정 물체와 상기 측정헤드들 중 제2 측정헤드 사이의 길이에 상응하는 제2 거리를 각각 산출하고, 상기 제1 거리 및 제2 거리 중 길이가 더 긴 거리에서 상기 원의 반지름에서 빼서 상기 극좌표에 상응하는 반지름을 산출하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 방법
12 12
청구항 11에 있어서,상기 반지름을 산출하는 단계는상기 제1 측정헤드에서 검출한 제1 검출신호의 강도, 상기 제2 측정헤드에서 검출한 제2 검출신호의 강도 및 상기 신호의 종류에 따른 비례상수 중 적어도 하나를 이용하여 상기 제1 거리와 상기 제2 거리를 산출하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 방법
13 13
청구항 10에 있어서,상기 위치 좌표를 획득하는 단계는상기 측정헤드들이 시계반대방향으로 180도에 상응하게 회전하면서 검출한 상기 검출신호들에 상응하게 상기 위치 좌표를 획득하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 방법
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청구항 9에 있어서,상기 두 개의 측정헤드들은비선형 마그네틱 파티클을 검출하기 위해 고주파의 정현파 신호와 저주파의 정현파 신호를 혼합한 혼합 신호를 기반으로 자기장을 발생시키는 하나의 여기(excitation) 솔레노이드 코일을 포함하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 방법
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청구항 14에 있어서,상기 자기장은상기 고주파의 정현파 신호에 상응하게 발생하는 제1 자기장과 상기 저주파의 정현파 신호에 상응하게 발생하는 제2 자기장을 합한 것에 상응하는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 방법
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청구항 14에 있어서,상기 혼합 신호는두 개의 신호를 더하여 혼합하는 컴바이너(combiner)로 상기 고주파의 정현파 신호와 상기 저주파의 정현파 신호를 혼합하여 생성되는 것을 특징으로 하는 두 개의 측정헤드들을 이용한 측정 물체의 위치 좌표 획득 방법
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1 미래창조과학부 한국전자통신연구원 정보통신방송기술개발사업(ETRI지원사업) 차세대 의료영상 이미징 시스템 개발