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그래핀 비파괴 검사방법(Nondestructive inspecting method for graphene)

  • 기술번호 : KST2017015558
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 그래핀 손상없이 그래핀 합성과정에서 실시간으로 검사가 가능하고 대면적 그래핀 검사가 가능하여 효율적인 검사를 수행할 수 있는 그래핀 비파괴 검사방법이 제안된다. 본 발명에 따른 그래핀 비파괴 검사방법은 표면에 그래핀이 합성된 금속기판에 광을 조사하는 단계 및 광에 의해 금속기판이 산화된 영역을 추출하는 단계를 포함한다.
Int. CL G01N 21/88 (2006.01.01) G01Q 60/10 (2010.01.01) G03H 1/24 (2006.01.01)
CPC G01N 21/8806(2013.01) G01N 21/8806(2013.01) G01N 21/8806(2013.01) G01N 21/8806(2013.01)
출원번호/일자 1020160039029 (2016.03.31)
출원인 한국전자기술연구원
등록번호/일자 10-2170863-0000 (2020.10.22)
공개번호/일자 10-2017-0112242 (2017.10.12) 문서열기
공고번호/일자 (20201028) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.03.22)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김형근 대한민국 경기도 용인시 수지구
2 유세현 대한민국 경기도 부천시 소사구
3 김예경 대한민국 경기도 광명시 도
4 김예나 대한민국 경기도 안양시 동안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.03.31 수리 (Accepted) 1-1-2016-0310227-40
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2019.03.22 수리 (Accepted) 1-1-2019-0299917-34
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2020.04.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0252568-28
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
 2020.06.08 수리 (Accepted) 1-1-2020-0588374-67
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2020.06.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0588455-67
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
7 등록결정서
Decision to grant		 2020.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0719547-45
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번호 청구항
1 1
표면에 그래핀이 합성된 금속기판에, 상기 합성된 그래핀의 도메인 경계 또는 상기 합성된 그래핀의 결함에 대응하는 영역에 광의 조사에 의한 전기적 특성변화가 가능한 특성변화물질을 위치시키는 단계; 및 상기 그래핀이 합성된 금속기판에 광을 조사하는 단계;를 포함하는 그래핀 제조방법으로서, 상기 특성변화물질은 광의 조사에 의해 환원되는 물질인 것을 특징으로 하는 그래핀 제조방법
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 금속기판은 Ni, Co, Fe, Pt, Au, Al, Cr, Cu, Mg, Mn, Mo, Rh, Si, Ta, Ti, W, U, V, Zr, 황동, 청동 및 백동으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상의 금속 또는 이들의 합금을 포함하는 것을 특징으로 하는 그래핀 제조방법
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 광은 IPL(Intensed Pulsed Light, 백색단파장) 광 또는 레이저광인 것을 특징으로 하는 그래핀 제조방법
4 4
청구항 1에 있어서, 상기 광은 0
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
삭제
9 9
삭제
10 10
삭제
11 11
삭제
12 12
청구항 1에 따른 그래핀 제조방법에 따라 제조된 그래핀
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1 WO2017171195 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2017171195 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 전자부품연구원 에너지수요관리핵심기술개발(에특) 희토류 영구자석 사용률 20% 이상 저감을 위한 고효율 신구조 모터 기술개발
2 미래창조과학부 전자부품연구원 나노·소재기술개발 품질 평가 라이브러리 구축을 위한 CVD 그래핀 제조 및 전처리 장비 개발